Tiêu chuẩn TCVN 14474:2025 Đánh giá pin để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA

TCVN 14474:2025

ANSI/CAN/UL 1974:2023

ĐÁNH GIÁ PIN ĐỂ CHUYỂN ĐỔI MỤC ĐÍCH SỬ DỤNG HOẶC CHẾ TẠO LẠI

Evaluation for repurposing or remanufacturing batteries

Lời nói đầu

TCVN 14474:2025 hoàn toàn tương đương với ANSI/CAN/UL 1974:2023;

TCVN 14474:2025 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn quốc gia TCVN/TC/E18 Pin và acquy biên soạn, Viện Tiêu chuẩn Chất lượng Việt Nam đề nghị, Ủy ban Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng Quốc gia thẩm định, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

 

Đánh giá pin đề chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại

Evaluation for repurposing or remanufacturing batteries

MỤC I - GIỚI THIỆU

1 Phạm vi áp dụng

1.1 Tiêu chuẩn này quy định quá trình phân loại và phân cấp các gói pin, môđun pin và cell pin và các tụ điện hoá mà ban đầu được cấu hình và sử dụng cho các mục đích khác, như truyền động cho xe điện, và được thiết kế cho ứng dụng sử dụng các pin được chuyển đổi mục đích sử dụng, ví dụ như trong các hệ thống lưu trữ năng lượng và các ứng dụng khác đối với các gói pin, môđun pin và cell pin và các tụ điện hoá.

1.2 Tiêu chuẩn này cũng đưa ra các yêu cầu cụ thể về ứng dụng đối với các gói pin/hệ thống pin được chuyển đổi mục đích sử dụng và các gói pin/hệ thống pin sử dụng các môđun, cell và các thành phần khác được chuyển đổi mục đích sử dụng.

1.3 Tiêu chuẩn này cũng quy định quá trình phân loại và phân cấp các pin được chế tạo lại, ổn định lại hoặc cấu trúc lại mà trước đó có thể chưa được đánh giá theo tiêu chuẩn về an toàn, ví dụ các pin xe điện (EV) được chế tạo lại bởi OEM được thiết kế để sử dụng trong cùng ứng dụng EV hoặc trong ứng dụng EV tương tự.

1.4 Tiêu chuẩn này không đề cập đến việc sửa chữa hoặc thay thế hậu mãi các pin OEM bởi các tổ chức khác OEM hoặc bởi đại lý được OEM chỉ định.

2 Bộ phận hợp thành

2.1 Các bộ phận hợp thành của sản phẩm thuộc phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn này phải

a) Phù hợp với các yêu cầu đối với bộ phận hợp thành đó như quy định trong tiêu chuẩn này;

b) Được sử dụng theo (các) tham số đặc trưng của bộ phận hợp thành được thiết lập cho điều kiện sử dụng dự kiến; và

c) Được sử dụng trong phạm vi các giới hạn sử dụng được thiết lập hoặc các điều kiện chấp nhận được.

CHÚ THÍCH: Điều 4 đưa ra các tiêu chuẩn bộ phận hợp thành mà có thể được sử dụng trong các sản phẩm thuộc phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn này.

2.2 Bộ phận hợp thành của sản phẩm thuộc phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn này không cần đáp ứng yêu cầu bộ phận hợp thành cụ thể khi

a) liên quan đến một đặc trưng hoặc đặc tính không được yêu cầu trong ứng dụng của bộ phận hợp thành đó trong sản phẩm;

b) được thay bởi một yêu cầu trong tiêu chuẩn này;

c) được khảo sát riêng khi tạo thành một bộ phận hợp thành khác, với điều kiện bộ phận hợp thành được sử dụng trong phạm vi tham số đặc trưng và giới hạn đã được thiết lập.

2.3 Các bộ phận hợp thành cụ thể là chưa hoàn thiện về các đặc trưng kết cấu hoặc bị hạn chế về khả năng làm việc. Các bộ phận hợp thành này được thiết kế chỉ để sử dụng trong các điều kiện giới hạn, ví dụ nhiệt độ nhất định không vượt quá các giới hạn quy định, và chỉ được sử dụng trong các điều kiện cụ thể này.

2.4 Bộ phận hợp thành cũng được thiết kế để thực hiện các chức năng khác ví dụ như bảo vệ quá dòng, ngắt mạch điện có sự cố chạm đất, triệt tiêu đột biến, và chức năng tương tự bất kỳ khác, hoặc kết hợp giữa các chức năng này, phải phù hợp thêm với (các) tiêu chuẩn có thể áp dụng cho các thiết bị cung cấp các chức năng này.

3 Đơn vị đo

3.1 Các giá trị không có ngoặc đơn là các yêu cầu. Các giá trị có ngoặc đơn là các thông tin giải thích hoặc thông tin xấp xỉ.

4 Tài liệu viện dẫn

Các tài liệu viện dẫn sau đây là cần thiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm công bố thì áp dụng bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản mới nhất, bao gồm cả các sửa đổi.

TCVN 12240 (IEC 62281), An toàn của pin và acquy lithium sơ cấp và thứ cấp trong quá trình vận chuyển

TCVN 12241-3 (IEC 62660-3), Pin lithium-ion thứ cấp dùng để truyền lực cho phương tiện giao thông đường bộ chạy điện - Phần 3: Yêu cầu an toàn

TCVN 14473 (UL 1973), Pin sử dụng cho các ứng dụng cấp điện phụ trợ tĩnh tại và chuyển động

CSA C22.2 No. 62133-1, Secondary cells and batteries containing alkaline or other non-acid electrolytes - Safety requirements for portable sealed secondary cells, and for batteries made from them, for use in portable applications - Part 1: Nickel systems (Ngăn và pin/acquy thứ cấp chứa alkan hoặc chất điện phân không axit khác - Yêu cầu về an toàn đối với ngăn thứ cấp gắn kín xách tay và pin/acquy được chế tạo từ các ngăn này để sử dụng cho ứng dụng xách tay - Phần 1: Hệ thống pin/acquy niken)

CSA C22.2 No. 62133-2 ^[1] , Secondary cells and batteries containing alkaline or other non-acid electrolytes - Safety requirements for portable sealed secondary cells, and for batteries made from them, for use in portable applications - Part 2: Lithium systems (Ngăn và pin/acquy thứ cấp chứa alkan hoặc chất điện phân không axit khác - Yêu cầu về an toàn đối với ngăn thứ cấp gắn kín xách tay và pin/acquy được chế tạo từ các ngăn này để sử dụng cho ứng dụng xách tay - Phần 2: Hệ thống pin/acquy lithium)

IEC 61982-4, Secondary batteries (except lithium) for the propulsion of electric road vehicles - Part 4: Safety requirements of nickel-metal hydride cells and modules (Pin thứ cấp (trừ lithium) dùng cho truyền động của phương tiện giao thông đường bộ - Phần 4: Yêu cầu an toàn của cell và môđun hydrua kim loại niken)

IEC 62619, Secondary cells and batteries containing alkaline or other non-acid electrolytes - Safety requirements for secondary lithium cells and batteries, for use in industrial applications (Cell và pin/acquy thứ cấp chứa chất điện phân kiềm hoặc không axit khác - Yêu cầu an toàn đối với cell và pin lithium thứ cấp, để sử dụng trong các ứng dụng công nghiệp)

IEEE 1625, Rechargeable Batteries for Multi-Cell Mobile Computing Devices (Pin sạc cho thiết bị máy tính di động đa cell)

IEEE 1725, Rechargeable Batteries for Mobile Phones (Pin sạc cho điện thoại di động)

SAE J2464, Electric and Hybrid Electric Vehicle Rechargeable Energy Storage System (RESS) Safety and Abuse Testing (Kiểm tra an toàn và làm việc quá mức của hệ thống lưu trữ năng lượng có thể sạc lại cho xe điện và xe hybrid (RESS))

SAE J2950, Recommended Practices for Shipping Transport and Handling of Automotive-Type Battery System - Lithium Ion (Các biện pháp thực hành được khuyến nghị khi vận chuyển và xử lý hệ thống pin ô tô - Lithium Ion)

UL 810A, Electrochemical Capacitors (Tụ điện hóa)

UL 1642, Lithium Batteries (Pin lithium)

UL 2054, Household and Commercial Batteries (Pin dùng trong gia đình và thương mại)

UL/ULC 2271, Batteries for Use In Light Electric Vehicle (LEV) Applications (Pin sử dụng trong các ứng dụng xe điện nhẹ (LEV))

