Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6611-6:2000 IEC 326-6:1980 Tấm mạch in - Phần 6

Đặc tính

Thử nghiệm số

IEC 326-2

Nội dung thử nghiệm bổ sung cần được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Mẫu thử của tâm tổ hợp các dạng mạch in thử nghiệm

Yêu cầu

Ghi chú

Kiểm tra chung

Kiểm tra bằng mắt

Sự phù hợp và nhận dạng

1

*

Tấm tổ hợp các dạng mạch in thử nghiệm hoàn chỉnh

Dạng mạch in, ghi nhãn, nhận dạng, vật liệu và chất lượng phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan. Không được có các khuyết tật rõ rệt

Ngoại quan và chất lượng gia công

1a

Tấm mạch in phải thể hiện đã chế tạo cẩn thận và có chất lượng trình độ hiện tại

Lỗ xuyên phủ kim loại

Các lỗ xuyên phủ kim loại phải sạch và không được có bất cứ thứ gì có thể ảnh hưởng đến việc lắp và hàn các linh kiện

Tổng diện tích chỗ khuyết lớp phủ kim loại không được vượt quá 10% tổng diện tích bờ thành. Kích thước lớn nhất không quá 25% chu vi lỗ theo mặt ngang và 25% chiều dày của tấm theo mặt đứng

Các lỗ xuyên phủ kim loại không được khuyết lớp phủ kim loại ở mặt tiếp giáp giữa thành lỗ với đường mạch in hoặc với đường vành khuyên lớp trong

Mặt tiếp giáp này phải vào sâu trong lỗ, dưới bề mặt tấm một khoảng là 1,5 lần chiều dày lớp đồng trên bề mặt hoặc hai lần chiều dày lớp đồng bên trong, ở mức của vành tiếp xúc

1c

Tấm tổ hợp các dạng mạch in thử nghiệm hoàn chỉnh

Cho phép có những vết nhựa dính trên mép của lớp đồng phủ và vết phủ trên đồng vương ra, nếu các vết này không làm gián đoạn sự dẫn điện liên tục

1a

Không được có những vết nứt khép kín của lớp đồng hay vết tách rời khép kín của lớp đồng với thành lỗ đối với lỗ xuyên phủ kim loại

Số lượng lỗ bị khuyết lớp phủ kim loại không được quá 5% tổng số lỗ xuyên phủ kim loại

Khuyết tật ở đường dẫn điện

1b

Không được có vết rạn hoặc vết nứt. Những lỗi như chỗ khuyết hoặc khuyết tật ở mép chỉ cho phép nếu chiều rộng của đường dẫn điện hoặc đường rò giữa các đường dẫn không bị giảm quá mức qui định trong các qui định kỹ thuật liên quan, ví dụ 20% hay 35%

Khi cần thiết điều này phải được kiểm tra kích thước theo thử nghiệm 2a

Các vết kim loại giữa các đường dẫn điện

1b hoặc 1c

F

Những vết kim loại sót lại có thể cho phép nếu đường rò không bị giảm quá 20% hoặc không nhỏ hơn khoảng cách yêu cầu đối với điện áp của mạch

Khi cần thiết điều này phải được kiểm tra kích thước theo thử nghiệm 2a

Lớp phủ chống bám thiếc

1a

*

Dạng lớp phủ chống bám thiếc phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan. Không được có khuyết tật nhìn thấy

Những sai sót trên lớp phủ chống bám thiếc trên phần vật liệu nền như các lỗ châm kim, những chỗ nhỏ không được phủ, vết xước, v.v... có thể cho phép nếu không có qui định nào khác trong qui định kỹ thuật liên quan

Bề mặt phía trên cùng của đường dẫn điện phải được phủ và không được có lỗ châm kim. ít nhất phải có một trong hai mép đường dẫn điện cạnh nhau được phủ

Các lỗ để cắm linh kiện và các tiếp điểm không được có lớp phủ chống bám thiếc

Các vành khuyên không được có lớp phủ chống bám thiếc nếu không có qui định nào khác trong qui định kỹ thuật liên quan

Các mép của tấm mạch in và các khu vực gần các rãnh, vết cắt, v.v... phải không được có lớp phủ chống bám thiếc nếu không có qui định nào khác trong qui định kỹ thuật liên quan

Kiểm tra kích thước

Kích thước tấm mạch in

2

Các kích thước và dung sai phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan.

