Tiêu chuẩn TCVN 6748-8:2013 Điện trở lắp đặt trên bề mặt cố định trong thiết bị điện tử

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA

TCVN 6748-8:2013

IEC 60115-8:2009

ĐIỆN TRỞ CỐ ĐỊNH SỬ DỤNG TRONG THIẾT BỊ ĐIỆN TỬ - PHẦN 8: QUY ĐỊNH KỸ THUẬT TỪNG PHẦN - ĐIỆN TRỞ LẮP ĐẶT TRÊN BỀ MẶT CỐ ĐỊNH

Fixed resistors for use in electronic equipment- Part 8: Sectional specification - Fixed surface mount resistors

Lời nói đầu

TCVN 6748-8:2013 hoàn toàn tương đương với IEC 60115-8:2009;

TCVN 6748-8:2013 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn quốc gia TCVN/TC/E3 Thiết bị điện tử dân dụng biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

 

ĐIỆN TRỞ CỐ ĐỊNH SỬ DỤNG TRONG THIẾT BỊ ĐIỆN TỬ - PHẦN 8: QUY ĐỊNH KỸ THUẬT TỪNG PHẦN - ĐIỆN TRỞ LẮP ĐẶT TRÊN BỀ MẶT CỐ ĐỊNH

Fixed resistors for use in electronic equipment- Part 8: Sectional specification - Fixed surface mount resistors

1. Quy định chung

1.1. Phạm vi áp dụng

Tiêu chuẩn này áp dụng cho các điện trở lắp đặt bề mặt cố định dùng trong thiết bị điện tử.

Các điện trở này thường được xem xét theo các loại (hình dạng hình học khác nhau) và kiểu (kích thước khác nhau). Các điện trở này có các chân được bọc kim và chủ yếu được dùng để lắp đặt trực tiếp trên một bảng mạch.

1.2. Mục đích

Mục đích của tiêu chuẩn này là đưa ra các thông số và các đặc tính ưu tiên được chọn từ TCVN 6748 -1 (IEC 60115-1), các quy trình đánh giá chất lượng tương ứng, các thử nghiệm và các phương pháp đo đồng thời đưa ra các yêu cầu về tính năng chung cho các tụ điện loại này.

Mức khắc nghiệt và các yêu cầu thử nghiệm cho trong quy định kỹ thuật cụ thể phải có mức tính năng cao hơn hoặc bằng mức của quy định kỹ thuật từng phần này, vì các mức tính năng thấp hơn là không cho phép.

1.3. Tài liệu viện dẫn

Các tài liệu viện dẫn sau đây là cần thiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản mới nhất (kể cả các sửa đổi).

TCVN 7699-1:2007 (IEC 60068-1:1988), Thử nghiệm môi trường - Phần 1: Quy định chung và hướng dẫn

Sửa đổi 1 (1992)

TCVN 6748-1:2009 ((IEC 60115-1:2008), Các điện trở cố định sử dụng trong thiết bị điện tử - Phần 1: Quy định kỹ thuật chung

IEC 60062:2004, Marking codes for resistors and capacitors (Các mã đánh dấu điện trở và tụ điện)

IEC 60068-2-58:2004, Environmental testing - Part 2-58: Tests - Test Td: Test methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface mounting devices (SMD) (Thử nghiệm môi trường - Phần 2-58: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Td: Phương pháp thử nghiệm dùng cho thử nghiệm khả năng bám thiếc, chịu hòa tan của lớp mạ kim loại và khả năng chịu nhiệt hàn thiếc của cơ cấu lắp đặt bề mặt)

IEC 61193-2:2007, Quanlity assessment systems - Part 2: Selection and use of sampling plans for inspection of electronic components and packages (Các hệ thống đánh giá chất lượng - Phấn 2: Lựa chọn và sử dụng các kế hoạch lấy mẫu để kiểm tra các linh kiện điện tử và đóng gói)

IEC 61340-3-1, Electrostatics - Part 3-11: Methods for simulation of electrostatic effects - Human body model (HBM) eletrostatic discharge test waveforms (Tĩnh điện - Phần 3-1: Các phương pháp mô phỏng các ảnh hưởng tĩnh điện - Các dạng sóng thử nghiệm phóng tĩnh điện mô hình thân người (HBM))

IEC 61760-1:2006, Surface mounting technology - Part 1: Standard method for the specification of surface mounting components (SMD_s) (Công nghệ lắp đặt bề mặt - Phần 1: Phương pháp tiêu chuẩn đối với quy định kỹ thuật của các linh kiện lắp đặt bề mặt (SMDs))

1.4. Thông tin quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể

Các quy định kỹ thuật cụ thể phải lấy theo quy định kỹ thuật cụ thể còn để trống liên quan.

Quy định kỹ thuật cụ thể không được quy định các yêu cầu thấp hơn so với yêu cầu của quy định kỹ thuật chung, quy định kỹ thuật từng phần hoặc quy định kỹ thuật cụ thể còn để trống. Khi có những yêu cầu khắc nghiệt hơn, chúng phải được liệt kê trong một điều phụ của quy định kỹ thuật cụ thể và ghi trong các danh mục thử nghiệm, ví dụ bằng chú thích.

Thông tin sau phải được nêu trong từng quy định kỹ thuật cụ thể và với các giá trị trích dẫn, phải ưu tiên chọn từ các giá trị cho trong điều tương ứng của quy định kỹ thuật từng phần này.

1.4.1. Bản vẽ hình dáng

Phải có hình vẽ minh họa điện trở để dễ dàng nhận dạng và phân biệt điện trở này với những linh kiện khác.

1.4.2. Kiểu và kích thước

Xem 2.1.1.

Các kích thước và dung sai có ảnh hưởng đến khả năng thay thế và lắp đặt, phải được nêu trong quy định kỹ thuật cụ thể.

1.4.3. Loại khí hậu

Xem 2.1.2.

1.4.4. Giới hạn thay đổi điện trở sau thử nghiệm

Xem 2.1.4.

1.4.5. Dải diện trở

Xem 2.2.1.

CHÚ THÍCH: Khi các sản phẩm được chấp nhận theo quy định kỹ thuật cụ thể và các dải điện trở khác nhau, nên bổ sung nội dung sau: “Dải các giá trị khả dụng trong mỗi kiểu, cùng với dung sai và hệ số nhiệt độ liên quan, được nêu ra trong đăng ký phê chuẩn, xem trên website www.iecq.org".

1.4.6. Dung sai trên điện trở danh định

Xem 2.2.2.

1.47. Hệ số nhiệt của trở kháng

Xem 2.2.1.

1.4.8. Tiêu hao công suất danh định

Xem 2.2.3.

Điều kiện lắp đặt được mô tả trong 2.4.2.

Quy định kỹ thuật cụ thể phải nêu rõ tiêu hao lớn nhất tại các nhiệt độ khác với 70 °C, ví dụ việc giảm tải, bằng sơ đồ hoặc bằng câu tuyên bố. Tất cả các điểm gãy phải được kiểm tra bằng thử nghiệm.

1.4.9. Điện áp phần tử hạn chế

Xem 2.2.4.

1.4.10. Điện áp cách điện

Thông tin này chỉ yêu cầu cho các điện trở cách điện.

Xem 2.2.6 và định nghĩa trong TCVN 6748-1 (TCVN 6768-1 (IEC 60115-1)), 2.2.10.

Đối với các điện trở kích thước nhỏ mà các kích thước của gá thử nghiệm đã đưa ra trong TCVN 6768-1 (TCVN 6768-1 (IEC 60115-1)), 4.6 không cân xứng, chúng phải được quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

1.4.11. Điện trở cách điện

Thông tin này chỉ yêu cầu cho các điện trở cách điện.

Xem 2.2.5.

Đối với các điện trở kích thước nhỏ mà các kích thước của đồ gá thử nghiệm đã đưa ra trong TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), 4.6 không cân xứng, chúng phải được quy định trong quy định kỹ thuật chi tiết.

1.4.12. Ghi nhãn

Các điện trở lắp đặt bề mặt thường không được ghi nhãn trên thân. Tuy nhiên một số ghi nhãn được áp dụng cho thân, điện trở phải được ghi nhãn với trở kháng theo IEC 60062, Điều 3 và như nhiều các hạng mục còn lại được liệt kê trong TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), 2.4. Tất cả thông tin yêu cầu phải được ghi nhãn trên hộp.

1.4.13. Thông tin đặt hàng

Quy định kỹ thuật chi tiết phải quy định thông tin dưới đây được yêu cầu khi đặt hàng các điện trở:

Số hiệu quy định kỹ thuật và chuẩn kiểu.

Điện trở, dung sai trên điện trở và hệ số nhiệt độ của điện trở theo IEC 60062.

1.4.14. Lắp đặt

Quy định kỹ thuật chi tiết phải đưa ra hướng dẫn trên các phương pháp lắp đặt thường sử dụng, ưu tiên dựa trên quy định kỹ thuật của các điều kiện quy trình lắp ráp IEC 61760-1, Điều 5. Việc lắp đặt cho các mục đích thử nghiệm và đo (khi cần thiết) phải theo 2.4.2 của quy định kỹ thuật này và TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), 4.31.

Quy định kỹ thuật cụ thể phải bao gồm thông tin bổ sung (thông tin không thường được yêu cầu để xác định bởi quy trình kiểm tra), như là các sơ đồ mạch, các đường cong, các bản vẽ và các chú thích cần thiết cho việc làm rõ quy định kỹ thuật cụ thể.

1.5. Phân loại sản phẩm

Giới thiệu phân loại sản phẩm cho phép người dùng lựa chọn các yêu cầu tính năng theo các điều kiện của ứng dụng sử dụng cuối cùng đã dự định.

Hai mức sản phẩm cuối chung được thiết lập để phản ánh các khác biệt đặc tính trong các yêu cầu chức năng, tính năng và tính tin cậy và để cho phép sử dụng các quy trình kiểm tra và thử nghiệm phù hợp. Cần nhận ra rằng có thể có sự chồng chéo các ứng dụng giữa các mức.

Mức G - Thiết bị điện tử chung, thường vận hành dưới các điều kiện đáp ứng hoặc vừa phải, nơi mà yêu cầu chính là chức năng. Ví dụ cho mức G bao gồm các sản phẩm người tiêu dùng và các đầu cuối người dùng viễn thông.