UL/ULC 2580, Batteries for Use In Electric Vehicles (Pin sử dụng trong xe điện)

UL 62133-1, Secondary Cells and Batteries Containing Alkaline or Other Non-Acid Electrolytes - Safety Requirements for Portable Sealed Secondary Cells, and for Batteries Made from Them, for Use in Portable Applications - Part 1: Nickel Systems (Ngăn và pin/acquy thứ cấp chứa alkan hoặc chất điện phân không axit khác - Yêu cầu về an toàn đối với ngăn thứ cấp gắn kín xách tay và pin/acquy được chế tạo từ các ngăn này để sử dụng cho ứng dụng xách tay - Phần 1: Hệ thống pin/acquy niken)

UL 62133-2, Secondary Cells and Batteries Containing Alkaline or Other Non-Acid Electrolytes - Safety Requirements for Portable Sealed Secondary Cells, and for Batteries Made from Them, for Use in Portable Applications - Part 2: Lithium Systems (Ngăn và pin/acquy thứ cấp chứa alkan hoặc chất điện phân không axit khác - Yêu cầu về an toàn đối với ngăn thứ cấp gắn kín xách tay và pin/acquy được chế tạo từ các ngăn này để sử dụng cho ứng dụng xách tay - Phần 2: Hệ thống pin/acquy lithium)

5 Thuật ngữ và định nghĩa

Tiêu chuẩn này áp dụng các thuật ngữ và định nghĩa sau đây.

5.1

Pin (battery)

Một cell hoặc một nhóm các cell được kết nối với nhau theo cấu hình nối tiếp và/hoặc song song.

5.2

Hệ thống quản lý pin (battery management system)

BMS

Hệ thống điện, điện tử, và hệ thống phần mềm theo dõi, điều khiển và bảo vệ mà dựa vào đó để duy trì pin và các cell thành phần của nó trong vùng làm việc quy định để sạc và xả, và có thể là nguồn ghi nhớ các hoạt động của pin trong suốt vòng đời của chúng.

5.3

Gói pin (battery pack)

Cụm lắp ráp các pin chứa một hoặc nhiều cell/môđun sẵn sàng để sử dụng, được chứa trong một vỏ bảo vệ, có thể có hoặc không có thiết bị bảo vệ, hệ thống làm mát và mạch theo dõi.

5.4

Hệ thống pin (battery system)

Cụm lắp ráp sẵn sàng để sử dụng, bao gồm gói pin và BMS cũng như mạch điện theo dõi và điều khiển khác, cụm lắp ráp này cung cấp điện năng cho các ứng dụng như xe điện. Cụm lắp ráp này có thể bao gồm hệ thống quản lý nhiệt và hệ thống an toàn. Một số hệ thống pin có thể chứa các tụ điện hóa.

5.5

Ngày hết hạn (calendar expiration date)

Năm hoặc tháng do nhà chế tạo ban đầu ấn định để đảm bảo tính năng của cell, môđun, và/hoặc gói/hệ thống pin. Ngày hết hạn còn được gọi là ngày hết hạn sử dụng và đôi khi còn được gọi là tuổi thọ.

5.6

Cell (cell)

Khối điện hóa có chức năng cơ bản bao gồm cụm điện cực, chất điện phân, màng phân cách, vỏ chứa và các đầu nối. Đây là nguồn điện năng được chuyển đổi trực tiếp từ hóa năng.

5.7

DUT (device under test)

Thiết bị cần thử nghiệm.

5.8

Tụ điện hóa (electrochemical capacitor)

Thiết bị lưu trữ điện năng trong đó điện tích thường được tích trữ không phải do các phản ứng Faraday tại các điện cực. Bề mặt có độ xốp cao của các điện cực làm tăng diện tích bề mặt giữ điện tích tạo ra điện dung và mật độ năng lượng lớn hơn nhiều. Một số tên thông thường khác của tụ điện hóa là “tụ điện hai lớp”, “siêu tụ điện”, “tụ điện hóa hai lớp” và “tụ điện siêu cấp”.

5.9

Phân cấp (grading)

Quá trình được thực hiện bởi nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc nhà chế tạo thiết bị ban đầu (OEM) để đánh giá các gói pin, môđun pin và các cell so với các đại lượng nhằm xác định xem chúng có thể được chuyển đổi mục đích sử dụng trực tiếp hoặc có thể được phân loại thành các nhóm tương ứng để chuyển đổi mục đích sử dụng dựa trên tình trạng sức khỏe của pin và duy trì điện năng khả dụng được xác định trong quá trình này kết hợp với việc chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại các hạng mục này.

5.10

Điện áp cao (nguy hiểm) (high (hazardous) voltage)

Điện áp lớn hơn 30 V hiệu dụng/42,4 V đỉnh hoặc 60 V một chiều.

5.11

Cách điện (electrical insulation)

Vật liệu hoặc biện pháp khác bao gồm các khoảng cách qua không khí (tức là khe hở không khí) hoặc đi trên các bề mặt (chiều dài đường rò) được sử dụng để ngăn ngừa dẫn điện.

5.12

Các mức cách điện (insulation levels)

5.12.1

Cách điện chính (basic insulation)

Cách điện cung cấp bảo vệ cơ bản chống điện giật.

5.12.2

Cách điện kép (double insulation)

Cách điện bao gồm cả cách điện chính và cách điện phụ.

5.12.3

Cách điện chức năng (functional insulation)

Cách điện chỉ cần thiết cho hoạt động của thiết bị. Cách điện chức năng theo định nghĩa không bảo vệ chống điện giật. Tuy nhiên, nó có thể làm giảm khả năng mồi cháy và cháy.

5.12.4

Cách điện tăng cường (reinforced insulation)

Hệ thống cách điện đơn cung cấp bảo vệ tương đương cách điện kép trong các điều kiện quy định trong tiêu chuẩn này. Thuật ngữ "hệ thống cách điện" không bao hàm là cách điện phải là một khối đồng nhất. Cách điện có thể gồm một vài lớp nhưng không thể được thử nghiệm như cách điện chính và cách điện phụ.

5.12.5

Cách điện phụ (supplementary insulation)

Cách điện độc lập được áp dụng bổ sung cho cách điện chính để giảm rủi ro điện giật khi cách điện chính bị hỏng.

5.13

Nhà chế tạo (manufacturer)

Tổ chức chịu trách nhiệm chế tạo ban đầu của pin hoặc các thành phần quy định ví dụ như các cell thành phần và BMS, đôi khi còn được gọi là nhà chế tạo thiết bị ban đầu (OEM).

5.14

Nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng (repurposing manufacturer)

Tổ chức chịu trách nhiệm cho quá trình chuyển đổi mục đích của pin đã qua sử dụng.

5.15

Môđun (module)

Cụm lắp ráp phụ gồm một nhóm các cell hoặc các tụ điện hóa được nối với nhau theo cấu hình nối tiếp và/hoặc song song (đôi khi còn được gọi là một khối) có hoặc không có bộ phận theo dõi pin.

5.16

Tái chế (recycle)

Lấy lại các vật liệu để chuyển đổi mục đích sử dụng từ các sản phẩm đã đạt đến cuối vòng đời và đã bị thải bỏ.

5.17

Pin chế tạo lại (remanufactured battery)

Gói/hệ thống pin đã được sử dụng ngoài hiện trường và được đưa trở lại để sửa chữa và/hoặc thay thế các bộ phận để sử dụng trong cùng một ứng dụng dự kiến. Các thuật ngữ khác thường được sử dụng cho pin chế tạo lại là “pin được tân trang” hoặc “pin được dựng lại”.

5.18

OEM chế tạo lại (remanufacturing OEM)

Tổ chức chịu trách nhiệm cho quá trình chế tạo lại pin đã qua sử dụng, và có thể là nhà chế tạo thiết bị ban đầu (OEM) hoặc đại lý được OEM chỉ định dưới sự giám sát của OEM.

5.19

Pin chuyển đổi mục đích sử dụng (repurposed battery)

Gói/hệ thống pin đã được sử dụng trong một ứng dụng ngoài hiện trường và phải chịu một mức độ phân tích hoặc cấu hình lại nào đó để sử dụng trong một ứng dụng khác. Ví dụ về pin chuyển đổi mục đích sử dụng là pin lưu trữ năng lượng tĩnh tại đã được tạo thành bằng cách sử dụng các cell, môđun hoặc pin xe điện đã qua sử dụng. Một ví dụ khác về pin chuyển đổi mục đích sử dụng là pin của xe điện hiệu năng thấp được tạo thành từ các cell, môđun hoặc pin đã qua sử dụng của xe điện hiệu năng cao. Pin chuyển đổi mục đích sử dụng còn được gọi là "pin vòng đời thứ hai".