Chiều dày danh nghĩa của tấm mạch in phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Chiều dày của tấm mạch in nơi có các tiếp điểm ở mép tấm mạch in

2

K

Tổng chiều dày của tấm này và dung sai phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Tổng chiều dày của tấm và dung sai phải được qui định và phù hợp với Sửa đổi 1 của IEC 321

Lỗ

2

Đường kính danh nghĩa và dung sai của lỗ lắp đặt và lỗ lắp linh kiện phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Đường kính danh nghĩa của lỗ xuyên phủ kim loại chỉ dùng để nối xuyên qua phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Khoảng kích cỡ và dung sai của lỗ được cho trong IEC 326-3

Không cần thiết phải đo chính xác vì sai lệch là không quan trọng

Khe rãnh

2

Kích thước phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Chiều rộng của đường dẫn điện

2

Tấm tổ hợp các dạng mạch in thử nghiệm hoàn chỉnh

Chiều rộng đường dẫn điện phải phù hợp với kích thước riêng được cho trong qui định kỹ thuật liên quan

Nếu không nêu ra dung sai thì áp dụng sai lệch thô cho trong IEC 326-3

2a

Có thể cho phép những khuyết tật như chỗ khuyết hay khuyết tật ở mép nếu chiều rộng của đường dẫn không bị giảm quá giá trị cho trong qui định kỹ thuật liên quan, ví dụ 20% hoặc 35%. Chiều dài L của khuyết tật không được lớn hơn chiều rộng của đường dẫn S, hoặc 5 mm, chọn giá trị nhỏ hơn (xem hình 2)

Khoảng trống giữa các đường dẫn điện

2

F

Khoảng cách này phải phù hợp với các kích thước riêng được cho trong qui định kỹ thuật liên quan

Độ lệch giữa lỗ và vành khuyên

1a,

2a

Tấm tổ hợp các dạng mạch in thử nghiệm hoàn chỉnh

Trên vành khuyên không được có vết đứt. Điểm nối vành khuyên với đường dẫn không được đứt rời. Điều này áp dụng cho cả lớp bên trong và bên ngoài

Có thể đo bằng thử nghiệm 15b - cắt lớp hoặc phương pháp thử nghiệm thích hợp khác

Dung sai về vị trí của các tâm lỗ

Tâm lỗ phải nằm trong giới hạn sai lệch được cho trong qui định kỹ thuật liên quan

Lớp phủ chống bám thiếc

2

Các kích thước của lớp phủ chống bám thiếc phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Độ lệch giữa lớp phủ chống bám thiếc và đường dẫn điện

2

Độ lệch phải phù hợp với các giá trị riêng được cho trong qui định kỹ thuật liên quan

Độ rộng vành khuyên có thể hàn được phải phù hợp với các giá trị riêng được cho trong qui định kỹ thuật liên quan

Thử nghiệm điện

ổn định lớp phủ chống bám thiếc

19c

Hoặc

Thời gian dao động 5 s hoặc 10 s hoặc theo qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Khi các tấm mạch in có lớp phủ chống bám thiếc được thử nghiệm thì các tấm mạch in này phải được ổn định trước khi thử nghiệm điện

19f

10 s hoặc theo qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Chỉ áp dụng cho các lớp phủ chống bám thiếc lưu lại

Thay đổi điện trở của các lỗ xuyên phủ kim loại

3c của

IEC

326-2A

*

D

Các yêu cầu trong qui định kỹ thuật liên quan phải được thoả mãn

Ngắn mạch

4a

*

C

Điện trở cách điện

6

Điện trở cách điện phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Điện trở cách điện phải đo trước và sau các thử nghiệm môi trường và ở nhiệt độ tăng cao, như qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

ổn định trước

18a

Đo ở điều kiện khí quyển tiêu chuẩn

6

Các lớp trên bề mặt

6a

*

E

Các lớp ở trong

6b

*

J

Giữa các lớp

6c

*

M

ổn định theo IEC 68-2-3, thử nghiệm Ca: Nóng ẩm không đổi; hoặc IEC 68-2-38, thử nghiệm Z/A D: Thử nghiệm nóng ẩm biến đổi chu kỳ

Độ ổn định áp dụng được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Phép đo ở nhiệt độ tăng cao

6

Các lớp trên bề mặt

6a

*

Các lớp ở trong

6b

*

Giữa các lớp

6c

*

Thử nghiệm cơ

Độ bền bong tróc

G

Độ bền bong tróc phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Phép đo ở điều kiện khí quyển tiêu chuẩn