Mức P - Thiết bị điện tử tính năng cao, áp dụng một hoặc nhiều hơn chỉ số dưới đây:

- tính năng không gián đoạn mong muốn hoặc bắt buộc;

- vận hành trong các điều kiện môi trường khắc nghiệt;

- tuổi thọ được kéo dài.

Ví dụ đối với mức P bao gồm thiết bị chuyên dụng, các hệ thống truyền dẫn viễn thông, các hệ thống điều khiển và đo lường công nghiệp và hầu hết các ứng dụng máy tự động bên ngoài khoang hành khách.

Mức P là cơ sở phù hợp cho các quy định kỹ thuật hướng tới phê duyệt các thành phần với độ tin cậy đã thiết lập.

Mỗi mức phải được sử dụng trong các quy định kỹ thuật cụ thể riêng.

2. Các đặc tính, thông số và mức khắc nghiệt thử nghiệm ưu tiên

2.1. Các đặc tính ưu tiên

Các giá trị đưa ra trong quy định kỹ thuật cụ thể phải ưu tiên được chọn từ dưới đây.

2.1.1. Kiểu và kích thước

Các kiểu và kích thước ưu tiên được đưa ra trong Bảng 1a và Bảng 1b.

Bảng 1a - Kiểu ưu tiên đối với điện trở hình chữ nhật (RR)

Kiểu		Kích thước
Hệ mét	Hệ insơ a	Chiều dài L mm	Chiều rộng W mm	Chiều cao T mm
RR0603M	RR0201	0,6 ± 0,03	0,3 ± 0,03	0,23 ± 0,03
RR1005M	RR0402	1,0 ± 0,05	0,5 ± 0,05	0,35 ± 0,05
RR1608M	RR0603	1,6 ± 0,1	0,8 ± 0,1	0,45 ± 0,1
RR2012M	RR0805	2,0 ± 0,1	1,25 ± 0,15	0,5
RR3216M	RR1206	3,2 ± 0,2	1,6 ± 0,15	0,55 ± 0,1
RR3225M	RR1210	3,2 ± 0,2	0,5 ± 0,05	0,55 ± 0,1
RR3245M	RR1218	3,2 ± 0,2	0,8 ± 0,1	0,55 ± 0,1
RR4532M	RR1812	4,6 ± 0,2	3,2 ± 0,2	0,55 ± 0,1
RR5025M	RR2010	5,0 ± 0,2	2,5 ± 0,2	0,55 ± 0,2
RR6332M	RR2512	6,3 ± 0,2	3,2 ± 0,2	0,55 ± 0,2
CHÚ THÍCH: Hình 1 chỉ ra hình dạng và kích thước của điện trở hình chữ nhật.
a) Mã loại cũ, chỉ là thông tin tham khảo.

 

Hình 1 - Hình dạng và kích thước của điện trở hình chữ nhật (RR)

Bảng 1b – Kiểu ưu tiên đối với điện trở hình trụ (RC)

Kiểu	Kích thước
Hệ mét	Chiều dài L mm	Đường kính mm
RC1610M	1,6	1,0
RC2012M	2,0 ± 0,1	1,25
RC2211M	2,2	1,1
RC3514Ma	3,5 ± 0,2	1,4 ± 0,2
RC5922Mb	5,9 ± 0,2	2,2 ± 0,2
CHÚ THÍCH: Hình 2 chỉ ra hình dạng và kích thước của điện trở hình trụ.
a So sánh với kiểu cũ: RC3715M b So sánh với kiểu cũ: RC6123M

Hình 1 - Hình dạng và kích thước của điện trở hình trụ (RC)

Khi kiểu linh kiện khác với mô tả ở trên, ví dụ đối với các điện trở cuốn dây lắp đặt bề mặt, quy định kỹ thuật chi tiết phải nêu quy định thông tin kích thước như sẽ mô tả đầy đủ điện trở.

2.1.2. Loại khí hậu ưu tiên

Các điện trở lắp đặt trên bề mặt được đề cập bởi quy định kỹ thuật này được phân loại thành các loại khí hậu tùy theo các quy tắc chung đã nêu trong Phụ lục A của TCVN 7699-1 (IEC 60068-1).

Nhiệt độ mức cao và thấp và khoảng thời gian của thử nghiệm nhiệt nóng ẩm, trạng thái ổn định phải được chọn từ dưới đây:

Nhiệt độ mức thấp (LCT) -55 °C; -40 °C; -25 °C và -10 °C.

Nhiệt độ mức cao (UCT) +85 °C; +100 °C; +125 °C; +155 °C; + 175 °C và +200 °C.

Khoảng thời gian thử nghiệm nhiệt nóng ẩm, trạng thái ổn định: 10, 21 và 56 ngày.

Mức khắc nghiệt của các thử nghiệm lạnh và nhiệt khô là các nhiệt độ thấp và cao tương ứng.

CHÚ THÍCH: Ảnh hưởng khí hậu của điện trở lắp ráp bị ảnh hưởng rất nhiều bởi bảng mạch, phương pháp lắp ráp và lớp phủ cuối cùng.

2.1.3. Thay đổi điện trở theo nhiệt độ

Các giới hạn ưu tiên cho việc thay đổi điện trở đối với thử nghiệm thay đổi của điện trở theo nhiệt độ được cho ở Bảng 2

Bảng 2 - Cho phép thay đổi điện trở

Hệ số nhiệt		Giới hạn thay đổi điện trở %
		Nhiệt độ mức thấp/nhiệt độ tham chiếu °C				Nhiệt độ tham chiếu/nhiệt độ mức caob °C
10-b/Kab	Mãc	-55/+20	-40/+20	-25/+20	-10/+20	+20/+85	+20/+125	+20/+155	+20/+175	+20/+200
±1 000	W	±7,50	±6,00	±4,50	±3,00	±6,50	±10,5	±13,5	±15,5	±18,0
±500	V	±3,75	±3,00	±2,25	±1,50	±3,25	±5,25	±6,75	±7,75	±9,00
±250	U	±1,88	±1,50	±1,13	±0,75	±1,63	±2,63	±3,38	±3,88	±4,50
±100	S	±0,75	±0,60	±0,45	±0,30	+0,65	±1,05	±1,35	±1,55	±1,80
±50	R	±0,375	±0,300	±0,225	±0,150	±0,325	±0,525	±0,675	±0,775	±0,900
±25	Q	±0,188	±0,150	±0,113	±0,075	±0,163	±0,263	±0,338	±0,388	±0,450
±15	P	±0,133	±0,090	±0,068	±0,045	±0,098	±0,158	±0,203	±0,233	±0,270
±10	N	±0,075	±0,060	±0,045	±0,030	±0,065	±0,105	±0,135	±0,155	±0,180
±5	M	±0,038	±0,030	±0,023	±0,015	±0,033	±0,053	±0,068	±0,078	±0,090
±2	L	±0,015	±0,012	±0,009	±0,006	±0,013	±0,021	±0,027	±0,031	±0,036
±1	K	±0,008	±0,006	±0,005	±0,030	±0,007	±0,011	±0,014	±0,016	±0,018
a Viết tắt: Ví dụ, ±50 = 0 ± 50 x 10-6/K. b Nếu yêu cầu hệ số nhiệt bổ sung, chúng phải được quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể. c Ký hiệu mã theo IEC 60062, 5.5.

Mỗi dòng trong bảng đưa ra hệ số nhiệt ưu tiên và các giới hạn thay đổi điện trở đối với phép đo sự biến đổi điện trở với nhiệt độ (xem TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), 4.8) trên cơ sở loại các dải nhiệt độ của 2.1.2 quy định kỹ thuật này.

2.1.4. Giới hạn thay đổi điện trở

Bảng 3a và Bảng 3b liệt kê các giới hạn ưu tiên cho sự thay đổi điện trở của tất cả các thử nghiệm đã liệt kê trong tiêu đề. Để phân loại tính năng của điện trở, chúng sẽ được phân thành các loại ổn định như liệt kê trong Bảng 3a và Bảng 3b dưới đây.

Bảng 3a - Giới hạn thay đổi điện trở

	Thử nghiệm dài hạn			Thử nghiệm ngắn hạn
Mã loại ổn định	TCVN 6768-1 (IEC 60115-1)a, 4.23 Trình tự khí hậu 4.24 Nhiệt ẩm, trạng thái ổn định 4.25.3 Độ bền tại nhiệt độ mức trên	TCVN 6768-1 (IEC 60115-1)a, 4.25.1, khả năng ở 70 °C		TCVN 6768-1 (IEC 60115-1)a, 4.13 quá tải ngắn hạnb 4.18 Khả năng chịu nhiệt hàn 4.19 thay đổi nhiệt độ đột ngột, 5 chu kỳ 4.21 Xóc c 4.22 Rung b 4.33 Thử nghiệm uốn đế
		1 000 h	Kéo dài, 8 000 hd
5	±(5 % R + 0,1 Ω)	±(5 % R + 0,1 Ω)	±(10 % R + 0,1 Ω)	±(1 % R + 0,05 Ω)
2	±(2 % R + 0,1 Ω)	±(2 % R + 0,1 Ω)	±(5 % R + 0,1 Ω)	±(0,5 % R + 0,05 Ω)
1	±(1 % R + 0,05 Ω)	±(1 % R + 0,05 Ω)	±(2 % R + 0,05 Ω)	±(0,25 % R + 0,05 Ω)
0,5	±(0,5 % R + 0,05 Ω)	±(0,5 % R + 0,05 Ω)	±(1 % R + 0,05 Ω)	±(0,1 % R + 0,01 Ω)
0,25	±(0,25 % R + 0,05 Ω)	±(0,25 % R + 0,05 Ω)	±(0,5 % R + 0,05 Ω)	±(0,05 % R + 0,01 Ω)
0,1	±(0,1 % R + 0,02 Ω)	±(0,1 % R + 0,02 Ω)	±(0,25 % R+ 0,02 Ω)	±(0,05 % R + 0,01 Ω)
0,05	±(0,05 % R + 0,01 Ω)	±(0,05 % R + 0,01 Ω)	±(0,1 % R + 0,01 Ω)	±(0,025 % R+ 0,01 Ω)
0,025	±(0,025 % R+ 0,01 Ω)	±(0,025 % R+ 0,01 Ω)	±(0,05 %R + 0,01 Ω)	±(0,01 % R + 0,01 Ω)
a TCVN 6768-1 (IEC 60115-1). b Thử nghiệm là bắt buộc đối với loại trở kháng cấp G. c Thử nghiệm chỉ áp dụng cho kiểu khác RR hoặc RC. d Thử nghiệm là bắt buộc đối với loại trở kháng cấp P.