5.20

Nhiệt độ phòng (room ambient)

Nhiệt độ phòng được khống chế bởi nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng cho quá trình phân loại và phân cấp pin, thông thường là T _R ± 2 ºC, trong đó T _R ​ là một giá trị trong khoảng từ 20ºC đến 25 ºC.

5.21

Mẫu mới (fresh sample)

Mẫu mới do nhà chế tạo ban đầu tạo ra, thường không quá 6 tháng.

5.22

Quá trình phân loại và phân cấp (sorting and grading process)

Việc xác định tình trạng sức khỏe và các tham số khác của đối tượng để nhận dạng tính khả thi tiếp theo và các cơ chế đánh giá mà nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng có thể sử dụng cho các quá trình được xác định là thích hợp cho việc sử dụng tiếp theo.

5.23

Trạng thái sạc (state of charge)

SOC

Dung lượng khả dụng trong hệ thống pin, gói pin, môđun hoặc cell, được biểu thị bằng phần trăm của dung lượng danh định, dưới dạng ampe giờ (Ah) hoặc oát giờ (Wh).

5.24

Tình trạng sức khỏe (state of health)

SOH

Định lượng tình trạng của pin và mức tính năng kỳ vọng để chuyển đổi mục đích sử dụng, và dung lượng hữu ích trong pin và tuổi thọ hữu ích dự kiến được xác định thông qua các phép đo chẩn đoán khác nhau có thể bao gồm suy giảm năng lượng hữu ích, tăng nội trở, v.v.

MỤC II - KẾT CẤU

6 Quy định chung

6.1 Các bộ phận hợp thành đã qua sử dụng của các hệ thống pin không được coi là dùng cho chuyển đổi mục đích sử dụng của pin nếu chúng đã được sử dụng quá ngày hết hạn do nhà chế tạo ban đầu quy định. Nếu có sẵn thông tin này, nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng phải khẳng định ngày hết hạn được ấn định cho các bộ phận hợp thành dùng để chuyển đổi mục đích sử dụng.

Ngoại lệ: Các bộ phận hợp thành có thể được coi là dùng cho chuyển đổi mục đích sử dụng nếu sự phù hợp và tính năng an toàn của các bộ phận này đã được kiểm tra xác nhận bởi nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng. Tính năng về điện và cơ của vật liệu, tình trạng sức khỏe của cell và pin, và tuổi của pin và các bộ phận hợp thành của nó phải được nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng cân nhắc khi xác định tính phù hợp của các bộ phận hợp thành của hệ thống pin để chuyển đổi mục đích sử dụng.

6.2 Kết cấu của pin cho mục đích phân loại và phân cấp liên quan đến chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại phải trên cơ sở sự phù hợp của pin cho ứng dụng sử dụng cuối của chúng. Để chuyển đổi mục đích sử dụng của pin, hướng dẫn về kết cấu cần thiết của pin có thể xem trong các tiêu chuẩn nêu trong Bảng 6.1. Đối với các pin được chế tạo lại, hướng dẫn về kết cấu cần thiết của pin phải được xác định bởi quá trình chế tạo của OEM.

Bảng 6.1 - Các yêu cầu về tiêu chuẩn áp dụng

6.3  Nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng phải lập tài liệu các yêu cầu về các kết cấu và vật liệu quan trọng liên quan đến an toàn để phù hợp với tiêu chuẩn ứng dụng cuối. Trong quá trình thiết kế và lắp ráp lại các pin được chuyển đổi mục đích sử dụng, phải tuân thủ tài liệu về các yêu cầu này.

6.4  OEM chế tạo lại phải tuân thủ các tài liệu kiểm soát việc chế tạo mà chúng nhận dạng kết cấu và vật liệu quan trọng của pin xe điện liên quan đến an toàn để đảm bảo các pin tiếp tục tuân thủ quy trình chế tạo lại của chúng. Trong quá trình chế tạo lại và lắp ráp lại các pin được chuyển đổi mục đích sử dụng, phải tuân thủ tài liệu về các yêu cầu này.

7 Vật liệu

7.1 Các vật liệu được sử dụng trong pin phải thích hợp cho ứng dụng dự kiến. Các vật liệu phi kim loại được sử dụng làm vỏ bọc, vỏ đúc và cách điện hoặc cách nhiệt phải có đặc tính về nhiệt, khả năng bắt cháy và các đặc tính điện hoặc các đặc tính khác của vật liệu đủ cho ứng dụng của chúng trong pin và trong sử dụng dự kiến của pin. Các vật liệu kim loại phải chịu được ăn mòn và nếu được sử dụng cho các bộ phận mang dòng thì phải bằng các kim loại có thể chấp nhận cho mục đích đó.

7.2 Hướng dẫn về việc lựa chọn vật liệu thích hợp cho ứng dụng pin dự kiến có thể tìm thấy trong các tiêu chuẩn trong Bảng 6.1.

8 Vỏ bọc

8.1 Tính thích hợp của vỏ bọc của pin phụ thuộc vào thiết kế và ứng dụng của sử dụng cuối. Vỏ bọc có thể đóng vai trò của vỏ đúc bảo vệ pin thành phần được thiết kế để lắp vào thiết bị, mà ở đó pin sẽ được bảo vệ bởi vỏ bọc của thiết bị hoặc có thể là toàn bộ hoặc một phần của vỏ bọc thiết bị. Nếu vỏ bọc của pin là toàn bộ hoặc một phần vỏ bọc của ứng dụng sử dụng cuối, loại ứng dụng (ví dụ sản phẩm là ứng dụng loại xách tay, ứng dụng xe điện hoặc ứng dụng tĩnh tại, v.v.) cũng sẽ xác định các yêu cầu của vỏ bọc đó.

8.2 Khi đánh giá kết cấu vỏ bọc, cần xét đến các vật liệu được sử dụng như nêu trong Điều 7, tính bền chắc của vỏ bọc để ngăn sự lạm dụng quá mức về cơ của các thành phần của vỏ bọc, các phương pháp giữ các phần của vỏ bọc, và kích cỡ và vị trí của các lỗ hở trên vỏ bọc để đảm bảo thông gió hoặc quản lý nhiệt của pin và ngăn ngừa tiếp cận các phần nguy hiểm của pin và ngăn ngừa sự xâm nhập các mảnh vụn và hơi ẩm vào bên trong vỏ bọc.

8.3 Tính thích hợp của vỏ bọc pin được chế tạo lại phụ thuộc vào thiết kế và ứng dụng của sử dụng cuối theo dự kiến ban đầu và có thể dựa trên quá trình chế tạo lại của OEM chế tạo lại.

8.4 Hướng dẫn về các yêu cầu và đánh giá vỏ bọc pin đối với ứng dụng dự kiến có thể tìm thấy trong các tiêu chuẩn trong Bảng 6.1.

9 Đi dây và đấu nối

9.1 Hệ thống đi dây phải chắc chắn một cách tin cậy để ngăn ngừa việc nối tắt và giảm các khoảng cách một cách không chủ ý. Hệ thống đi dây phải có cách điện đủ đối với các mức điện áp và phơi nhiễm môi trường. Tham khảo các tiêu chuẩn trong Bảng 6.1 đối với các tiêu chí đi dây của các ứng dụng sử dụng cuối cụ thể.

10 Khoảng cách điện và mức cách điện

10.1 Có một số mức cách điện khác nhau có thể có trong pin tùy thuộc vào điện áp. Các mức này bao gồm cách điện chức năng, cách điện chính, cách điện kép (gồm cách điện chính và cách điện phụ) và cách điện tăng cường. Xem 5.12 về định nghĩa các mức cách điện này.

10.2 Pin có các mạch điện áp nguy hiểm phải có tối thiểu hai mức bảo vệ giữa các mạch điện áp nguy hiểm và các phần dẫn tiếp cận được gồm một trong các loại dưới đây:

a) cách điện chính cộng với nối đất bảo vệ;

b) cách điện kép; hoặc

c) một lớp cách điện tăng cường duy nhất được xác định tương ứng với cách điện kép.

