Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6611-8:2000 IEC 326-8:1981 With Amendent 1:1989 Tấm mạch in - Phần 8

Đặc tính

Thử nghiệm số

IEC 326-2

Nội dung thử nghiệm bổ sung cần được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Mẫu thử của tâm tổ hợp các dạng mạch in thử nghiệm

Yêu cầu

Ghi chú

Kiểm tra chung

Kiểm tra bằng mắt

Sự phù hợp và nhận dạng

1

*

Dạng mạch in, ghi nhãn, nhận dạng, vật liệu và chất lượng phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan. Không được có các khuyết tật rõ rệt

Ngoại quan và chất lượng gia công

1a

Tấm tổ hợp các dạng mạch in thử nghiệm hoàn chỉnh

Tấm mạch in phải chứng tỏ đã sản xuất cẩn thận với kỹ thuật phù hợp với công nghệ hiện hành

Lỗ xuyên phủ kim loại

Các lỗ xuyên phủ kim loại phải sạch và không được có bất cứ thứ gì có thể ảnh hưởng đến việc lắp và hàn các linh kiện. Không được có chỗ khuyết và các khuyết tật rõ rệt của lớp phủ kim loại như vết nứt hoặc vết tách ra khỏi thành lỗ

Mép tấm

Các mép tấm và các phần cắt bỏ bên trong tấm phải sạch gọn, không nham nhở hoặc bị sứt mẻ

Lỗ ôzê

A

Lỗ ôzê phải được đảm bảo chặt. Vành của lỗ ôzê có thể được hàn vào dạng mạch in. Không được có hư hại đối với đường dẫn điện hoặc tấm nền tại vùng xung quanh lỗ ôzê

Độ kết dính của đường dẫn điện với tấm nền

1a

Tấm tổ hợp các dạng mạch in thử nghiệm hoàn chỉnh

Đường dẫn điện không được tách rời khỏi tấm nền, do các vết phồng rộp, vết nhăn quá mức cho phép trong qui định kỹ thuật về vật liệu

Độ kết dính của lớp phủ với tấm nền và dạng mạch in

1b

Lớp phủ phải hoàn toàn kín và đồng nhất. Những vết bong nhỏ chỉ được phép tại những vị trí sau:

a) tại những vị trí bất kỳ xa các đường dẫn điện. Mỗi vết bong này có diện tích không được quá 5 mm² và phải cách mép quá 0,5 mm

b) dọc theo mép đường dẫn điện, ước lượng bằng mắt thường, vết bong này không được phạm vào quá 20% khoảng trống thiết kế giữa hai đường dẫn điện

Chiều rộng lớp phủ phải tối thiểu là 0,5 mm giữa hai đường dẫn điện kề nhau. Không cho phép có vết bong nếu khoảng cách giữa hai đường dẫn nhỏ hơn 0,5 mm

Ví dụ về vết bong cho trên hình 5

Khuyết tật ở đường dẫn điện

Không được có vết nứt hoặc vết đứt đoạn. Những lỗi như chỗ khuyết hoặc khuyết tật ở mép chỉ cho phép nếu chiều rộng của đường dẫn điện hoặc đường rò giữa các đường dẫn không bị giảm quá mức qui định trong các qui định kỹ thuật liên quan, ví dụ 20% hay 35%

Khi cần thiết điều này phải được kiểm tra kích thước theo thử nghiệm 2a

Vết kim loại giữa các đường dẫn

1b hoặc 1c

F

Những vết kim loại sót lại có thể cho phép nếu đường rò không bị giảm quá 20% hoặc không nhỏ hơn khoảng cách yêu cầu đối với điện áp của mạch

Khi cần thiết điều này phải được kiểm tra kích thước theo thử nghiệm 2a

Kiểm tra kích thước

Kích thước tấm mạch in

2

Các kích thước và dung sai phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Chiều dày danh nghĩa của tấm mạch in phải phù hợp với qui định kỹ thuật

Lỗ

2

Đường kính danh nghĩa và dung sai của lỗ lắp đặt và lỗ lắp linh kiện phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Khoảng kích cỡ và dung sai của lỗ được cho trong IEC 326-3

Đường kính danh nghĩa của lỗ xuyên phủ kim loại phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Không cần thiết phải đo chính xác vì sai lệch không quan trọng trong trường hợp này

Lỗ tiếp dẫn

2

Phần lớp phủ của tấm tổ hợp các dạng mạch in thử nghiệm hoàn chỉnh

Độ đồng tâm của lỗ tiếp dẫn với vành khuyên tương ứng trên vật liệu nền có tính đến sự ảnh hưởng của vết bong chất kết dính trong lớp phủ phải sao cho độ rộng theo hướng kính không giảm xuống thấp hơn giá trị tối thiểu được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan (xem hình 4)

Kích thước của vành khuyên hữu ích tối thiểu tại

điểm bất kỳ quanh lỗ khuyến cáo là:

− 0,15 mm lỗ không phủ kim loại

− 0,10 mm lỗ xuyên phủ kim loại

Khe, rãnh

2

Kích thước phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Chiều rộng của đường dẫn điện