Bảng 3b - Giới hạn thay đổi điện trở

Mã lớp ổn định	TCVN 6768-1 (IEC 60115-1)a,	TCVN 6768-1 (IEC 60115-1 )a,	TCVN 6768-1 (IEC 60115-1)a,	TCVN 6768-1 (IEC 60115-1)a,
	4.19 Thay đổi nhanh của nhiệt độ ≥ 100 chu kỳc	4.27 Thử nghiệm quá tải điện áp cao xung đơn c	4.38 Phóng tĩnh điện b	4.39 Chu kỳ trạng thái quá tải c
5	±(1 % R + 0,05 Ω)	±(1 % R + 0,05 Ω)	±(1 % R + 0,05 Ω)	±(2 % R + 0,05 Ω)
2
1	±(0,5 % R + 0,05 Ω)	±(0,5 % R + 0,05 Ω)	±(0,5 % R +0,05 Ω)	±(1% R + 0,05 Ω)
0,5
0,25	±(0,25 % R + 0,05 Ω)
0,1
0,05
0,025
a TCVN 6768-1 (IEC 60115-1). b Mô hình cơ thể con người (HMR) theo IEC 61340-3-1, sử dụng phóng điện 3 cực dương và 3 cực âm cho loại điện trở ở cấp P, hoặc 1 cực dương và 1 cực âm cho loại điện trở ở cấp G. c Thử nghiệm bắt buộc đối với loại trở kháng ở mức P.

2.2. Các giá trị thông số ưu tiên

2.2.1. Điện trở

Xem TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), 2.3.2.

2.2.2. Dung sai điện trở

Các dung sai điện trở ưu tiên là:

±10 %; ±5 %; ±2 %; ±1 %; ±0,5 %; ±0,25 %; ±0,1 %; ±0,05 %; ±0,02 %; ±0,01 %; 0/-30%; 0/-20 % và 0/-10 %.

CHÚ THÍCH: Các dung sai bất đối xứng (ví dụ 0/-20 %) được sử dụng cho các điện trở laser có thể làm nhỏ gọn.

2.2.3. Tiêu hao công suất danh định P₇₀

Các giá trị tiêu hao công suất ưu tiên P₇₀ đối với các điện trở lắp đặt ở nhiệt độ môi trường xung quanh 70 °C:

0,016 W; 0,032 W; 0,05 W; 0,063 W; 0,1 W; 0,125W; 0,25 W; 0,33 W; 0,4 W; 0,5 W; 0,75 W; 1 W; 2 W và 3 W.

Quy định kỹ thuật cụ thể phải quy định các điều kiện dưới tiêu hao công suất áp dụng.

Hình 3 biểu diễn một ví dụ về đường cong suy giảm có thể được sử dụng để cung cấp thông suy giảm.

Hình 3 - Đường cong suy giảm

Tất cả các điểm gãy trên đường cong phải được xác nhận bằng thử nghiệm.

2.2.4. Điện áp thành phần giới hạn U_max

Các giá trị ưu tiên của điện áp thành phần giới U_max một chiều hoặc xoay chiều (giá trị hiệu dụng) là: 12,5 V; 15 V; 25 V; 50 V; 75 V; 100 V; 150 V; 200 V; 300 V và 500 V.

2.2.5. Điện trở cách điện

Đối với các điện trở được cách điện, điện trở cách điện R_ins phải không nhỏ hơn 1 GΩ sau các thử nghiệm nhiệt khô và không nhỏ hơn 100 MΩ sau các thử nghiệm trình tự khí hậu.

2.2.6. Điện áp cách điện

Đối với các điện trở cách điện, giá trị ưu tiên của điện áp cách điện U_ins một chiều hoặc xoay chiều (đỉnh) là: 75 V; 100 V; 200 V; 300 V và 500 V.

2.3. Mức khắc nghiệt thử nghiệm ưu tiên

2.3.1. Quá tải thời gian ngắn

Xem TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), 4.13 với các chi tiết như sau:

Điện áp áp dụng:	Quy định kỹ thuật cụ thể phải quy định điện áp áp dụng. Các giá trị ưu tiên là U = 2,5.Ur         (1) hoặc U = 2,5.Umax      (2) bất cứ giá trị nào ít khắc nghiệt hơn, trong đó: Ur là điện áp danh định Umax là điện áp thành phần giới hạn.
Khoảng thời gian:	Quy định kỹ thuật cụ thể phải nêu khoảng thời gian tải. Các giá trị ưu tiên là 0,5 s; 1 s; 2 s; 5 s và 10 s. Thời gian này phải được cố định theo cách như vậy, mà nhiệt độ thành phần tối đa ít nhất ở 30 K trên nhiệt độ loại bên trên.
Lắp đặt:	Xem 2.4.2. Khoảng cách giữa các điện trở lắp đặt bề mặt riêng phải không nhỏ hơn kích thước điện trở lắp đặt bề mặt lớn nhất. Bảng thử nghiệm phải được lắp đặt theo chiều ngang và phải ở trong không khí tự do ở nhiệt độ môi trường xung quanh giữa 15 °C và 35 °C.

2.3.2. Khả năng hàn

Xem TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), 4.17, với các chi tiết dưới đây:

Thử nghiệm khả năng hàn phải quy định bởi sự lão hóa nhanh. Trừ khi có quy định khác trong quy định kỹ thuật cụ thể liên quan, Sự lão hóa 3a như mô tả trước trong IEC 60068-2-20, 4.1.1 (ví dụ 4 h ở nhiệt khô 155 °C) phải được sử dụng. Sau khi lão hóa nhanh, mẫu phải được tác động tới các điều kiện áp suất khí quyển tiêu chuẩn cho việc thử nghiệm với không nhỏ hơn 2 h và không lớn hơn 24 h.

Mặt cuối có thể hàn của điện trở phải có thể được so sánh với cả hai, mối hàn SnPb bổ sung và mối hàn không chì, trừ khi có quy định khác được quy định rõ ràng trong quy định kỹ thuật cụ thể liên quan. Do đó thử nghiệm khả năng hàn được yêu cầu cho cả hai quy trình hàn.

Khả năng hàn với mối hàn SnPb bổ sung phải được thử nghiệm tuân theo IEC 60068-2-58, 8.2.1, phương pháp bể hàn với mức khắc nghiệt dưới đây

Hợp kim hàn:	Sn60Pb40 hoặc Sn63Pb37
Nhiệt độ bể:	(235 ± 5) °C
Thời gian ngâm:	(2 ± 0,2) s

Các hợp kim hàn không chì được nhóm thành nhóm trong IEC 60068-2-58, Điều 4 tùy theo nhiệt độ quy trình điển hình của chúng. Các hợp kim hàn phổ biến nhất SnAg, SnAgCu và SnAgBi được đặt trong nhóm 3, nhiệt độ trung bình - cao. Khả năng hàn với chất hàn không chì phải được thử nghiệm tuân theo IEC 60068-2-58, 8.1.1, phương pháp bể hàn với mức khắc nghiệt đại diện dưới đây đối với nhóm 3:

Hợp kim hàn:	Sn96, 5Ag3, 0Cu0,5
Nhiệt độ bể:	(245 ± 5) °C
Thời gian ngâm:	(3 ± 0,3) s

2.3.3. Khả năng chịu nhiệt hàn

Xem TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), 4.18 với các chi tiết dưới đây:

Điện trở phải có khả năng chịu được tất cả các dải nhiệt độ trong quy trình hàn đã mô tả trong IEC 61760-1, trừ khi có quy định khác được quy định rõ ràng trong quy định kỹ thuật cụ thể liên quan:

• Hàn chảy ngược pha hơi;

• Hàn chảy ngược pha hơi không chì;

• Hàn chảy ngược đối lưu khí hồng ngoại hoặc cưỡng bức SbPb;

• Hàn chảy ngược đối lưu khí hồng ngoại hoặc cưỡng bức không chì;

• Hàn sóng kép SnPb;

• Hàn sóng kép không chì.

Điện trở để đốt nóng mối hàn cho kết hợp tất cả các phương pháp hàn phải được thử nghiệm với điều kiện trường hợp xấu nhất từ IEC 60068-2-58, 8.2.1 và IEC 60068-2-58, 8.1.1:

Phương pháp thử nghiệm:	phương pháp bể hàn
Hợp kim hàn:	bất cứ hợp kim SnPb hoặc SnCu hoặc SnAgCu hoặc SnAg
Nhiệt độ bể:	(260 ± 5) °C
Thời gian ngâm:	(10 ± 1) s
Chu kỳ thử nghiệm:	1

Đối với các điện trở, nơi nào quy định kỹ thuật cụ thể liên quan loại trừ rõ ràng hàn sóng, điện trở đốt nóng mối hàn phải được thử nghiệm với điều kiện chảy ngược trường hợp xấu nhất từ IEC 60068-2-58, 8.2.4 và IEC 61760-1, Điều 6.

Phương pháp thử nghiệm:	hàn pha hơi
Hợp kim hàn:	bất cứ hợp kim SnPb hoặc SnCu hoặc SnAgCu hoặc SnAg
Nhiệt độ bể:	(230 ± 5) °C
Thời gian ngâm:	(40 ± 1) s
Chu kỳ thử nghiệm:	3, khoảng thời gian phục hồi giữa hai chu kỳ liên tiếp tối thiểu phải là thời gian cho đến khi các giọt mẫu giảm xuống thấp hơn 50 °C.

Đối với các điện trở, nơi nào quy định kỹ thuật cụ thể liên quan loại trừ rõ ràng việc hàn sóng và hàn chảy ngược pha hơi, điện trở đốt nóng nhiệt hàn phải được thử nghiệm với điều kiện chảy ngược pha không hơi trường hợp xấu nhất từ IEC 60068-2-58, 8.2.4 và IEC 60068-2-58, 8.1.2.2.