10.3 Các khoảng cách về điện trong không khí được đề cập đến trong một số tiêu chuẩn như khe hở không khí, chiều dài đường rò, phải phù hợp với các yêu cầu nêu trong các tiêu chuẩn về pin áp dụng trong Bảng 6.1.

11 Cơ cấu điều khiển

11.1 BMS và các cơ cấu điều khiển bảo vệ khác được thiết kế để sử dụng trong pin chuyển đổi mục đích sử dụng phải được đánh giá để tăng khả năng làm việc trong ứng dụng dự kiến của chúng. Bất kỳ phân tích độ tin cậy nào của BMS và hệ thống điều khiển pin khác dựa vào sự an toàn đều phải phù hợp với các yêu cầu trong các tiêu chuẩn pin áp dụng trong Bảng 6.1 hoặc trong trường hợp pin EV chế tạo lại, phải phù hợp với quá trình chế tạo của OEM chế tạo lại. Kiểm tra chức năng của BMS phải là một phần của thử nghiệm trong sản xuất khi chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại trên tất cả các hệ thống pin trong sản xuất có BMS tham gia trong chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại, theo 18.6.

12 Chất làm mát và các hệ thống quan trọng khác

12.1 Các hệ thống khác của pin ví dụ như hệ thống quản lý nhiệt phải được đánh giá để xác định xem chúng có hoạt động đúng chức năng và có thể duy trì nếu được thiết kế để được sử dụng trong pin được chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc được chế tạo lại hay không. Các hệ thống nào dựa vào hoạt động an toàn của pin được chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc được chế tạo lại phải đáp ứng các tiêu chí trong tiêu chuẩn ứng dụng sử dụng cuối dự kiến. Tham khảo các tiêu chuẩn về pin trong Bảng 6.1.

13 Cell và tụ điện hóa

13.1 Các cell và tụ điện hóa được thiết kế để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại phải đáp ứng các yêu cầu thử nghiệm an toàn thích hợp của tiêu chuẩn cho ứng dụng sử dụng cuối theo dự kiến. Các tiêu chuẩn nêu trong Bảng 13.1 là các tiêu chuẩn tham khảo, cũng có thể áp dụng các tiêu chuẩn an toàn khác của cell hoặc tụ điện nếu được chấp nhận bởi ứng dụng sử dụng cuối.

Bảng 13.1 - Tiêu chí an toàn của cell

13.2 Tài liệu chứng tỏ thiết kế cell hoặc tụ điện đã tuân thủ chương trình thử nghiệm an toàn thích hợp theo công nghệ khi được chế tạo ban đầu phải được thu thập để xác định sự phù hợp đối với ứng dụng sử dụng cuối. Nếu không có sẵn bằng chứng về sự phù hợp thì khi đó sự phù hợp phải được xác định bằng các thử nghiệm được nêu trong một trong các tiêu chuẩn tham chiếu thích hợp trong Bảng 13.1 để phù hợp với tiêu chuẩn của ứng dụng sử dụng cuối. Thử nghiệm có thể được tiến hành ở cấp độ môđun đối với các ứng dụng chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại để phù hợp với tiêu chuẩn ứng dụng sử dụng cuối, nếu các cell hoặc tụ điện không thể tháo khỏi môđun một cách dễ dàng.

13.3 Các cell được lắp thành các pin chuyển đổi mục đích sử dụng phải thuộc cùng một model từ cùng một nhà chế tạo.

MỤC III - KIỂM SOÁT CHẤT LƯỢNG VÀ AN TOÀN CỦA CÁC TRANG THIẾT BỊ

14 Kiểm soát chất lượng

14.1 Nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại phải có đủ kiến thức về đặc tính và về di chuyển các cell, môđun, gói/hệ thống pin và/hoặc BMS để thực hiện phân loại và phân cấp cho chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại và phải có sẵn các biện pháp kiểm soát quá trình sản xuất được ghi thành tài liệu. Các biện pháp kiểm soát này phải được liên tục theo dõi và ghi vào báo cáo các thành phần chính của quá trình chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng và chế tạo lại có thể ảnh hưởng đến an toàn, và phải có các giới hạn về tham số đo cho phép các hành động khắc phục/phòng ngừa để xử lý các khuyết tật (các tham số nằm ngoài giới hạn) được xác định có ảnh hưởng đến các yếu tố chính này:

a) Kiểm soát các bộ phận đầu vào bao gồm cả các pin đã qua sử dụng;

b) Kiểm soát các quá trình chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại và thu thập dữ liệu; hoặc

c) Kiểm soát các bộ phận bị loại bỏ.

14.2 Các trang thiết bị được sử dụng cho chuyển đổi mục đích sử dụng và chế tạo lại phải cung cấp một môi trường có kiểm soát để bảo quản, di chuyển và thử nghiệm pin, theo quy định kỹ thuật của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại. Thiết bị thử nghiệm được sử dụng để đánh giá pin phải:

a) Thích hợp cho thử nghiệm;

b) Được bảo trì theo các quy định kỹ thuật của thiết bị thử nghiệm; và

c) Được hiệu chuẩn thường xuyên, theo các quy trình kiểm soát chất lượng của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng và OEM chế tạo lại.

15 An toàn của các trang thiết bị

15.1 Pin ví dụ như pin lithium ion được coi là vật liệu nguy hiểm, và việc di chuyển và thử nghiệm pin phải được thực hiện cẩn thận. Nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng và OEM chế tạo lại phải có các quy trình thao tác tại chỗ để di chuyển, bảo quản, thử nghiệm và thải bỏ pin và các bộ phận liên quan đến chuyển đổi mục đích sử dụng và chế tạo lại một cách an toàn.

15.2 Trang thiết bị được sử dụng cho chuyển đổi mục đích sử dụng và chế tạo lại pin kể cả bảo quản, xử lý và thử nghiệm chúng phải phù hợp với các quy định về xây dựng và phòng cháy chữa cháy.

MỤC IV - KIỂM TRA CÁC MẪU ĐẦU VÀO

16 Quy định chung

16.1 Như một phần của quy trình phân loại cho chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại, pin phải thực hiện kiểm tra bằng mắt và phải đánh giá cách thức mà pin được thử nghiệm như một phần của quá trình chế tạo. Nếu có sẵn, cũng cần thực hiện đánh giá việc sử dụng trước đó của pin.

16.2 Cần thận trọng khi di chuyển và bảo quản pin, đặc biệt đối với các mẫu lớn như pin xe điện. Việc bảo quản pin phải theo các quy trình của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng và OEM chế tạo lại pin và tuân thủ các quy định về xây dựng và phòng cháy chữa cháy liên quan đến việc bảo quản các vật liệu nguy hiểm. Khi vận chuyển pin, kể cả các pin EV đã qua sử dụng, cần tuân thủ các quy định về vận chuyển. Hướng dẫn về việc di chuyển và vận chuyển an toàn các pin EV có thể xem trong tiêu chuẩn SAE J2950.

17 Quy trình kiểm tra và phân loại các pin đã qua sử dụng và các bộ phận của chúng

17.1 Quy định chung

17.1.1 Tài liệu và thông tin liên quan đến các gói pin/hệ thống pin dự kiến được chuyển đổi mục đích sử dụng ví dụ như ghi nhãn, hướng dẫn, lịch sử của quá trình sử dụng trước đó kể cả các dữ liệu điện tử được lưu giữ, các tai nạn bất kỳ có thể ảnh hưởng đến an toàn hoặc tính năng, và các thông tin khác phải được nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng rà soát để có thể hiểu được toàn bộ kết cấu của pin, cách thức mà pin đã được thiết kế để sử dụng, thông tin về các thành phần có ảnh hưởng quan trọng đến hoạt động và sử dụng pin an toàn và hỗ trợ thiết lập toàn bộ tình trạng sức khỏe của pin.

17.1.2 Tài liệu và thông tin liên quan đến các gói pin/hệ thống pin cần được chế tạo lại ví dụ như ghi nhãn, hướng dẫn, lịch sử của quá trình sử dụng trước đó kể cả các dữ liệu điện tử được lưu giữ và giữ lại, các tai nạn bất kỳ có thể ảnh hưởng đến an toàn, và các thông tin khác phải được OEM chế tạo lại rà soát để hỗ trợ thiết lập toàn bộ tình trạng sức khỏe của pin.