Chiều rộng của đường dẫn điện phải phù hợp với kích thước riêng được cho trong qui định kỹ thuật liên quan

Nếu không nêu ra dung sai thì áp dụng sai lệch thô cho trong IEC 326-3

Có thể cho phép những khuyết tật như chỗ khuyết hay khuyết tật ở mép nếu chiều rộng của đường dẫn điện không bị giảm quá giá trị cho trong qui định kỹ thuật liên quan, ví dụ 20% hoặc 35%. Chiều dài L của khuyết tật không được lớn hơn chiều dày đường dẫn S hoặc 5 mm chọn giá trị nhỏ hơn (xem hình 2)

Khoảng trống giữa các đường dẫn điện

2

F

Khoảng trống này phải phù hợp với các kích thước riêng được cho trong qui định kỹ thuật liên quan

Độ lệch giữa lỗ và vành khuyên

Trên vành khuyên không được có vết đứt. Điểm nối vành khuyên với đường dẫn không được đứt rời

Dung sai vị trí của các tâm lỗ

Tâm lỗ phải nằm trong giới hạn sai lệch được cho trong qui định kỹ thuật liên quan

Thử nghiệm điện

Điện trở

Thay đổi điện trở của lỗ xuyên phủ kim loại, chu kỳ nhiệt độ

3c của IEC 326-2A

Các yêu cầu trong qui định kỹ thuật liên quan phải được thoả mãn

Không áp dụng với vật liệu polyeste

Lỗ ôzê

Đang xem xét

Điện trở cách điện

6

E

Điện trở cách điện phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Điện trở cách điện được đo trước và sau các thử nghiệm môi trường và ở nhiệt độ tăng cao như qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Ổn định trước

18a

*

Đo ở điều kiện khí quyển tiêu chuẩn

6

*

Ổn định theo IEC68-2-3, thử nghiệm Ca: Nóng ẩm không đổi; hoặc IEC 68-2-38, thử nghiệm Z/DA: Thử nghiệm chu kỳ hỗn hợp nhiệt độ / độ ẩm

*

ổn định áp dụng được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Phép đo ở nhiệt độ tăng cao

6

-

Không áp dụng đối với các vật liệu polyeste

Thử nghiệm cơ

Độ bền bong tróc

Giữa đường dẫn điện và vật liệu nền

G

Độ bền bong tróc phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Các đường dẫn điện không có lớp phủ

Phép đo ở điều kiện khí quyển tiêu chuẩn

10a

*

Phép đo ở nhiệt độ tăng cao

10b

*

Không áp dụng với các vật liệu polyeste

Độ bền kéo

Độ bền kéo đứt, các vành khuyên có lỗ không phủ kim loại

11a

*

J

Vành khuyên không được bong ra trong quá trình hàn. Độ bền kéo đứt không được nhỏ hơn giá trị qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Đối với thử nghiệm này, mẫu thử phải được đỡ bằng một tấm cứng

Mỏi do uốn

Thử nghiệm khác

*

Đang xem xét

Chất lượng của lớp phủ kim loại

Độ kết dính của lớp phủ kim loại, phương pháp dán băng

13a

K

Không được có dấu hiệu lớp phủ kim loại dính vào băng khi tách băng ra khỏi đường dẫn điện ngoại trừ các vết kim loại bám vào

Độ dày của lớp phủ kim loại (vùng có tiếp điểm)

13f

*

K

Độ dày này phải phù hợp với qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Khả năng hàn

14a

*

H, A

Đường dẫn điện phải được phủ một lớp thiếc sáng, bóng, không có nhiều vết khuyết tật (khoảng 5%) như các lỗ châm kim, các chỗ không bám thiếc hoặc trôi thiếc. Các khuyết tật này không được nằm tập trung tại một vùng trên bề mặt

Không áp dụng cho vật liệu polyeste

Với vật liệu polyimide, có thể cần sấy khô để bảo vệ khi hàn

Thử nghiệm  được tiến hành ở điều kiện nghiệm thu hay sau khi lão hoá gia tốc do thoả thuận giữa người mua và người bán

A) Khi sử dụng chất trợ dung trung tính được thoả thuận giữa người mua và người bán

Chất trợ dung trung tính được qui định trong 6.6.1 của IEC 68-2-20

ở điều kiện nghiệm thu

Bám thiếc: Mẫu thử phải bám thiếc trong vòng 3 s. Khi có sử dụng lớp phủ bảo vệ tạm thời nhằm duy trì khả năng hàn thì mẫu thử bám thiếc trong vòng 4 s

Trôi thiếc: Mẫu thử phải tiếp xúc với thiếc nóng chảy từ 5 s đến 6 s mà không được trôi thiếc

Sau khi lão hoá gia tốc

Bám thiếc: Mẫu thử phải bám thiếc trong vòng 4 s

Trôi thiếc: Mẫu thử phải tiếp xúc với thiếc nóng chảy từ 5 s đến 6 s mà không được trôi thiếc