Phương pháp thử nghiệm:	hàn đối lưu khí hồng ngoại hoặc cưỡng bức
Đốt nóng trước:	từ 150°C đến 180°C
	đối với (120 ± 5) s
Nhiệt độ đỉnh:	(255 ± 5) °C
Thời gian dừng:	(40 ± 1) s trên 245 °C
	(60 đến 90) s trên 220 °C
Chu kỳ thử nghiệm:	3, khoảng thời gian phục hồi giữa hai chu kỳ liên tiếp tối thiểu phải là thời gian cho đến khi các giọt mẫu giảm xuống thấp hơn 50 °C.

2.3.4. Thử nghiệm cắt (kết dính)

Xem TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), 4.32.2 b), với các chi tiết dưới đây:

Trừ khi có quy định khác trong quy định kỹ thuật cụ thể liên quan, một lực như đưa ra trong Bảng 4 phải được áp dụng trên thân điện trở lắp đặt bề mặt.

Bảng 4 - Lực thử nghiệm kéo

Kiểu		Lực a N
Hình chữ nhật	Hình trụ
RR0603M	-	2
RR1005M	-	3
RR1608M	RC1610M	5
RR2012M	RC2012M RC2211M	9
RR3216M RR3225M	RC3514M	25
RR3245M RR4532M RR5025M RR6332M	-	45
-	RC5922M	90
CHÚ THÍCH: Lực quy định vượt quá kết quả gia tốc 981 m/s2 (100 g), ví dụ xóc hoặc nẩy, dựa trên khối lượng điển hình của điện trở loại tương ứng.
a Dung sai tương đối 0/ +10 % được áp dụng đối với lực thử nghiệm kéo.

2.3.5. Thử nghiệm quá tải xung định kỳ

Xem TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), 4.39, với các chi tiết dưới đây:

Điện áp xung:	Điện áp xung ưu tiên là            (3) nhưng không lớn hơn        (4) trong đó P70 là tiêu hao công suất danh định Rn là điện trở Umax là điện áp thành phần giới hạn.
Khoảng thời gian xung:	1 000 chu kỳ, 0,1 s đóng /2,5 s cắt
Lắp đặt:	Xem 2.4.2. Khoảng cách giữa các điện trở lắp đặt bề mặt riêng phải không nhỏ hơn kích thước điện trở lắp đặt bề mặt lớn nhất. Bảng thử nghiệm phải được lắp đặt theo chiều ngang và phải ở trong không khí tự do tại nhiệt độ môi trường xung quanh giữa 15 °C và 35 °C.

2.3.6. Khả năng chống phóng điện tĩnh (ESD)

TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), 4.38 với các chi tiết dưới đây:

Đếm phóng điện:	Ba lần phóng điện cực dương và ba lần phóng điện cực âm phải được áp dụng. Thay đổi cực tính có thể được thực hiện bằng việc trao đổi các đầu cuối điện trở.
Điện áp áp dụng:	Các giá trị ưu tiên là 300 V; 500 V; 800 V; 1000 V; 1 500 V; 2 000 V; 3 000 V và 4 000 V

Việc phân loại vào trong các loại độ nhạy HBM ESD phải không được áp dụng.

2.3.7. Điện trở dung môi thành phần

Xem TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), 4.29, với các chi tiết dưới đây:

Nhiệt độ dung môi: (23 ± 5) °C (giá trị ưu tiên), hoặc (50) °C.

2.3.8. Điện trở dung môi đánh dấu

Xem TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), 4.30, với chi tiết dưới đây:

Nhiệt độ dung môi: (23 ± 5) °C (giá trị ưu tiên), hoặc (50°_-5) °C.

2.4. Chuẩn bị mẫu

2.4.1. Làm khô

Quy trình I của TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), 4.3 phải được sử dụng.

2.4.2. Lắp đặt các linh kiện

Điện trở lắp đặt bề mặt phải được lắp đặt trên bảng thử nghiệm với một bản mẫu in cơ bản như nêu trong Hình 4 hoặc Hình 6.

Bảng mạch thử nghiệm phải là loại thủy tinh dệt thoi epoxit với độ dày (1,6 ± 0,1) mm, với các dây dẫn làm từ đồng với độ dày danh nghĩa 35 µm. Đối với các loại RR1005M và nhỏ hơn, độ dày bản mạch thay thế (0,8 ± 0,1) mm có thể cho phép. Nếu cần thiết, quy định kỹ thuật cụ thể có thể cung cấp một quy định vật liệu và bản mẫu in cơ bản khác, bao gồm các kích thước bản mẫu in.

Không cho phép diện tích kim loại nào trên mặt đáy và trên bất cứ lớp bên trong nào dưới diện tích đã xác định, trừ một dây dẫn 0,3 mm thẳng đơn cho mỗi kết nối Kelvin.

CHÚ THÍCH 1: Đối với kích thước tham khảo Bảng 5.

CHÚ THÍCH 2: Đối với mẫu có giá trị điện trở danh nghĩa nhỏ hơn 100 mΩ, dây dò nên được gắn vào vùng có thể hàn như Hình 5.

Hình 4 - Bố trí cơ bản cho các thử nghiệm cơ khí, môi trường, điện, đấu nối (4 điểm) kelvin

Hình 5 - Đính kèm dây dò đối với nối (4 điểm) kelvin cho mẫu có điện trở danh nghĩa thấp hơn 100 mΩ

Bảng 5 - Kích thước miếng hàn

Kiểu	X mm	Y mm	G mm	C mm	K mm	P mm	M mm
RR0603M	đang chuẩn bị
RR1005M	0,7	0,6	0,5	0,3	0,15	5,0	M=P
RR1608M	1,0	1,1	0,6	0,5	0,2	5,0
RR2012M, RC2211M	1,5	1,3	0,6	2,0	0,2	5,0
RR3216M, RC3514M	2,0	1,6	1,5	2,0	0,2	5,0
RR3225M	2,9	1,6	1,5	2,0	0,2	10,0
RR3245M	5,0	1,6	1,5	5,0	0,2	10,0
RR4532M	3,6	1,8	2,3	5,0	0,2	10,0
RR5025M, RC5922M	2,9	1,8	2,7	5,0	0,2	10,0
RR0603M	3,6	1,8	3,8	5,0	0,2	10,0
CHÚ THÍCH: Dung sai kích thước:	±0,1 cho loại lớn hơn RR 1608 M ±0,05 cho loại RR 1608 M và nhỏ hơn

Bảng thử nghiệm theo Hình 6 có thể được sử dụng để thử nghiệm loại ổn định trên 0,1, khi giá trị điện trở danh định là 110 Ω hoặc hơn, hoặc đối với thử nghiệm không yêu cầu đo giá trị điện trở.

CHÚ THÍCH: Đối với kích thước tham khảo Bảng 5.

Hình 6 - Bố trí cơ bản cho thử nghiệm cơ khí, môi trường và điện

3. Quy trình đánh giá chất lượng

3.1. Quy định chung

Xem TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), Phụ lục Q.

3.2. Định nghĩa

3.2.1. Giai đoạn đầu của quá trình chế tạo

Đối với các điện trở lắp đặt bề mặt cố định, giai đoạn đầu của quá trình chế tạo là

- đối với các điện trở màng: lắng màng trở trên chất nền;

- đối với các điện trở cuốn dây: việc cuốn dây điện trở hoặc băng trên cuộn;

- đối với các điện trở lá kim loại: việc cố định lá điện trở trên chất nền.

3.2.2. Linh kiện tương tự về cấu trúc

Điện trở lắp đặt bề mặt cố định (SMD) được chấp nhận như tương tự về cấu trúc

a) khi chúng được chế tạo ở một hoặc một số địa điểm chế tạo

- sử dụng cùng nguyên liệu thô xác định, các quy trình sản xuất - và kiểm tra chất lượng và

- dưới cùng đáp ứng của địa điểm chế tạo hàng đầu đối với sản phẩm và chất lượng.

Khi nào có cùng các địa điểm chế tạo, nhà chế tạo phải chỉ định địa điểm chế tạo hàng đầu và đại diện quản lý được chỉ định (DMR) liên quan.

b) khi tất cả địa điểm chế tạo được giám sát bởi cùng cơ quan có thẩm quyền quốc gia (NSI)^[1]. Tốt nhất là NSI của nước đó mà trong đó địa điểm chế tạo hàng đầu được đặt tại,

c) khi chúng có cùng cấp ổn định và loại khí hậu,

d) khi chúng chỉ khác nhau về kích thước và

e) khi chúng có cùng loại đầu cuối tương tự.

Điện trở chỉ khác nhau trong c) có thể được xem xét như tương tự về cấu trúc nếu các yêu cầu khác nhau của loại ổn định và/hoặc hạng mục khí hậu được đánh giá riêng trong các phép đo cuối cùng.

Linh kiện tương tự cấu trúc chỉ phải được sử dụng cho việc đánh giá và quyết định tỷ lệ sai hỏng.

3.2.3. Cấp đánh giá EZ

Cấp đánh giá EZ đạt các yêu cầu của cơ chế phát hiện zero. Nó được đưa ra để sắp xếp các quy trình đánh giá và các cấp với các thực hành công nghiệp hiện hành bởi việc quy định số đối tượng không phù hợp cho phép (số chấp nhận) c là zero.

Do đó kích thước mẫu cho thử nghiệm từng lô được xác định bởi IEC 61193-2, Bảng 2.

Cấp đánh giá EZ phải được áp dụng cho việc đánh giá chất lượng của các điện trở lắp đặt bề mặt cố định trong quy định kỹ thuật cụ thể đề cập đến quy định kỹ thuật từng phần này.

3.3. Hình thành lô kiểm tra

Một lô kiểm tra phải bao gồm các điện trở cùng loại.

Nơi nào một dải các điện trở đủ điều kiện, phân bố giá trị điện trở trong mẫu phải như dưới đây:

- 1/3 với điện trở thấp nhất trong dải đó;

- 1/3 với điện trở tới hạn;

- 1/3 với điện trở cao nhất trong dải đó.