10a

*

Phép đo ở nhiệt độ tăng cao

10b

*

Độ bền kéo rời

11b

*

B

Độ bền kéo rời không được nhỏ hơn giá trị qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Lỗ xuyên phủ kim loại không có vành khuyên

Độ phẳng

12a

*

Bán kính cong không được nhỏ hơn giá trị được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Các thử nghiệm khác

Chất lượng của lớp phủ kim loại

K

Độ kết dính của lớp phủ kim loại, phương pháp dán băng

13a

C

Không được có dấu hiệu lớp phủ kim loại dính vào băng khi tách băng ra khỏi đường dẫn ngoại trừ các vết kim loại bám vào

Độ dày của lớp phủ kim loại (vùng có tiếp điểm)

13f

*

K

Độ dày này phải phù hợp với qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Độ kết dính của lớp phủ chống bám thiếc, phương pháp dán băng

13a

Phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Chỉ áp dụng cho lớp phủ chống bám thiếc lưu lại

ở điều kiện nghiệm thu và sau khi ổn định trước

Khả năng hàn

14a

*

H, A

Đường dẫn phải được phủ một lớp thiếc sáng, bóng, không có nhiều vết khuyết tật (khoảng 5%) như các lỗ châm kim, các chỗ không bám thiếc. Các khuyết tật này không được nằm tập trung tại một vùng trên bề mặt

Khi áp dụng trên tấm sản phẩm chỉ thử nghiệm cho các lỗ không có mối nối với lớp bên trong nhằm tránh hiệu ứng truyền nhiệt làm ảnh hưởng đến việc diễn giải các kết quả

A) Khi sử dụng chất trợ dung trung tính được thoả thuận giữa người mua và người bán

Chất trợ dung trung tính được qui định trong 6.6.1 của IEC 68-2-20

Ở điều kiện nghiệm thu

Bám thiếc: Mẫu thử phải bám thiếc trong vòng 3 s. Khi có sử dụng lớp phủ bảo vệ tạm thời nhằm duy trì khả năng hàn thì mẫu thử bám thiếc trong vòng 4 s

Trôi thiếc: Mẫu thử phải tiếp xúc với thiếc nóng chảy từ 5 s đến 6 s mà không được trôi thiếc

Điều kiện áp dụng cần được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Sau khi lão hoá gia tốc

Bám thiếc: Mẫu thử phải bám thiếc trong vòng 4 s

Trôi thiếc: Mẫu thử phải tiếp xúc với thiếc nóng chảy từ 5 s đến 6 s mà không được trôi thiếc

A

Đối với cả hai trường hợp (nếu được áp dụng), các lỗ phải phù hợp với các lỗ được hàn tốt ở hình 3

B) Khi sử dụng chất trợ dung hoạt tính được thoả thuận giữa người mua và người bán

Chất trợ dung hoạt tính (0,2%) được qui định trong 6.6.2 của IEC 68-2-20

Ở điều kiện nghiệm thu và sau khi lão hoá gia tốc

Đối với các tấm có hoặc không có lớp phủ bảo vệ tạm thời để hàn

Bám thiếc: Mẫu thử phải bám thiếc trong vòng 3 s

Điều kiện áp dụng cần được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Trôi thiếc: Mẫu thử phải tiếp xúc với thiếc nóng chảy từ 5 s đến 6 s mà không được trôi thiếc

A

Đối với cả hai trường hợp (nếu được áp dụng), các lỗ phải phù hợp với các lỗ được hàn tốt ở hình 3

Độ bền chịu dung môi và chất trợ dung

17a

*

Không có dấu hiệu:

− phồng rộp hay bong lớp;

− bong lớp hoặc mục;

− phân hủy;

− thay đổi đáng kể về màu sắc

Chấp nhận:

a) các ký hiệu không bị ảnh hưởng;

b) các ký hiệu bị mờ nhưng vẫn đọc được

Loại bỏ:

a) ký hiệu không đọc được hoặc bị hỏng;

b) các ký hiệu đọc được không rõ ràng, có thể bị nhầm lẫn giữa các chữ tương tự nhau như: R-P-B, E-F, C-G-O

Cũng áp dụng cho lớp phủ chống bám thiếc lưu lại

Bong lớp do xốc nhiệt

15a

*

G

Không được có dấu hiệu phồng hoặc bong lớp

Phương pháp cắt lớp sẽ được thực hiện khi có yêu cầu trong qui định kỹ thuật liên quan

