- Tổng quan
- Nội dung
- Tiêu chuẩn liên quan
- Lược đồ
- Tải về
Tiêu chuẩn Quốc gia TCVN 5878:2007 ISO 2178:1982 Lớp phủ không từ trên chất nền từ-Đo chiều dày lớp phủ-Phương pháp từ
| Số hiệu: | TCVN 5878:2007 | Loại văn bản: | Tiêu chuẩn Việt Nam |
| Cơ quan ban hành: | Bộ Khoa học và Công nghệ | Lĩnh vực: | Công nghiệp |
|
Ngày ban hành:
Ngày ban hành là ngày, tháng, năm văn bản được thông qua hoặc ký ban hành.
|
13/09/2007 |
Hiệu lực:
|
Đã biết
|
| Người ký: | Đang cập nhật |
Tình trạng hiệu lực:
Cho biết trạng thái hiệu lực của văn bản đang tra cứu: Chưa áp dụng, Còn hiệu lực, Hết hiệu lực, Hết hiệu lực 1 phần; Đã sửa đổi, Đính chính hay Không còn phù hợp,...
|
Đã biết
|
TÓM TẮT TIÊU CHUẨN VIỆT NAM TCVN 5878:2007
Tiêu chuẩn Quốc gia TCVN 5878:2007: Quy định về đo chiều dày lớp phủ không từ cho hồ sơ chất nền từ
Tiêu chuẩn Quốc gia TCVN 5878:2007 quy định phương pháp đo chiều dày lớp phủ không từ trên chất nền từ thông qua phương pháp từ, thay thế tiêu chuẩn cũ TCVN 5878:1995. Tiêu chuẩn này được công bố bởi Bộ Khoa học và Công nghệ và hoàn toàn tương đương với ISO 2178:1982.
Phạm vi và nguyên lý áp dụng
- Phạm vi áp dụng: Tiêu chuẩn này hướng dẫn việc sử dụng các dụng cụ đo chiều dày lớp phủ không từ trên bề mặt kim loại nền từ, bao gồm các lớp phủ như thủy tinh và men sứ.
- Nguyên lý đo: Dụng cụ đo sử dụng lực hấp dẫn từ giữa một nam châm và kim loại nền để xác định độ dày lớp phủ, hoặc đo từ trở của từ trường đi qua lớp phủ.
Yếu tố ảnh hưởng đến độ chính xác đo
Tiêu chuẩn lưu ý rằng các yếu tố như chiều dày lớp phủ, tính chất từ của kim loại nền, chiều dày kim loại nền, độ cong, và độ nhám bề mặt có thể ảnh hưởng nghiêm trọng đến kết quả đo. Các phép đo gần các cạnh hoặc trên bề mặt cong không đảm bảo được độ chính xác. Ngoài ra, tạp chất và áp lực đầu dò cũng là những yếu tố cần kiểm soát để đảm bảo độ chính xác.
Quy trình và yêu cầu chuẩn bị
Trước khi sử dụng dụng cụ đo, cần thực hiện công tác chuẩn hóa theo chỉ dẫn của nhà sản xuất và bảo quản thường xuyên. Các mẫu chuẩn phải có chiều dày đồng đều và tương đương với bề mặt mẫu thử. Việc kiểm tra độ nhám và các tính chất từ của kim loại nền cũng cần được thực hiện để đảm bảo độ chính xác trong phép đo.
Yêu cầu về độ chính xác
Dụng cụ đo phải có khả năng xác định chiều dày lớp phủ trong khoảng ±10% so với giá trị thực tế hoặc ±1,5 μm, tùy theo mức nào lớn hơn. Điều này đảm bảo cho độ chính xác cao trong việc đánh giá chất lượng lớp phủ.
TCVN 5878:2007 được Ban kỹ thuật tiêu chuẩn TCVN/SC 1 biên soạn và có hiệu lực từ ngày ban hành, phục vụ cho các ứng dụng trong lĩnh vực công nghiệp và kỹ thuật, đảm bảo chất lượng sản phẩm được phủ trên chất nền từ.
Tiêu chuẩn này là một bước tiến quan trọng trong việc cải thiện chất lượng sản phẩm và cung cấp công cụ chính xác cho các tổ chức, doanh nghiệp trong ngành chế tạo và sản xuất.
Tiêu chuẩn Quốc gia TCVN 5878:2007 ISO 2178:1982 Lớp phủ không từ trên chất nền từ-Đo chiều dày lớp phủ-Phương pháp từ
Văn bản này đang cập nhật nội dung.
Bạn chưa Đăng nhập thành viên.
Đây là tiện ích dành cho tài khoản thành viên. Vui lòng Đăng nhập để xem chi tiết. Nếu chưa có tài khoản, vui lòng Đăng ký tại đây!