Dải được quy định có thể hoặc không thể là dải đầy đủ bao hàm bởi quy định kỹ thuật cụ thể. Trong trường hợp điện trở tới hạn nằm ngoài dải quy định, các điện trở có một giá trị ở giữa dải (gần số trung bình hình học giữa điện trở thấp nhất và cao nhất, ví dụ 1 kΩ đối với dải 1Ω tới 1 MΩ) phải được sử dụng để thay thế.

Khi sự phê duyệt đang được tìm kiếm cho hơn một hệ số nhiệt độ của điện trở, mẫu phải bao gồm một đại diện mẫu của các hệ số nhiệt độ khác nhau. Nói chung, một hệ số nhiệt độ thấp hơn được xem xét đại diện cho bất cứ hệ số nhiệt độ nào cao hơn. Trong một phương thức tương tự mẫu phải bao gồm một tỷ lệ mẫu của các điện trở khác nhau có dung sai gần nhất đối với phê duyệt nào đang được tìm kiếm. Tỷ lệ mẫu có các đặc tính khác nhau tuân thủ phê duyệt của Thanh tra giám sát quốc gia^[2].

Khi được yêu cầu cho một kiểm tra định kỳ, một lô kiểm tra nên đại diện cho các giới hạn của dải điện trở đã sản xuất trong suốt chu kỳ. Các kiểu có cùng kích thước danh định nhưng đặc tính nhiệt độ của điện trở khác nhau đã sản xuất trong suốt chu kỳ có thể được tổng hợp, ngoại trừ các chức năng của nhóm phụ mà bao gồm một thử nghiệm đối với các đặc tính nhiệt độ của điện trở.

Các giá trị giới hạn thấp và cao, hoặc bất cứ giá trị tới hạn nào của các dải điện trở và đặc tính nhiệt độ của điện trở đối với phê duyệt chất lượng nào được cấp phải được kiểm tra trong suốt chu kỳ được phê duyệt bởi Thanh tra giám sát quốc gia.

Các giá trị thấp phải nằm trong 100 % và 200 % của điện trở phê duyệt thấp nhất hiện tại (hoặc giá trị thấp nhất đã chế tạo trong dải phê duyệt).

Các giá trị tới hạn phải nằm trong 80 % và 100 % giá trị đã tính toán.

Các giá trị cao phải nằm trong 70 % và 100 % điện trở phê duyệt cao nhất hiện tại (hoặc giá trị cao nhất đã sản xuất trong dải phê duyệt).

Các mẫu phải được thu gom qua 13 tuần sau cùng của chu kỳ kiểm tra.

3.4. Phê duyệt chất lượng

3.4.1. Phê duyệt chất lượng trên cơ sở quy trình kích thước mẫu không đổi

Quy trình đối với thử nghiệm phê duyệt chất lượng được đưa ra trong TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), Điều Q.5. Quy trình kích thước mẫu cố định được mô tả trong TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), Q.5.3 b).

Mẫu phải được thiết lập tuân theo 3.3. Kích thước mẫu tổng cộng yêu cầu là tổng của tất cả các kích thước mẫu trong lịch trình thử nghiệm phê duyệt chất lượng của Bảng 6 đã quy định. Mẫu dự trữ được cho phép như dưới đây:

Mỗi điện trở và mỗi hệ số nhiệt độ mà có thể được sử dụng để thay các mẫu bị hỏng do các sự cố không thể quy cho nhà chế tạo.

Khi nhóm bổ sung với các thử nghiệm phá hủy được đưa vào lịch trình thử nghiệm phê chuẩn chất lượng, kích thước mẫu tổng số tăng lên một lượng bằng số mẫu yêu cầu đối với các nhóm bổ sung.

Lịch trình thử nghiệm cho phê duyệt chất lượng của loại điện trở cấp G hoặc P được đưa ra trong Bảng 6. Thử nghiệm của mỗi nhóm phải được thực hiện theo thứ tự nhất định.

Toàn bộ các mẫu nhỏ hơn mẫu yêu cầu của nhóm 4 phải chịu thử nghiệm của nhóm 1 và nhóm 2 và sau đó tách ra đối với nhóm khác. Mẫu tìm thấy không phù hợp trong quá trình thử nghiệm của nhóm 1 hoặc nhóm 2 phải không được sử dụng cho các nhóm khác.

Một sự không phù hợp được tính khi một điện trở không thỏa mãn toàn bộ hoặc một phần của thử nghiệm nhóm.

Chỉ chấp nhận khi số không phù hợp không vượt quá số không phù hợp cho phép được quy định với mỗi nhóm hoặc nhánh cũng như tổng số không phù hợp cho phép.

CHÚ THÍCH: Trong Bảng 6 đưa ra lịch trình thử nghiệm kích thước mẫu cố định được đưa ra. Lịch trình thử nghiệm bao gồm các chi tiết về lấy mẫu và cho phép mẫu không phù hợp để thử nghiệm khác, nhóm thử nghiệm khác nhau và đưa ra cùng với các chi tiết của thử nghiệm có trong IEC 60.115-1, Điều 4 và Điều 2 của quy định kỹ thuật này, một tóm tắt đầy đủ của điều kiện thử nghiệm và yêu cầu tính năng.

Lịch trình thử nghiệm được chỉ định trong Bảng 6 ở đây các thử nghiệm phù hợp với kiểu quy định hoặc mức phân loại sản phẩm quy định. Quy định kỹ thuật cụ thể tương ứng phải thực hiện lựa chọn thích hợp.

Lịch trình thử nghiệm được chỉ ra trong Bảng 6 nơi nào, đối với phương pháp thử, các điều kiện thử nghiệm và/yêu cầu tính năng, một sự lựa chọn phải được thực hiện trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Các điều kiện thử nghiệm và các yêu cầu thực hiện đối với danh mục thử nghiệm cỡ mẫu không đổi phải được mô tả trong quy định kỹ thuật cụ thể để đánh giá sự phù hợp chất lượng.

3.4.2. Phê duyệt chất lượng trên cơ sở lô và thử nghiệm định kỳ

Quy trình thử nghiệm phê duyệt chất lượng được đưa ra trong TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), Điều Q.5. Quy trình đối với thử nghiệm dựa vào lô sản phẩm và thử nghiệm định kỳ được đưa ra trong TCVN 6748-1 (IEC 60115-1), Q.5.3 a).

Lịch trình được sử dụng để chấp thuận chất lượng dựa vào lô sản phẩm và thử nghiệm định kỳ được đưa ra ở 3.5 của quy định này.

3.5. Kiểm tra sự phù hợp chất lượng

Lịch trình cho lô sản phẩm và thử nghiệm định kỳ đối với kiểm tra sự phù hợp chất lượng của điện trở được phân loại là cấp G hoặc P đưa ra ở Bảng 7a và Bảng 7b. Các thử nghiệm của mỗi nhóm phải được thực hiện theo thứ tự nhất định.

Đối với mẫu lắp đặt, bất kỳ mẫu nào tìm thấy lỗi sau khi lắp đặt phải không được tính đến khi tính toán các hạng mục không phù hợp cho phép đối với các thử nghiệm thành công. Chúng phải được thay thế bởi mẫu dự trữ.

3.6. Xuất xưởng chấp nhận công nghệ

Phải áp dụng lịch trình thử nghiệm của Bảng 7a và Bảng 7b.

3.7. Phân phối bị trì hoãn

Áp dụng quy định của TCVN 6768-1 (IEC 60115-1), Điều Q.10, trừ khi mức kiểm tra giảm tới S-2