Ổn định trước

18b

Đặc tính

Thử nghiệm số

IEC 326-2

Nội dung thử nghiệm bổ sung cần được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Mẫu thử của tâm tổ hợp các dạng mạch in thử nghiệm

Yêu cầu

Ghi chú

Kiểm tra kích thước

Vị trí của dạng mạch in và lỗ so với số liệu chuẩn

Vị trí phải phù hợp với các kích thước riêng được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Điều này thường không cần đo vì điều quan trọng là tương quan giữa dạng mạch in và lỗ khống chế độ rộng hướng kính nhỏ nhất. Khi có yêu cầu thì áp dụng sai lệch cho trong IEC 326-3

Chiều dày của lớp phủ chống bám thiếc

2

hoặc

15b

Chiều dày này phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Chiều dày này phải được đo ở tâm của đường dẫn giả định khi sử dụng thử nghiệm 15b

Thử nghiệm điện

Điện trở

Điện trở của các đường dẫn điện

3a

*

Điện trở này phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Điện trở của các điểm nối

3b

*

L

Điện trở này phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Chịu dòng điện

5a

Chịu dòng điện, lỗ xuyên phủ kim loại

Ít nhất phải thử nghiệm năm lỗ. Lớp phủ kim loại trong lỗ phải chịu được dòng điện tương ứng như qui định trong IEC 326-2 mà không bị cháy (chảy) và không bị thay đổi màu sắc do quá nóng

Chịu dòng điện, các đường dẫn điện

5b

*

Các đường dẫn điện không được cháy (chảy) và không được thay đổi màu sắc do quá nóng

Chịu điện áp

7a

*

Không được có phóng điện đánh thủng

Trôi tần số

8a

*

ổn định theo qui định trong IEC 68-2-3; Thử nghiệm Ca, nóng ẩm không đổi

Trôi tần số không được vượt quá giới hạn được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Thử nghiệm cơ

Độ cứng của lớp phủ chống bám thiếc

Độ cứng của lớp phủ chống bám thiếc phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Thử nghiệm khác

Chất lượng của lớp phủ kim loại

Độ kết dính, phương pháp chà xát

13b

K

Không được có dấu hiệu phồng, hoặc bong của lớp phủ kim loại

Độ xốp, bọt khí

13c

K

Các yêu cầu qui định trong qui định kỹ thuật liên quan phải được thỏa mãn

Độ xốp, thử nghiệm bằng điện đồ

13d

13e

*

*

K

Các yêu cầu qui định trong qui định kỹ thuật liên quan phải được thỏa mãn

Chiều dày của lớp phủ kim loại (ngoài khu vực có tiếp điểm)

13f

*

C

Chiều dày phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Mẫu

Thử nghiệm

Đường kính lỗ danh nghĩa mm

Đường kính vành khuyên danh nghĩa mm

A

Khả năng hàn của lỗ xuyên phủ kim loại

0,8

1,8

B

Độ bền kéo rời, lỗ xuyên phủ kim loại không có vành khuyên

1,0

-

C

Độ kết dính của lớp phủ kim loại, cắt lớp và ngắn mạch bên trong

1,3

0,8

2,5

2,0

D

Thay đổi điện trở của lỗ xuyên phủ kim loại

0,8

2

E

F

G

H

J

K

L

M

Điện trở cách điện (lớp bề mặt)

Độ chính xác của đường dẫn điện

Độ bền bong tróc

Khả năng hàn của đường dẫn điện

Điện trở cách điện (lớp bên trong)

Chất lượng của lớp phủ kim loại

Thay đổi điện trở của đường nối

Điện trở cách điện giữa các lớp

0,8

0,8

-

0,8

0,8

2,5

-

-

3

2

-

1,8

2

Kết cấu

Số lớp

Sáu

8-10-12-14-16-18-20-22 v.v ...

(ưu tiên sử dụng những số gạch dưới)

Tổng chiều dày của tấm

1,6 mm ± 0,2 mm

Được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Vật liệu mỏng:

chiều dày danh nghĩa

lớp dẫn điện

Không nhỏ hơn 0,2 mm

35 …m đồng, hai mặt

Cách điện:

chiều dày

số lớp kết dính

tối thiểu 0,1 mm

tối thiểu 2

Lỗ

Tất cả các lỗ xuyên phủ kim loại

Chất lượng bề mặt

Được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Ghi chú

Các dạng mạch in phải được đặt đúng theo phương pháp kết cấu.

Phải có đủ không gian ngoài vùng dạng mạch in để thích hợp cho việc đặt hệ thống chỉ dẫn.