17.2 Thông tin thu thập và rà soát như một phần của các quy trình phân loại ban đầu

17.2.1 Pin

17.2.1.1 Thông tin (ví dụ như nhãn, quy định kỹ thuật, lịch sử bảo trì, hồ sơ của các sự cố liên quan đến an toàn) sẵn có về pin phải được thu thập và rà soát bởi nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại, để hiểu về pin cần sử dụng cho chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại.

Tài liệu thích hợp để xác định tình trạng sức khỏe của pin và để hiểu hơn về toàn bộ thiết kế pin và lịch sử của pin bao gồm:

a) Ghi nhãn pin: tấm nhãn ghi thông số đặc trưng của pin, và các ghi nhãn khác kể cả ngày chế tạo, nhãn cảnh báo, ký hiệu và hướng dẫn;

b) Sơ đồ cấu trúc của pin;

c) Quy định kỹ thuật của pin, các hướng dẫn kể cả thông tin về chất hóa học và các văn bản sẵn có khác về pin bao gồm sổ tay hướng dẫn các quy trình đưa vào hoạt động, đưa vào hoạt động lại, sạc, xả, bảo quản, bảo trì/xử lý/vận hành, sổ tay hướng dẫn đáp ứng lần đầu của xe điện, v.v.

d) Kết cấu và cấu hình của pin, khối lượng, kích thước và các thành phần của pin, sơ đồ và cấu hình của các môđun và các bộ phận khác trong pin;

e) Thông tin về các thành phần trong hệ thống pin ví dụ như hệ thống làm mát (kể cả chất làm mát nếu có), hệ thống theo dõi cách ly, đường dẫn điện áp cao, vật liệu cách điện và vật liệu đỡ, v.v.

f) Nguyên nhân pin được cho ngừng hoạt động, ngày ngừng hoạt động và thông tin về lịch sử bảo quản và di chuyển pin trước các quá trình chuyển đổi mục đích sử dụng và chế tạo lại.

g) Nếu có sẵn, thông tin về BMS cần được thu thập bao gồm quy định kỹ thuật của BMS, thuật toán cho sạc và xả, nhà chế tạo BMS, P/N, ngày chế tạo, v.v.

h) Nếu có sẵn, điều kiện bảo quản sau khi pin được lấy ra khỏi ứng dụng cuối trước đó và dữ liệu về vận hành mới nhất sẵn có từ BMS trước khi pin được lấy ra khỏi ứng dụng cuối trước đó.

i) Nếu có sẵn, hồ sơ về các điều kiện sự cố/hỏng hóc/bất thường và bảo trì trong ứng dụng cuối trước đó; và

j) Nếu có sẵn, (các) tiêu chuẩn mà các bộ phận của pin phải đáp ứng.

17.2.2 Môđun

17.2.2.1 Thông tin sẵn có về các môđun pin phải được thu thập và rà soát bởi nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng để hiểu rõ hơn về thiết kế của pin. Các thông tin cần thu thập gồm:

a) Ghi nhãn, thông số đặc trưng, nhà chế tạo và số hiệu cũng như ngày chế tạo và các ghi nhãn khác trên môđun;

b) Quy định kỹ thuật của môđun, các hướng dẫn và các thông tin khác sẵn có kể cả thông tin lắp đặt môđun, các tham số về sạc và xả; và

c) Kết cấu và cấu hình của môđun, kể cả thành phần của môđun, sơ đồ và cấu hình các cell, khối lượng và kích thước;

17.2.3 Cell

17.2.3.1 Thông tin sẵn có về các cell được sử dụng trong pin phải được thu thập và rà soát bởi nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng để hiểu rõ hơn về thiết kế của pin và tình trạng sức khỏe của các cell. Các thông tin cần thu thập gồm:

a) Ngày chế tạo cell;

b) Thành phần hóa học trong cell, khối lượng, kích thước và thiết kế tổng thể của cell nếu sẵn có, v.v.;

c) Nhà chế tạo và số hiệu của các cell cùng với các ghi nhãn khác trên cell;

d) Tờ quy định kỹ thuật của cell chỉ thị các thông số đặc trưng về điện áp danh định và dung lượng của các cell vào lúc bắt đầu vòng đời, xả, sạc, lưu trữ và các quy định kỹ thuật khác phải được cung cấp;

e) Nếu có sẵn, thông tin/dữ liệu về các thử nghiệm an toàn được thực hiện trên các cell đang cần xem xét;

f) Ngày hết hạn của cell.

17.2.3.2 Kết cấu của cell phải được rà soát theo quy trình của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng để hiểu về kết cấu bên trong của các cell. Nếu không có sẵn bản vẽ hoặc các thông tin từ nhà chế tạo cell, việc tháo (các) cell đã xả đại diện khối pin dự kiến để chuyển đổi mục đích sử dụng phải được thực hiện để xem xét kết cấu bên trong kể cả cụm lắp ráp các điện cực, việc đặt cách điện, lớp phủ màng phân cách, ống trung tâm (nếu có trong thiết kế pin), thông khí hoặc các chi tiết khác để xả áp suất, thiết bị bảo vệ bên trong, kết cấu và đặt các thanh, v.v. Xem IEEE 1625 hoặc IEEE 1725 về hướng dẫn các hạng mục kết cấu cần rà soát. Phải thu thập các thông tin về kết cấu và có thể hỗ trợ với phân tích dữ liệu cell trong 18.9.

17.2.4 BMS và các hệ thống phụ

17.2.4.1 Thông tin về BMS và các hệ thống phụ, ví dụ hệ thống làm mát được sử dụng trong các pin được thiết kế để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại, phải được thu thập và rà soát để hiểu rõ hơn về thiết kế pin, tình trạng sức khỏe và sự phù hợp cho chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại. Các thông tin cần thu thập và xem xét phải bao gồm:

a) Đối với BMS:

1) Ngày chế tạo, P/N, và nhà chế tạo, quy định kỹ thuật của BMS liên quan đến dòng điện, điện áp và các bảo vệ về nhiệt và thời gian trễ tác động tương quan;

2) Giao thức truyền thông, bản tin CANBUS, các biến, v.v.

3) Phần mềm BMS cập nhật liên quan đến an toàn của pin trong vận hành; và

4) Sơ đồ, bố trí, thuật toán, ghi nhãn và các tài liệu bất kỳ liên quan đến sử dụng, lắp đặt, vận hành, lập trình và bảo trì BMS.

b) Đối với các hệ thống làm mát:

1) Nhà chế tạo, P/N và quy định kỹ thuật liên quan đến nhiệt độ và các cơ cấu điều khiển, tốc độ lưu lượng của hệ thống, và các nhiệt độ vào và ra;

2) Vật liệu/Chất lỏng làm mát và danh mục các bộ phận của hệ thống làm mát; và

3) Thông tin về lắp đặt, lỗi, vận hành và bảo trì, v.v.

c) Đối với các hệ thống khác:

1) Nhà chế tạo, P/N và quy định kỹ thuật (ví dụ các thông số đặc trưng về điện, các kích thước vật lý, các tham số sử dụng, v.v.); và

2) Thông tin về lắp đặt, lỗi, vận hành và bảo trì, v.v.

17.3 Quy trình loại bỏ ban đầu và tiếp theo

17.3.1 Xem xét các thông tin sẵn có về sử dụng pin, an toàn liên quan đến các tai nạn hoặc sửa chữa phải được thực hiện để xác định (các) nguyên nhân khiến pin bị dừng hoạt động trong ứng dụng sử dụng đầu tiên của nó. Các pin bị dừng hoạt động do các trường hợp phơi nhiễm đã biết mà có thể ảnh hưởng đến vận hành và sử dụng an toàn của nó thì không được xem xét để chuyển đổi mục đích sử dụng theo các quy trình của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc để chế tạo lại theo các quy trình của OEM chế tạo lại. Các trường hợp này có thể gồm, nhưng không giới hạn ở, các phơi nhiễm môi trường nghiêm trọng và việc sử dụng quá mức ví dụ đâm xe có nhiều khả năng ảnh hưởng đến pin, ngập nước và cháy. Nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại phải nhận biết, trong các quá trình của mình, các trường hợp phơi nhiễm nào mà ở đó pin có thể không được xem xét để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại.

17.3.2 Ngoài các tiêu chí loại bỏ, nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại phải nhận biết các vấn đề về tính năng, vật lý, và các dấu hiệu hư hỏng khác hoặc các vấn đề với pin hoặc các bộ phận của pin cần chuyển đổi mục đích sử dụng mà có thể là nguyên nhân của việc loại bỏ trong quá trình phân loại và phân cấp ban đầu và tiếp theo cho chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại.