Bảng 6 - Lịch trình thử nghiệm để chấp nhận chất lượng

Thử nghiệm a	Điều kiện của thử nghiệm	D b hoặc ND	n b		c b	Yêu cầu tính năng b
			Nhóm 1
4.5 Điện trở		ND	…		0	Như trong 4.5.2
			Nhóm 2
4.4.1 Kiểm tra bằng mắt	Ghi nhãn, nếu áp dụng	ND	…		0	Như trong 4.5.2
4.4.2 Kích thước (đo)	Phải sử dụng công cụ thích hợp		(20 mẫu)			Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
			Nhóm 3
4.6 Điện trở cách điện	Xem TCVN 6768-1 (IEC 60115)a, nếu áp dụng	ND	50		0	R ≥ ...GΩ
4.7 Thử điện áp	Xem TCVN 6768-1 (IEC 60151-1) a, 4.6.1.4 hoặc 4.6.1.5, nếu áp dụng Điện áp U = 1,42∙U ins Khoảng thời gian: 1 min					Như trong 4.7.3
4.13 Quá tải thời gian ngắn	Lắp đặt: xem 2.4.2 hoặc không lắp đặt		(20 mẫu)
Chỉ áp dụng với loại điện trở Mức G	Xem 2.3.1 Điện áp:... Kiểu Khoảng thời gian … … … … Kiểm tra bằng mắt Điện trở					Như trong 4.13.3 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
		D	Nhóm 4
			40	0
4.17 Khả năng hàn a với chất hàn SnPb	Xem 2.3.2 Lão hóa 4 h ở 155 °C, nhiệt khô; Hàn SnPb; Phương pháp hàn bể, 235 °C, 2 s Kiểm tra bằng mắt		(nửa số mẫu)			Như trong 4.13.3 ≥ 95 % bề mặt phải được phủ chất hàn mới
4.17 Khả năng hàn với chất hàn không chì e,f	Xem 2.3.2 Lão hóa 4 h ở 155 °C, nhiệt khô; Hàn SnAgCu; phương pháp hàn bể, 235 °C, 3 s Kiểm tra bằng mắt		(nửa số mẫu khác)			Như trong 4.13.3 ≥ 95 % bề mặt phải được phủ chất hàn mới
		D	Nhóm 5
			20	0
4.8 Thay đổi điện trở theo nhiệt độ	Lắp đặt: xem 2.4.2 hoặc không lắp đặt Quy trình đo: 20 °C/LCT/20 °C/UCT/ 20 °C					Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
		D	Nhóm 6
			20	0
4.33 Thử nghiệm uốn vật nền	Lắp đặt: xem 2.4.2 Độ sâu chỗ uốn...mm, ...lần Kiểm tra bằng mắt Điện trở		(nửa số mẫu)			Tính liên tục của điện, không có mạch hở khi bảng ở vị trí uốn cong sau... các lần uốn. Như trong 4.19.3 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
4.19 Thay đổi nhiệt độ đột ngột	Lắp đặt: xem 2.4.2 5 chu kỳ TA = LCT, TB = UCT Kiểm tra bằng mắt Điện trở		(nửa số mẫu khác)			Như trong 4.19.3 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
4.21 Xóc (Chỉ áp dụng với loại khác RR hoặc RC)	Gia tốc:... Khoảng thời gian xung:... Dạng sóng: Nửa sin Mức khắc nghiệt:...xóc liên tục được áp dụng ở một trong ba hướng (tổng...lần) Kiểm tra bằng mắt Điện trở					Như trong 4.19.3 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
4.32 Thử nghiệm kéo (Chỉ áp dụng với loại khác RR hoặc RC)	Lắp đặt: xem 2.4.2 Xem 2.3.4 Kiểu Lực … … … …   Kiểm tra bằng mắt					Như trong 4.32.3
4.23 Trình tự khí hậu - Nóng khô - Nhiệt ẩm, chu kỳ tuần hoàn thứ nhất - Lạnh - Áp suất không khí thấp - Nóng ẩm, chu kỳ chu kỳ còn lại - Tải một chiều         - Phép đo kết thúc	Lắp đặt: Xem 2.4.2   16 h ở UCT 1 chu kỳ ở +55 °C   Lạnh ở LCT 1 h/...kPa; +15 đến +35 °C ...chu kỳ ở +55 °C Điện áp hoặc U = Umax, chọn mức khắc nghiệt hơn; 1 min Kiểm tra bằng mắt Điện trở		(tất cả mẫu)			Như trong 4.19.3 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
			Nhóm 7
4.25.1 Khả năng chịu kéo ở 70 °C	Lắp đặt: Xem 2.4.2 Điện áp: hoặc U = Umax, chọn mức khắc nghiệt hơn; 1,5 h đóng/0,5 h cắt Khoảng thời gian: 1000 h Kiểm tra bằng mắt Điện trở	D	20	0		Như trong 4.19.3 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
4.25.1.8 Độ bền kéo ở 70 °C (Chỉ áp dụng cho loại điện trở Mức P)	Khoảng thời gian kéo đến 8 000 h (xem xét ở 4 000 h) (chỉ cung cấp thông tin) Điện trở					Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
			Nhóm 8
4.24 Nóng ẩm, không đổi	Lắp đặt: Xem 2.4.2 Nhiệt độ: (40 ± 2) °C Rel. Độ ẩm: ((93 ± 3) % Khoảng thời gian:... Kiểm tra bằng mắt Điện trở	D	20	0		Như trong 4.19.3 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
			Nhóm 9
4.18 Khả năng chịu nhiệt hành	Xem 2.3.3 10 s ở 260 °C Kiểm tra bằng mắt Điện trở		20	0		Như trong 4.18.4 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
4.35 Khả năng cháy	Thử nghiệm ngọn lửa hình kim Khoảng thời gian áp dụng (ta): 10 s		(5 mẫu)			Khoảng thời gian cháy cho phép (tb): < 30="">
			Nhóm 10
4.4.3 Kích thước (cụ thể)		D	20	0		Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
4.25.3 Độ bền ở nhiệt độ mức cao	Lắp đặt: xem 2.4.2 hoặc không lắp đặt Khoảng thời gian: 1000 h Kiểm tra bằng mắt Điện trở					Như trong 4.18.4 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
4.14 Nhiệt độ tăng (chỉ áp dụng cho điện trở 0 Ω và điện trở tới hạn)	Lắp đặt: xem 2.4.2		(6 mẫu)			Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
			Nhóm 11
4.38 Khả năng phóng tĩnh điện học	Lắp đặt: xem 2.4.2 hoặc không lắp đặt Đối với điện trở Mức G: Phóng điện 1 cực dương + 1 cực âm. Đối với điện trở Mức P: Phóng điện 3 cực dương + 3 cực âm. Loại Điện áp … … … … Kiểm tra bằng mắt Điện trở	D	20	0		Như trong 4.18.4 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
4.29 Điện trở thành phần dung môi (nếu áp dụng bởi quy định kỹ thuật cụ thể)	Dung môi: Rượu Isopropys Nhiệt độ:... °C Thời gian ngâm: (5 ± 0,5) min Kiểm tra bằng mắt		(một nửa số mẫu)			Như trong 4.4.1
4.30 Điện trở dung môi của ghi nhãn (nếu yêu cầu bởi quy định kỹ thuật chi tiết)	Dung môi: Rượu Isopropys Nhiệt độ:... °C Thời gian ngâm: (5 ± 0,5) min Vật liệu chà xát... Kiểm tra bằng mắt		(một nửa số mẫu)			Như trong 4.4.1
			Nhóm 12
4.22 Rung (Chỉ áp dụng với loại điện trở Mức P)	Lắp đặt: xem 2.4.2 Độ bền quét Lắp đặt mẫu sao cho không phơi nhiễm cộng hưởng. Dải tần số: ... Biên độ: ... Chu kỳ quét của mỗi trục. Kiểm tra bằng mắt Kiểm tra bằng mắt Điện trở	D	20	0		Như trong 4.18.4 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
4.39 Thử nghiệm điện áp xung định kỳ (Chỉ áp dụng với loại điện trở Mức P)	Lắp đặt: Xem 2.4.2 Điện áp: hoặc U = Umax, chọn mức khắc nghiệt hơn; 0,1 h đóng/2,5 h cắt Khoảng thời gian: 1000 h Kiểm tra bằng mắt Điện trở					Như trong 4.18.4 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
			Nhóm 13
4.19 Thay đổi nhiệt độ đột ngột ≥ 100 chu kỳ (chỉ áp dụng cho loại điện trở Mức P)	Lắp đặt: xem 2.4.2 hoặc không lắp đặt TA = LCT, TE = UCT Loại Chu kỳ … … … …   Kiểm tra bằng mắt Điện trở	D	20	0		Như trong 4.18.4 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
			Nhóm 14
4.27 Thử nghiệm quá tải điện áp cao xung đơn (chỉ áp dụng cho loại điện trở Mức P)	Lắp đặt: xem 2.4.2 hoặc không lắp đặt Mức khắc nghiệt No. ... (10/100) Kiểm tra bằng mắt Điện trở	D	20	0		Như trong 4.18.4 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
a Số Điều theo TCVN 6768-1 (IEC 60115-1) b Tham khảo Điều B.2 đối với danh sách viết tắt. c Kiểm tra này được thực hiện sau khi loại bỏ các mục không phù hợp bằng 100% thử nghiệm trong quá trình sản xuất. Cho dù lô đã được chấp nhận hoặc không, tất cả các mẫu dành cho việc kiểm tra mẫu phải được kiểm tra để theo dõi mức độ chất lượng đầu ra bằng số hạng trên một triệu (ppm). Mức lấy mẫu phải được thiết lập bởi nhà chế tạo, tốt nhất theo tiêu chuẩn IEC 61193-2, Phụ lục A. Trong trường hợp một hoặc nhiều mục không phù hợp xảy ra trong một mẫu, lô này phải loại bỏ nhưng tất cả các mục không phù hợp được tính để tính giá trị mức độ chất lượng. Mức chất lượng đầu ra bằng giá trị số hạng trên một triệu (ppm) phải được tính bằng cách tích lũy số liệu kiểm tra theo phương pháp được đưa ra trong IEC 61193-2, 6.2. d Thử nghiệm này có thể được thay thế bằng thử nghiệm trong sản xuất nếu nhà chế tạo cài đặt SPC trên các phép đo kích thước hoặc các cơ chế khác để tránh phần vượt quá giới hạn kích thước. e Điện trở xem xét thử nghiệm này phải không được đo trong nhóm 1, 2, 3, A1, A2 hoặc B1 và không bao gồm số lượng các mẫu trong nhóm 1 hoặc 2. f Thử nghiệm không áp dụng nếu quy định chi tiết liên quan rõ ràng ngoại trừ khả năng tương thích với hàn không chì. g Tất cả thử nghiệm của nhóm phụ phải được lặp lại nếu một hoặc nhiều mục không phù hợp thu được. Không có hạng mục không phù hợp được phép trong các thử nghiệm lặp lại. Sản phẩm đưa ra có thể tiếp tục trong thời gian thử nghiệm lặp lại. h Điều kiện của thử nghiệm này có thể được thay thế bằng một sự lựa chọn có liên quan từ 2.3.3.

Bảng 7a - Lịch trình thử nghiệm đối với kiểm tra sự phù hợp: Thử nghiệm lô

Thử nghiệm a	Điều kiện của thử nghiệm	D b hoặc ND	IL b		C b	Yêu cầu tính năng a
			Nhóm A1
4.5 Điện trở c		ND	100 % (Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể).			Như trong 4.5.2
			Nhóm A2
4.4.1 Kiểm tra bằng mắt d	Ghi nhãn, nếu áp dụng	ND	S-4		0	Như trong 4.4.1
4.4.2 Kích thước (đo)	Phải sử dụng công cụ thích hợp					Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
			Nhóm B1
4.7 Thử điện áp	Xem TCVN 6748 (IEC 60151-1) a, 4.6.1.4 hoặc 4.6.1.5, nếu áp dụng Điện áp: U = 1,42∙U ins Khoảng thời gian: 1 min		S-3		0	Như trong 4.7.3
4.13 Quá tải thời gian ngắn (Chỉ áp dụng với loại điện trở Mức G)	Lắp đặt: xem 2.4.2 hoặc không lắp đặt Xem 2.3.1 Điện áp:... Kiểu Khoảng thời gian … … … … Kiểm tra bằng mắt Điện trở	D				Như trong 4.13.3 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
			Nhóm B2
		D		0
4.17 Khả năng hàn a với chất hàn SnPb	Xem 2.3.2 Lão hóa 4 h ở 155 °C, nhiệt khô; Hàn SnPb; Phương pháp hàn bể, 235 °C, 2 s Kiểm tra bằng mắt		S-3			Như trong 4.17.3 ≥ 95 % bề mặt phải được phủ chất hàn mới
4.17 Khả năng hàn với chất hàn không chì e,f	Xem 2.3.2 Lão hóa 4 h ở 155 °C. nhiệt khô; Hàn SnAgCu; phương pháp hàn bể, 235 °C, 3 s Kiểm tra bằng mắt		S-3			Như trong 4.17.3 ≥ 95 % bề mặt phải được phủ chất hàn mới
			Nhóm B3
		D	S-3	0
4.8 Thay đổi điện trở có nhiệt độ thay đổi (áp dụng chỉ với điện trở có hệ số nhiệt lớn hơn ±50∙10-6/K	Lắp đặt: xem 2.4.2 hoặc không lắp đặt Quy trình đo: 20 °C/LCT/20 °C/UCT/ 20 °C					Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
CHÚ THÍCH: Các chú thích trong bảng này được cho ở cuối Bảng 6.