Đối với cả hai trường hợp (nếu được áp dụng), các lỗ phải phù hợp với các lỗ được hàn tốt ở hình 3 và trong chừng mực có thể, với vật liệu mỏng dùng cho tấm mạch in uốn được

B) Khi sử dụng chất trợ dung hoạt tính được thoả thuận giữa người mua và người bán

Chất trợ dung hoạt tính (0,2%) được qui định trong 6.6.2 (IEC68-2-20)

ở điều kiện nghiệm thu và sau khi lão hoá gia tốc

Đối với các tấm có hoặc không có lớp phủ bảo vệ tạm thời để hàn

Bám thiếc: Mẫu thử phải bám thiếc trong vòng 3 s

Trôi thiếc: Mẫu thử phải tiếp xúc với thiếc nóng chảy từ 5 s đến 6 s mà không được trôi thiếc

Đối với cả hai trường hợp (nếu được áp dụng), các lỗ phải phù hợp với các lỗ

được hàn tốt ở hình 3 và trong chừng mực có thể, với vật liệu mỏng dùng cho tấm mạch in uốn được

Độ bền chịu dung môi và chất trợ dung

17a

*

 Không có dấu hiệu:

− phồng rộp hay bong lớp;

− bong lớp phủ hoặc mực;

− phân hủy;

− thay đổi đáng kể về màu sắc

Chấp nhận:

a) các ký hiệu không bị ảnh hưởng;

b) các ký hiệu bị mờ nhưng vẫn đọc

được

Loại bỏ:

a) ký hiệu không đọc được hoặc bị phá

hủy;

b) các ký hiệu đọc được không rõ ràng, có thể bị nhầm lẫn giữa các chữ tương tự nhau như: R-P-B, E-F, C-G-O

Đặc tính

Thử nghiệm số

IEC 326-2

Nội dung thử nghiệm bổ sung cần được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Mẫu thử của tâm tổ hợp các dạng mạch in thử nghiệm

Yêu cầu

Ghi chú

Kiểm tra kích thước

Vị trí của dạng mạch in và lỗ so với số liệu chuẩn

Vị trí phải phù hợp với các kích thước riêng được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Điều này thường không cần đo vì điều quan trọng là tương quan giữa dạng mạch in và lỗ khống chế độ rộng hướng kính nhỏ nhất. Khi có yêu cầu thì áp dụng sai lệch cho trong IEC 326-3

Thử nghiệm điện

Điện trở

Điện trở của đường dẫn điện

3a

*

Điện trở này phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Chịu dòng điện

Chịu dòng điện, các đường dẫn điện

5b

*

Các đường dẫn không được cháy (chảy) và không được thay đổi màu sắc do quá nóng

Chịu điện áp

7a

*

Không được có phóng điện đánh thủng

Thử nghiệm khác

Chất lượng của lớp phủ kim loại

Độ kết dính, phương pháp chà xát

13b

Không được có dấu hiệu phồng, hoặc bong của lớp phủ kim loại

Độ xốp, bọt khí

13c

Các yêu cầu qui định trong qui định kỹ thuật liên quan phải được thỏa mãn

Độ xốp, thử nghiệm bằng điện đồ

13d

13c

*

*

K

Các yêu cầu qui định trong qui định kỹ thuật liên quan phải được thỏa mãn

Chiều dày lớp phủ kim loại (ngoài khu vực có tiếp điểm)

13f

*

C

Chiều dày phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Độ bền chịu nhiệt

Dài hạn

Y

Lưu ở nhiệt độ làm việc lớn nhất

Thời gian và nhiệt độ như qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Kiểm tra bằng mắt

1a

Đường dẫn điện hoặc lớp phủ không được tách rời

Mẫu

Thử nghiệm

Đường kính lỗ tiếp dẫn của lớp phủ mm

Đường kính danh nghĩa của vành khuyên

mm

Đường kính danh nghĩa của lỗ

mm

A

Độ trùng khít của lớp phủ và khả năng hàn của

lỗ xuyên phủ kim loại lỗ ôzê

2,0

4,2

1.8

4,0 1)

0,8

2,0 2)

C

Cắt lớp, chiều dày của lớp phủ kim loại

2,5

2,0

2,5

2,0

1,3

0,8

D

Thay đổi điện trở của lỗ xuyên phủ kim loại

2,5

−

0,8

E

Điện trở cách điện, nhiễm bẩn của quá trình

2,0

−

0,8

F

Độ chính xác của đường dẫn điện, khoảng trống, độ rộng, khuyết tật và các vết kim loại giữa các đường dẫn điện

−

−

−

G

Độ bền bong tróc, đường dẫn điện với vật liệu nền

−

−

−

H

Khả năng hàn của đường dẫn điện

−

3,0

−

J

Độ bền kéo đứt, vành khuyên với lỗ không phủ kim loại

−

4,0

1,3

K

Chất lượng của lớp phủ kim loại

−

−

−

X

Mỏi do uốn

2,5

4,0

1,3

Y

Độ bền chịu nhiệt

−

−

−