17.3.3 Pin và các bộ phận khác được thiết kế để không sử dụng lại thì phải được loại bỏ theo các quy trình của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại như xác định trong Điều 20. Pin và các bộ phận được thiết kế là không thích hợp cho chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại thì không được đưa vào quá trình phân loại và phân cấp.

17.3.4 Các mẫu không bị loại bỏ thì phải được cấp số hiệu nhận biết và sau đó phải chịu các quy trình phân loại và phân cấp tiếp theo bởi nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại.

17.4 Kiểm tra bằng mắt các mẫu đầu vào

17.4.1 Phải thực hiện kiểm tra bằng mắt các mẫu đầu vào ví dụ toàn bộ pin và các hệ thống phụ trợ của nó trước khi tháo rời. Các dấu hiệu hư hỏng có thể nhìn thấy bằng mắt như nứt, phồng, mùi dễ nhận biết, bay màu hoặc vết cháy đều phải được ghi lại bằng văn bản. Hư hỏng có thể nhìn thấy bằng mắt phải được rà soát lại theo các quy trình loại bỏ của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại để xác định xem có cần loại bỏ toàn bộ hoặc một phần cụm lắp ráp dựa trên các dấu hiệu hư hại nhìn thấy được này.

17.5 Thu thập và phân tích dữ liệu BMS

17.5.1 Cách thức quan trọng để có được các thông tin về tình trạng sức khỏe của pin, môđun và các cell là thông qua việc đánh giá dữ liệu được lưu trữ trong BMS của pin. Xem Phụ lục A về các thông tin có thể thu thập từ BMS có ích cho việc xác định sức khỏe của pin dùng để chuyển đổi mục đích sử dụng và chế tạo lại. Các thông tin cần được lấy ra từ BMS cho việc phân loại và phân cấp pin, môđun, cell và các thành phần khác mà được thiết kế để chuyển đổi mục đích sử dụng và chế tạo lại tối thiểu phải gồm:

a) Các giá trị trung bình và cực trị của dòng điện, điện áp, nhiệt độ và SOC;

b) Các giá trị bên ngoài phạm vi quy định kỹ thuật đối với dòng điện, điện áp và nhiệt độ;

c) Tổng thời gian và số lần ở các giá trị cực trị và bên ngoài phạm vi quy định kỹ thuật đối với dòng điện, điện áp và nhiệt độ;

d) Tổng lượng sạc, xả trong suốt vòng đời;

e) Tổng số lần hoặc số lượng sạc và xả trong suốt vòng đời;

f) Số lượng hoặc loại thông báo lỗi;

g) Số lần công tắc tơ tác động.

Ngoại lệ: Trong một số trường hợp, dữ liệu BMS có thể không có sẵn để phân tích. Đối với trường hợp này, cần có quy trình tiến hành phân tích chuyên sâu các mẫu được đưa đến bao gồm quy trình xác định tình trạng sức khỏe của cell và các bộ phận khác của hệ thống mà không cần sự trợ giúp của dữ liệu BMS thông qua việc thử nghiệm các mẫu và tài liệu được cung cấp về các cell và so sánh với dữ liệu từ các mẫu mới hoặc thông số kỹ thuật của các cell.

17.5.2 Nếu bất kỳ giới hạn nào nằm ngoài giới hạn thông số kỹ thuật đối với điện áp, dòng điện và nhiệt độ không phải là tín hiệu để loại bỏ pin ngay lập tức để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại thì giá trị tối đa của tham số và khoảng thời gian tiếp xúc với các giới hạn nằm ngoài giới hạn thông số kỹ thuật này phải được lấy lại từ BMS nếu có. Sau đó phải xác định tác động lên các cell để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại. Nếu BMS không có sẵn khoảng thời gian tiếp xúc vượt quá giới hạn thông số kỹ thuật thì pin và/hoặc môđun hoặc cell bị hỏng sẽ bị từ chối chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại trừ khi có thể thiết lập được thông qua thử nghiệm rằng các cell có đủ sức khỏe để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại.

17.5.3 Nếu số lượng thông báo lỗi từ BMS hoặc số lần công tắc tơ hoạt động nằm ngoài giới hạn quy định thì đây sẽ là dấu hiệu cho thấy pin bị loại bỏ để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại do thông tin BMS bị lỗi và/hoặc khả năng pin bị phơi nhiễm đến các điều kiện nguy hiểm trừ khi có thể xác định được thông qua thử nghiệm rằng các cell có đủ sức khỏe để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại.

17.6 Tháo rời và kiểm tra

17.6.1 Quy trình đánh giá pin để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại phải bao gồm việc kiểm tra trực quan gói pin/hệ thống pin cũng như các thành phần và bộ phận của nó để xác định rằng không có bằng chứng rõ ràng về hư hỏng. Bất kỳ dấu hiệu hư hại rõ ràng nào được xác định trong quá trình kiểm tra này sẽ được coi là lý do chính đáng để loại bỏ bộ phận bị hư hỏng, trừ khi hư hỏng nhỏ và có thể xác định được qua thử nghiệm rằng hư hỏng đó không ảnh hưởng đến sự an toàn của pin và các bộ phận để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại. Ví dụ về các dấu hiệu hư hại có thể được coi là căn cứ để loại bỏ có thể bao gồm nhưng không giới hạn ở những điều sau:

a) Các cell hoặc môđun bị phồng lên, các cell có lỗ thông hơi, rò rỉ chất điện phân, vỏ và đầu cực bị cong vênh/hư hỏng, dấu vết cháy hoặc các hư hỏng khác;

b) Sờn, hư dây dẫn, hư hỏng cách điện/mất màu, hư hỏng đường dẫn điện áp cao, hư hỏng hệ thống cách ly, kiểm tra hư hỏng PCB;

c) Khuôn đúc, vỏ hoặc kết cấu đỡ bị cong hoặc hư hỏng, các mối nối và bộ phận bị lỏng;

d) Hư hỏng hệ thống quản lý nhiệt như hệ thống làm mát bị rò rỉ, quạt bị tắc hoặc các bộ phận quay bị khóa hoặc quá tải.

17.6.2 Sau khi kiểm tra không phá hủy tổng thể các gói pin/hệ thống pin và các bộ phận của nó cũng như bất kỳ thử nghiệm nào theo Điều 18 cần được tiến hành trên gói pin/hệ thống pin đã lắp ráp trước khi tháo rời, gói pin đó phải được tháo rời thành bộ phận nhỏ nhất có thể sử dụng được dự kiến để chuyển đổi mục đích sử dụng. Đây có thể là việc tháo rời nhỏ các bộ phận phụ trợ hoặc các bộ phận khác với gói vẫn giữ nguyên cấu hình ban đầu, để tháo rời thành các môđun hoặc thậm chí các cell riêng lẻ.

17.6.3 Các quy trình tháo rời gói pin một cách an toàn bao gồm cả sự cần thiết của xả ban đầu phải được tiến hành theo quy trình của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc theo quy trình của OEM chế tạo lại. Các bộ phận riêng lẻ được lấy từ gói pin phải được gắn thể số theo dõi và được ghi lại trong nhật ký quy trình. Các bộ phận bị loại bỏ phải được loại bỏ khỏi quá trình xử lý tiếp theo và xử lý theo quy định trong 17.3 và Điều 20.

17.7 Theo dõi tình trạng bảo quản

17.7.1 Pin được thiết kế để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại theo tiêu chuẩn này phải có điều kiện nhiệt độ và độ ẩm môi trường liên quan đến việc bảo quản chúng trước khi chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại được nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại theo dõi và ghi lại tối thiểu hàng ngày.

17.7.2 Bất kỳ việc sạc hoặc xả nào được thực hiện như một phần của quy trình bảo quản phải được nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại đo và ghi lại.

17.7.3 Điện áp hở mạch (OCV) của (các) bộ phận được bảo quản sau quy trình phân loại và phân cấp phải được nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại ghi lại ở giai đoạn đầu và cuối của quá trình bảo quản các bộ phận đã xử lý. Bất kỳ bộ phận nào đã được sắp xếp được phát hiện có tốc độ tự xả nằm ngoài giới hạn chấp nhận được thiết lập của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại sẽ bị loại bỏ theo các quy trình được nêu trong Điều 20.