Bảng 7b - Lịch trình thử nghiệm đối với kiểm tra sự phù hợp: Thử nghiệm định kỳ

Thử nghiệm a	Điều kiện của thử nghiệm	D b hoặc ND	p b	n c	c b	Yêu cầu tính năng b
			Nhóm C1 g
		D	3	20	0
4.33 Thử nghiệm uốn bề mặt	Lắp đặt: xem 2.4.2 Độ sâu chỗ uốn...mm, ...số lần Kiểm tra bằng mắt Điện trở			(nửa số mẫu)		Tính liên tục của điện, không có mạch hở khi bảng ở vị trí uốn cong...chỗ uốn Như trong 4.33.4 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
4.19 Thay đổi nhiệt độ đột ngột	Lắp đặt: xem 2.4.2 5 chu kỳ TA = LCT, TB = UCT Kiểm tra bằng mắt Điện trở			(nửa số mẫu khác)		Như trong 4.19.3 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
4.21 Xóc (Chỉ áp dụng với loại khác RR hoặc RC)	Gia tốc:... Khoảng thời gian xung:... Dạng sóng: Nửa sin Mức khắc nghiệt:...xóc liên tục được áp dụng ở một trong ba hướng (tổng...xóc) Kiểm tra bằng mắt Điện trở					Như trong 4.21.5 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
4.22 Rung (Chỉ áp dụng với loại khác RR hoặc RC, loại Mức P)	Lắp đặt: xem 2.4.2 Độ bền quét Lắp đặt mẫu một sao cho không phơi nhiễm cộng hưởng. Dải tần số:... Biên độ:... ...chu kỳ quét của mỗi trục. Kiểm tra bằng mắt Điện trở					Như trong 4.22.4 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
4.32 Thử nghiệm kéo (Chỉ áp dụng với loại RR hoặc RC)	Lắp đặt: xem 2.4.2 Xem 2.3.4 Kiểu Lực … … … … Kiểm tra bằng mắt					Như trong 4.32.3
4.23 Trình tự khí hậu - Nóng khô - Nhiệt ẩm, chu kỳ chu kỳ đầu - Lạnh - Áp suất không khí thấp - Nóng ẩm, chu kỳ - Các chu kỳ còn lại - Tải một chiều         - Phép đo kết thúc	Lắp đặt: Xem 2.4.2   16 h ở UCT 1 chu kỳ ở +55 °C   2 h ở LCT 1 h/...kPa ở +15 đến +35 °C ...chu kỳ ở +55 °C     Điện áp: hoặc U = Umax chọn mức khắc nghiệt hơn, 1 min Kiểm tra bằng mắt Điện trở					Như trong 4.23.8 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
			Nhóm C2 g
		D	3	20	0
4.25.1 Khả năng chịu kéo ở 70 °C	Lắp đặt: Xem 2.4.2 Điện áp: hoặc U = Umax, chọn mức khắc nghiệt hơn; 1,5 h đóng/0,5 h cắt Khoảng thời gian: 1000 h Kiểm tra bằng mắt Điện trở					Như trong 4.25.1.7 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
4.25.1.8 Độ bền kéo ở 70 °C (Chỉ áp dụng cho loại điện trở Mức P)	Khoảng thời gian kéo đến 8 000 h (xem xét ở 4 000 h (chỉ cung cấp thông tin) Điện trở		12			Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
			Nhóm C3 g
4.18 Khả năng chịu nhiệt hàn h	Xem 2.3.3 10 s ở 260°C Kiểm tra bằng mắt Điện trở	D	3	20	0	Như trong 4.18.4 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
4.35 Khả năng cháy	Thử nghiệm ngọn lửa hình kim Khoảng thời gian áp dụng (ta): 10s		36	(5 mẫu)		Khoảng thời gian giới hạn cháy (tb):< 30="">
			Nhóm D1 g
4.8 Thay đổi điện trở theo nhiệt độ (áp dụng chỉ với điện trở có hệ số nhiệt lớn hơn ±50∙10-6/K)	Lắp đặt: xem 2.4.2 hoặc không lắp đặt Quy trình đo: 20 °C / LCT/ 20 °C / UCT /20 °C	D	12	20	0	Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể
			Nhóm D2 g
4.24 Nhiệt ẩm, trạng thái ổn định	Lắp đặt: Xem 2.4.2 Nhiệt độ: (40 ± 2) °C Rel. Độ ẩm: ((93 ± 3) % Khoảng thời gian:... Kiểm tra bằng mắt Điện trở	D	12	20	0	Như trong 2.24.4 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
			Nhóm D3 g
4.4.3 Kích thước (cụ thể)		D	36	20	0	Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
4.25.3 Độ bền ở nhiệt độ mức cao	Lắp đặt: xem 2.4.2 hoặc không lắp đặt Khoảng thời gian: 1000 h Kiểm tra bằng mắt Điện trở					Như trong 4.25.3.7 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
4.14 Nhiệt độ tăng (chỉ áp dụng cho điện trở 0 Ω và điện trở tới hạn)	Lắp đặt: xem 2.4.2			(6 mẫu)		Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
			Nhóm E g
4.38 Khả năng phóng tĩnh điện học	Lắp đặt: Xem 2.4.2 hoặc không lắp đặt Đối với điện trở Mức G: Phóng điện 1 cực dương + 1 cực âm. Đối với điện trở Mức P: Phóng điện 3 cực dương + 3 cực âm Loại Điện áp … … … … Kiểm tra bằng mắt Điện trở	D	12	20	0	Như trong 4.38.4 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
4.29 Điện trở thành phần dung môi (nếu áp dụng bởi quy định kỹ thuật cụ thể)	Dung môi: Rượu Isopropys Nhiệt độ: ... °C Thời gian ngâm: (5 ± 0,5) min Kiểm tra bằng mắt			(nửa số mẫu)		Như trong 4.4.1
4.30 Điện trở dung môi ghi nhãn (nếu yêu cầu bởi quy định kỹ thuật chi tiết)	Dung môi: Rượu Isopropys Nhiệt độ: ... °C Thời gian ngâm: (5 ± 0,5) min Vật liệu chà xát:... Kiểm tra bằng mắt			(nửa số mẫu)		Như trong 4.4.1
			Nhóm F g
4.19 Thay đổi nhiệt độ đột ngột ≥100 chu kỳ (chỉ áp dụng cho loại điện trở Mức P)	Lắp đặt: xem 2.4.2 hoặc không lắp đặt TA = LCT, TB = UCT Loại Chu kỳ … … … … Kiểm tra bằng mắt Điện trở	D	36	20	0	Như trong 4.19.3 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
			Nhóm Gg
4.27 Thử nghiệm quá tải điện áp cao xung đơn (chỉ áp dụng cho loại điện trở Mức P)	Lắp đặt: xem 2.4.2 hoặc không lắp đặt Mức khắc nghiệt No. ... (10/100) Kiểm tra bằng mắt Điện trở					Như trong 4.19.3 Như quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.
CHÚ THÍCH: Các chú thích trong bảng này được cho ở cuối Bảng 6.

 

Phụ lục A

(tham khảo)

Các điện trở 0 Ω (cầu nối)

A.1 Thông tin quy định trong quy định kỹ thuật chi tiết

Đối với các điện trở 0 Ω, tất cả các Điều 1.4 của quy định kỹ thuật từng phần này áp dụng với các sửa đổi sau đây.

1.4.7 Hệ số nhiệt độ của điện trở không thể áp dụng cho các điện trở 0 Ω.

1.4.9 Điện áp thành phần giới hạn được thay bởi dòng điện lớn nhất /_max.

A.2 Đặc tính ưu tiên

Đối với các điện trở 0 Ω, tất cả các Điều 2.1 của quy định kỹ thuật từng phần này áp dụng với các sửa đổi dưới đây.

2.1.3 Biến đổi điện trở với nhiệt độ không thể áp dụng cho các điện trở 0 Ω.

2.1.4 Các giới hạn thay đổi điện trở được giảm tới phù hợp với điện trở thặng dư lớn nhất cho phép

R_{res max} đối với mỗi thử nghiệm.

A.3 Thông số ưu tiên

Đối với các điện trở 0 Ω, tất cả các Điều 2.2 của quy định kỹ thuật từng phần này áp dụng với các sửa đổi dưới đây.

2.2.1 Điện trở danh nghĩa đối với các điện trở 0 Ω là 0 Ω.

2.2.2 Dung sai điện trở đối với các điện trở 0 Ω được giảm tới điện trở thặng dư lớn nhất R_{res max}, được chọn từ các giá trị ưu tiên: 10 mΩ; 20 mΩ và 50 mΩ.

2.2.4. Điện áp thành phần giới hạn U_max không thể áp dụng cho các điện trở 0 Ω, dòng lớn nhất l_max phải được sử dụng để thay thế.

A.4 Mức khắc nghiệt ưu tiên

Đối với các điện trở 0 Ω, tất cả Điều 2.3 của quy định kỹ thuật từng phần này áp dụng với các sửa đổi dưới đây.

2.3.1. Quá tải:

Điện áp cung cấp quy định không thể áp dụng cho các điện trở 0 Ω. Thay vào đó xác định dưới đây phải được sử dụng:

Dòng điện áp dụng: Quy định kỹ thuật chi tiết phải nêu dòng điện áp dụng. Giá trị ưu tiên là

l = 2,5 l_max         (5)

trong đó

l_max là dòng cho phép lớn nhất

A.5 Lịch trình thử nghiệm đối với phê duyệt chất lượng

Đối với phê duyệt chất lượng các điện trở 0 Ω, lịch trình thử nghiệm Bảng 8 áp dụng với các sửa đổi sau đây:

Dòng điện lớn nhất l_max phải được sử dụng trong đó điện áp danh định U_r hoặc  được yêu cầu trong cột Điều kiện thử nghiệm.