17.8 Phân cấp pin để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại

17.8.1 Nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng phải có hệ thống phân cấp cell, môđun và gói pin/hệ thống pin để chuyển đổi mục đích sử dụng. Điều này nhằm đảm bảo rằng các cụm sử dụng các cell và môđun được chuyển đổi mục đích sử dụng được tháo rời khỏi các gói pin đã sử dụng trước đó sử dụng sự kết hợp giữa các cell, môđun và gói pin đã qua sử dụng được cân bằng và khớp một cách thích hợp để ngăn ngừa các vấn đề về hiệu suất và an toàn trong quá trình lắp ráp cuối cùng.

17.8.2 OEM chế tạo lại phải có hệ thống phân cấp gói pin/hệ thống pin để chế tạo lại dựa trên tình trạng sức khỏe đã xác định của chúng.

17.8.3 Các cell và môđun đã được tháo rời khỏi gói pin và các gói pin được cho là phù hợp để chuyển đổi mục đích sử dụng thông qua đánh giá và thử nghiệm phải được phân cấp theo cách để đảm bảo chúng được lắp ráp với các cell, môđun và gói pin tương đương liên quan đến năng lượng còn lại có thể sử dụng và tình trạng sức khỏe.

17.8.4 Nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại phải có tiêu chí xác định để phân cấp pin. Nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại nên sử dụng giới hạn 6 sigma hoặc hẹp hơn so với các giá trị tham số pin mới làm tiêu chí cho các đặc tính, chẳng hạn như OCV, dung lượng, nội trở, khối lượng, kích thước, v.v. Ví dụ pin nằm trong phạm vi 6 sigma được quy định cho mỗi thuộc tính có thể được xếp vào một cấp cụ thể liên quan đến giới hạn sigma đó.

17.8.5 Như một phần của hệ thống phân cấp, pin phải được nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại xác định và ghi lại về cấp được chỉ định sau khi hoàn thành việc đánh giá bao gồm cả thử nghiệm và được phân loại thành các cấp quy định trước khi được lắp ráp lại thành một môđun hoặc cụm pin.

MỤC V - TÍNH NĂNG

18 Thử nghiệm dùng cho quá trình phân loại và phân cấp

18.1 Quy định chung

18.1.1 Ngoài việc kiểm tra hư hỏng theo 17.4, các quy trình thử nghiệm sau đây phải được tiến hành bởi nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại như một phần của quá trình phân tích thường xuyên cụm pin khi được đưa đến:

a) Đo điện áp hở mạch (OCV) đầu vào (18.2);

b) Kiểm tra cách ly điện áp cao đầu vào (18.3);

c) Kiểm tra dung lượng (18.4);

d) Kiểm tra nội trở (18.5);

e) Kiểm tra các bộ phận điều khiển và bảo vệ BMS (18.6);

f) Thử nghiệm chu trình xả/sạc (theo dõi nhiệt độ, điện áp và dòng điện của cell và môđun) (18.7);

g) Tự xả (18.8).

18.1.2 Để tiến hành các thử nghiệm này, khi tham chiếu thông số kỹ thuật ban đầu, áp dụng cho thông số kỹ thuật của pin được báo cáo bởi nhà chế tạo ban đầu của hạng mục đó.

18.1.3 Quy trình thử nghiệm trong 18.4, 18.5, 18.7 và 18.8 phải được tiến hành trên toàn bộ gói pin/hệ thống pin để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại và cả trên bộ phận tháo rời dự định nhỏ nhất của nó để chuyển đổi mục đích sử dụng. Ví dụ, nếu bộ phận được tháo rời nhỏ nhất là một môđun thì việc thử nghiệm được thực hiện trên toàn bộ gói pin/hệ thống pin và cả trên các môđun được thiết kế để chuyển đổi mục đích sử dụng. Nếu bộ phận được tháo rời nhỏ nhất là một cell thì việc thử nghiệm được thực hiện trên toàn bộ gói pin/hệ thống pin và cả trên các cell được thiết kế để chuyển đổi mục đích sử dụng.

18.1.4 Nếu nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng chỉ có ý định chuyển đổi mục đích sử dụng môđun hoặc cell thì chỉ yêu cầu thử nghiệm trên gói pin/hệ thống pin là OCV đầu vào (18.2) và thử nghiệm kiểm tra cách ly điện áp cao đầu vào (18.3). Các thử nghiệm của 18.4 đến 18.8 có thể được miễn đối với gói pin/hệ thống pin nếu không chuyển đổi mục đích sử dụng gói pin/hệ thống pin mà chỉ chuyển đổi mục đích sử dụng các môđun và cell đã tháo rời.

18.1.5 Tất cả dữ liệu thu được trong quá trình thử nghiệm nêu trên phải được ghi lại và so sánh với các giá trị được quy định để xác định xem chúng có nằm trong mức chấp nhận được đối với các tham số hay không. Các DUT nằm trong mức chấp nhận được sẽ được nhóm lại theo phạm vi dung sai theo 17.8.

18.1.6 Pin hoặc các bộ phận nằm ngoài giới hạn thử nghiệm cụ thể sẽ bị loại bỏ theo quy trình chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại của 17.3 và Điều 20.

18.1.7 Các bộ phận được đo (tức là gói pin/hệ thống pin, môđun và pin) phải được gán số theo dõi nhằm mục đích theo dõi trong quá trình thực hiện.

18.2 Đo điện áp hở mạch đầu vào (OCV)

18.2.1 Phải thực hiện các phép đo OCV sau đây trên pin và các bộ phận của nó để xác định trạng thái sạc của pin khi cần thiết cho các thử nghiệm khác nhau của tiêu chuẩn này:

a) Hệ thống điện áp cao OCV của gói pin/hệ thống pin;

b) Hệ thống điện áp cao OCV của môđun;

c) Hệ thống điện áp cao OCV của cell.

18.2.2 Tổng điện áp OCV của cell trong môđun phải được so sánh với OCV của môđun, tổng điện áp OCV của môđun trong gói pin/hệ thống pin phải được so sánh với OCV của gói pin/hệ thống pin. Nguyên nhân của bất kỳ sự thay đổi nào phải được xác định và ghi lại. Các cell bị sử dụng sai cần được nhận biết để xác định thêm thông qua thử nghiệm tiếp theo.

18.2.3 Các OCV đo được phải được so sánh với giới hạn điện áp tối thiểu chấp nhận được đối với DUT do nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại chỉ định. Các cell và môđun và gói pin/hệ thống pin được phát hiện lớn hơn hoặc bằng giới hạn điện áp tối thiểu quy định phải chịu các thử nghiệm xử lý khác theo yêu cầu trong tiêu chuẩn này để xác định mức độ chấp nhận. Các DUT có OCV thấp hơn giới hạn điện áp tối thiểu do nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại quy định sẽ bị loại bỏ và thải bỏ theo quy định của 17.3 và Điều 20. Tất cả các phép đo OCV phải được ghi thành văn bản với các bộ phận được đo xác định.

18.3 Kiểm tra cách ly điện áp cao đầu vào

18.3.1 Phải kiểm tra cách ly hệ thống điện áp cao của pin để xác định rằng không có sự đánh thủng cách điện trong pin. Cách điện phải được kiểm tra như nêu trong 18.3.2 đến 18.3.4.

18.3.2 Pin có các phần tiếp cận được đầu tiên phải chịu thử nghiệm điện trở cách điện giữa cực dương và các phần kim loại tiếp đất tiếp cận được của pin và sau đó giữa cực âm và các phần kim loại tiếp đất tiếp cận được của pin. Nếu các phần tiếp cận được của pin được bọc bằng vật liệu cách điện có thể mang điện trong trường hợp cách điện bị hỏng thì điện áp thử nghiệm được đặt vào giữa từng phần mang điện và lá kim loại tiếp xúc với các phần tiếp cận được.

18.3.3 Điện trở cách điện phải được đo sau khoảng thời gian tối thiểu là 60 s bằng thiết bị đo điện trở cách điện sử dụng điện thế 500 V một chiều đặt vào các vị trí cần thử nghiệm.