Các tham số điện trở yêu cầu trong cột Yêu cầu tính năng được giảm tới phù hợp với điện trở thặng dư lớn nhất cho phép R_{res max}.

Các thử nghiệm sau đây không thể áp dụng cho các điện trở 0 Ω:

4.8 Biến đổi điện trở theo nhiệt độ.

4.27 Thử nghiệm quá tải điện áp cao xung đơn.

4.38 Phóng tĩnh điện, kiểu thân người.

A.6 Lịch trình thử nghiệm đối với kiểm tra sự phù hợp chất lượng

Đối với kiểm tra phù hợp chất lượng các điện trở 0 Ω, lịch trình thử nghiệm đối với kiểm tra từng lô của Bảng 7a và đối với các kiểm tra định kỳ Bảng 7b áp dụng với các sửa đổi sau đây:

Dòng điện lớn nhất l_max phải được sử dụng trong đó điện áp danh định U_r hoặc  được yêu cầu trong cột Điều kiện của thử nghiệm.

Các tham số điện trở yêu cầu trong cột Yêu cầu tính năng được giảm tới phù hợp với điện trở thặng dư lớn nhất cho phép R_{res max}.

Các thử nghiệm sau đây không thể áp dụng cho các điện trở 0 Ω:

4.8 Biến đổi điện trở theo nhiệt độ.

4.27 Thử nghiệm quá tải điện áp cao xung đơn

4.38 Phóng tĩnh điện, kiểu thân người

 

Phụ lục B

(tham khảo)

Các ký hiệu bằng chữ và các từ ngữ viết tắt

B.1	Các ký hiệu bằng chữ
L	Chiều dài, đo dọc theo trục từ đầu này tới đầu kia	mm
D	Đường kính	mm
lmax	Dòng cho phép lớn nhất	A
P70	Tiêu hao công suất danh định ở nhiệt độ xung quanh 70 °C	W
R	Giá trị điện trở thực tế	Ω
Rins	Điện trở cách điện	Ω
Rn	Giá trị điện trở danh nghĩa	Ω
Rres	Điện trở thặng dư	Ω
Rres max	Điện trở thặng dư cho phép lớn nhất	Ω
∆R	Thay đổi của điện trở	Ω
∆R/R	Thay đổi của điện trở liên quan tới phép đo trước	%
U	Điện áp, ví dụ điện áp thử nghiệm	V
Uins	Điện áp cách điện	V
Umax	Điện áp thành phần giới hạn, điện áp cho phép lớn nhất	V
Ur	Điện áp danh định,	V
ta	Khoảng thời gian áp dụng một ngọn lửa thử nghiệm	s
tb	Khoảng thời gian đốt cháy sau khi loại bỏ ngọn lửa thử nghiệm	s
T	Chiều cao (độ dày)	mm
TA	Nhiệt độ thấp của một thay đổi thử nghiệm nhiệt độ	°C
TB	Nhiệt độ cao của một thay đổi thử nghiệm nhiệt độ	°C
W	Chiều rộng	mm

B.2 Các từ ngữ viết tắt

c	Số lượng chấp nhận (số lượng cho phép các hạng mục không phù hợp)
D	Phá hủy
DMR	Đại diện quản lý được chỉ định (người quản lý hệ thống chất lượng)
ESD	Phóng tĩnh điện
HBM	Kiểu thân người, diễn tả điện dung và điện trở của thân người đối với thử nghiệm ESD
IL	Mức kiểm tra
LCT	Nhiệt độ mức thấp
n	Kích thước mẫu
ND	Không phá hủy
NSI[3]	Thanh tra giám sát quốc gia
p	Định kỳ, hàng tháng
RC	Chỉ định kiểu điện trở, hình trụ, thường sử dụng cho các điện trở màng
RR	Chỉ định kiểu điện trở, hình chữ nhật, thường sử dụng cho các điện trở màng
SPC	Kiểm soát quy trình thống kê
TA	Phê duyệt công nghệ
TADD	Văn bản kê khai phê duyệt công nghệ
TAS	Lịch trình phê duyệt công nghệ
TC	Hệ số nhiệt độ (không quy định cho điện trở)
TCR	Hệ số nhiệt độ điện trở
UCT	Nhiệt độ mức cao

 

THƯ MỤC TÀI LIỆU THAM KHẢO

[1] IEC 60027-1, Letter symbols to be used in electrical technology - Part 1: General (Các ký hiệu sử dụng trong công nghệ điện - Phần 1: Tổng quan)

[2] IEC 60060-1:1989, High-voltage test techniques - Part 1: General definitions and test requirements (Kỹ thuật thử nghiệm cao áp - Phần 1: Định nghĩa chung và các yêu cầu thử nghiệm)

[3] IEC 60063:1963, IEC 60063:1963, Preferred number series for resistors and capacitors (Dãy số ưu tiên đối với các điện trở và tụ điện), Amendment 1 (1967), Amendment 2 (1977)

[4] TCVN 7699-2-1:2007 (IEC 60068-2-1:2007), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-1: Các thử nghiệm - Thử nghiệm A: Lạnh

[5] TCVN 7699-2-2:2011 (IEC 60068-2-2:2007), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-2: Các thử nghiệm - Thử nghiệm B: Nóng khô

[6] TCVN 7699-2-6:2007 (IEC 60068-2-6:2007), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-6: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Fc: Rung (hình sin)

[7] TCVN 7699-2-13:2007 (IEC 60068-2-13:1983), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-13: Các thử nghiệm - Thử nghiệm M: Áp suất không khí thấp

[8] TCVN 7699-2-14:2007 (IEC 60068-2-14:1984), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-14: Các thử nghiệm - Thử nghiệm N: Thay đổi nhiệt độ

Sửa đổi 1 (1986)

[9] IEC 60068-2-20:2008, Environmental testing - Part 2-20: Tests - Test T: Test methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads (Thử nghiệm môi trường - Phần 2-20: Các thử nghiệm - Thử nghiệm T: Các phương pháp thử nghiệm đối với tính hàn và điện trở đốt nóng hàn của các thiết bị có các dây dẫn)

[10] IEC 60068-2-21:2006, Environment testing - Part 2-21: Tests - Test U: Robustness of terminations and integral mounting devices (Thử nghiệm môi trường - Phần 2-21: Các thử nghiệm - Thử nghiệm U: Độ bền của các đầu cuối và thiết bị lắp đặt thích hợp)

[11] TCVN 7699-2-30:2007 (IEC 60068-2-30:2005), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-30: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Db: Nóng ẩm, chu kỳ (chu kỳ 12 h + 12 h)

[12] TCVN 7699-2-45:2007 (IEC 60068-2-45:1980), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-45: Các thử nghiệm - Thử nghiệm XA và hướng dẫn: Ngâm trong các dung môi sạch

Sửa đổi 1 (1993)

[13] TCVN 7699-2-78:2007 (IEC 60068-2-78:2001), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-78: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Cab: Nóng ẩm, trạng thái ổn định

[14] IEC 60195:1965, Method of measurement of current noise generated in fixed resistors (Phương pháp đo nhiễu dòng tạo ra trong các điện trở cố định)

[15] IEC 60286-3:2007, Parkaging of components for automatic handling - Part 3: Packaging of surface mount components on continuous tapes (Đóng gói các linh kiện để xử lý tự động - Phần 3: Đóng gói các linh kiện lắp đặt bề mặt trên các băng liên tục).

[16] IEC 60410:1973, Sampling plans and procedures for inspection by attributes (Kế hoạch và quy trình lấy mẫu để kiểm tra thuộc tính)

[17] IEC/TR 60440:1973, Method of measurement of non-linearity in resistors (Phương pháp đo phi tuyến tính trong các điện trở)

[18] TCVN 9900-11-5:2013 (IEC 60695-11-5:2004), Thử nghiệm nguy cơ cháy - Phần 11-5: Ngọn lửa thử nghiệm - Phương pháp thử nghiệm ngọn lửa hình kim - Thiết bị, bố trí thử nghiệm chấp nhận và hướng dẫn)

[19] IECQ 01, IEC Quanlity Assessment System for Electronic Components (IECQ Scheme) - Basic Rules (Hệ thống đánh giá chất lượng IEC đối với các linh kiện điện tử (sơ đồ IECQ) - Các quy tắc cơ bản)

[20] IECQ 001002-3, IEC Quanlity Assessment System for Electronic Components (IECQ) - Rules of procedure - Part 3: Aprroval procedures (Hệ thống đánh giá chất lượng IEC đối với các linh kiện điện tử (IECQ) - Các quy tắc của quy trình - Phần 3: Các quy trình phê duyệt)

[21] ISO 1000:1992, SI units and recommendations for the use of their multiples and of certain other units (Các đơn vị SI và các khuyến nghị cho việc sử dụng các bội số của chúng và các đơn vị khác hiện hành).

 

MỤC LỤC

Lời nói đầu

1. Quy định chung

1.1. Phạm vi áp dụng

1.2. Mục đích

1.3. Tài liệu viện dẫn

1.4. Thông tin quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể

1.5. Phân loại sản phẩm

2. Các đặc tính, thông số và mức khắc nghiệt ưu tiên

2.1. Các đặc tính ưu tiên

2.2. Các giá trị thông số ưu tiên

2.3. Mức khắc nghiệt thử nghiệm ưu tiên

2.4. Chuẩn bị mẫu

3. Quy trình đánh giá chất lượng

3.1. Quy định chung

3.2. Định nghĩa

3.3. Hình thành lô kiểm tra

3.4. Phê duyệt chất lượng

3.5. Kiểm tra sự phù hợp chất lượng

3.6. Xuất xưởng chấp nhận công nghệ

3.7. Phân phối bị trì hoãn

Phụ lục A (tham khảo) - Các điện trở 0 Ω (cầu nối)

Phụ lục B (tham khảo) - Các ký hiệu bằng chữ và các từ ngữ viết tắt

Thư mục tài liệu tham khảo