18.3.4 Điện trở cách điện đo được giữa các cực dương/âm và phần tiếp đất tiếp cận được của pin phải tối thiểu là 100 Ω/V đối với mạch điện một chiều và tối thiểu 500 Ω/V đối với mạch điện xoay chiều hoặc xoay chiều hỗn hợp hoặc 50 000 Ω. Nếu các môđun và cell được thiết kế để chuyển đổi mục đích sử dụng ngay cả trong gói pin có điện trở cách ly thấp thì phải đặc biệt thận trọng khi tháo các gói pin/hệ thống pin đó để nhận biết các mạch có cách ly sự cố. Pin hoặc mạch pin có giá trị thấp hơn các giới hạn này sẽ bị loại bỏ và thải bỏ theo quy định trong 17.3 và Điều 20. Nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại có thể sử dụng từng cell hoặc môđun riêng lẻ từ một pin có điện trở cách điện thấp nếu quy trình của hoặc có thể chứng minh rằng các thành phần này không bị hỏng và phù hợp để chuyển đổi mục đích sử dụng.

18.3.5 Tất cả các biện pháp kiểm tra cách ly điện áp cao phải được ghi lại và pin phải được nhận biết.

18.4 Kiểm tra dung lượng

18.4.1 Việc kiểm tra dung lượng của pin (cell, môđun hoặc gói pin/hệ thống pin) phải được tiến hành theo thử nghiệm dung lượng tiêu chuẩn do nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại quy định. Trường hợp chưa có phương pháp thử nghiệm dung lượng tiêu chuẩn thì thử nghiệm kiểm tra dung lượng được thực hiện như trong 18.4.2 đến 18.4.4 dưới đây.

18.4.2 Cell, môđun hoặc gói pin/hệ thống pin phải được sạc theo thông số kỹ thuật của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại ở nhiệt độ phòng cho đến khi được sạc đầy. DUT phải duy trì ở trạng thái nghỉ trong điều kiện nhiệt độ phòng ở trạng thái sạc đầy trong khoảng thời gian từ 1 h đến 4 h.

18.4.3 Khi kết thúc giai đoạn nghỉ, DUT phải chịu xả với dòng điện không đổi hoặc xả với công suất không đổi ở tốc độ xả tiêu chuẩn của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại cho đến khi đạt đến điều kiện cuối xả. Phải ghi lại dung lượng theo cường độ và/hoặc dung lượng năng lượng đã xả khi đạt đến điều kiện cuối xả quy định.

18.4.4 Dung lượng của DUT đã qua sử dụng phải được tính toán bằng cách sử dụng các giá trị đo được về dòng điện và thời gian và được ghi thành văn bản. Giá trị đo được về dung lượng này phải được so sánh với các tham số đặc trưng của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc dữ liệu nhận được về dung lượng của DUT. Các DUT có dung lượng đo được cho thấy mức giảm lớn hơn giới hạn dung lượng do nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại quy định phải bị loại bỏ và thải bỏ theo quy định của 17.3 và Điều 20.

18.4.5 Tất cả các phép đo dung lượng phải được ghi lại cùng với nhận biết của các DUT được đo. Các cell và môđun không bị loại bỏ phải được phân loại theo dung lượng sẵn có thành các nhóm theo 17.8.

18.5 Kiểm tra nội trở

18.5.1 Phải tiến hành kiểm tra nội trở của pin (gói pin, môđun hoặc cell). Thử nghiệm này phải tuân theo thử nghiệm kiểm tra dung lượng của 18.4. Thử nghiệm phải được tiến hành theo thử nghiệm điện trở tiêu chuẩn do nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại quy định. Nếu không có sẵn thử nghiệm điện trở tiêu chuẩn thì thử nghiệm phải được tiến hành như trong 18.5.2 đến 18.5.7 dưới đây. Nếu gói pin hoàn chỉnh được thiết kế để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại thì phải có kiểm tra điện trở bổ sung ở cấp độ môđun (hoặc cấp độ cell nếu pin không chứa môđun) tại các vị trí mà cell có thể phải chịu các điều kiện nhiệt khắc nghiệt nhất trong quá trình sử dụng do vị trí của chúng trong gói pin.

18.5.2 DUT phải được sạc theo thông số kỹ thuật của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại trong điều kiện nhiệt độ phòng cho đến khi DUT ở trạng thái được sạc đầy. Sau đó, mẫu ở trạng thái được sạc đầy phải được đặt ở nhiệt độ phòng trong khoảng từ 30 min đến 4 h.

18.5.3 DUT phải được xả ở tốc độ dòng điện không đổi I ₁ ​, được nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại quy định ở nhiệt độ phòng trong khoảng thời gian T ₁ ​ do nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại quy định (thường là thời gian xả để đạt tới dung lượng từ 80 % đến 90 % SOC), điện áp xả V ₁ ​ khi có tải phải được đo và ghi lại. Sau đó, DUT ngay lập tức phải chịu một dòng xả bổ sung không đối với tốc độ I ₂ = 5 I ₁ trong khoảng thời gian T ₂ ​ do nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại quy định (tính bằng giây, thông thường thời gian xả từ 1 s đến 10 s). Điện áp xả tương ứng V ₂ ​ của DUT được đo khi có tải và được ghi lại khi kết thúc quá trình phóng xung. Điện áp và dòng điện trong quá trình xả phải được ghi lại ở tốc độ không nhỏ hơn 10/T ₂  mẫu trên mỗi giây.

18.5.4 Điện trở phải được tính theo công thức sau và so sánh với giá trị quy định:

trong đó:

R là điện trở một chiều tính bằng ohm (Ω).

V ₁ là phép đo điện áp ban đầu tính bằng vôn (V).​

I ₁ là tốc độ dòng xả ban đầu tính bằng ampe (A).​

V ₂ ​ là phép đo điện áp thứ hai tính bằng vôn (V).

I ₂ là tốc độ dòng xả thứ hai tính bằng ampe (A).

18.5.5 Nội trở của DUT phải được xác định bằng phương pháp nêu trong 18.5.4. Các DUT có nội trở một chiều đo được lớn hơn giá trị quy định bởi nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại dựa trên ứng dụng chuyển đổi mục đích sử dụng dự kiến hoặc ứng dụng ban đầu để chế tạo lại phải bị loại bỏ và thải bỏ theo quy định của 17.3 và Điều 20.

18.5.6 Tất cả các phép đo nội trở một chiều phải được ghi lại cùng với các DUT được đo xác định. Tất cả các nội trở cũng phải được phân loại dựa trên dung lượng còn lại, chu kỳ làm việc trước đó và khí hậu trước đó, nếu biết, cũng như dữ liệu lịch sử được sử dụng để so sánh với các mẫu tương tự.

18.5.7 DUT phải được xả liên tục đến 20 % SOC theo phương pháp do nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại quy định và sau đó được để ở nhiệt độ phòng từ 30 min đến 4 h. Phép đo nội trở sau đó phải được lập lại trên các mẫu có SOC ở mức 20 % theo các điều từ 18.5.3 đến 18.5.4.

18.5.8 Các DUT chưa bị loại bỏ phải chịu các quy trình chuyển đổi mục đích sử dụng tiếp theo.

18.6 Kiểm tra các bộ phận điều khiển và bảo vệ BMS

18.6.1 Nếu BMS và bất kỳ bộ phận bảo vệ nào khác được sử dụng để chuyển đổi mục đích sử dụng thì phải tiến hành kiểm tra để đảm bảo rằng chúng hoạt động như mong đợi trên pin.

18.6.2 Phải tiến hành kiểm tra chức năng của BMS và các bộ phận bảo vệ khác để xác định rằng chúng phù hợp để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại, việc kiểm tra chức năng phải bao gồm cả các tham số về hiệu suất và an toàn để đảm bảo chức năng của các bộ phận này.

18.6.3 Khi đánh giá BMS về chức năng, phải thu thập và xem xét dữ liệu của nó bao gồm các thông báo lỗi để xác định xem BMS có thể được sử dụng để chuyển đổi mục đích sử dụng hay không. Xem Phụ lục A.

18.6.4 Các bộ phận kể cả BMS được đặt trong mạch điện áp cao phải được đánh giá về việc hỏng cách điện thông qua kiểm tra và thử nghiệm điện áp chịu điện môi nếu cần thiết. Giá trị kiểm tra điện áp và phương pháp kiểm tra phải phù hợp với tiêu chuẩn pin ứng dụng sử dụng cuối hiện hành được nêu trong Bảng 6.1.

18.6.5 Nếu BMS hoặc các biện pháp kiểm soát khác được xác định là không phù hợp để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại thì chúng sẽ bị loại bỏ theo quy định trong 17.3 và Điều 20.

18.7 Thử nghiệm chu trình xả/sạc điện (nhiệt độ, điện áp, dòng điện của cell và môđun)

18.7.1 Pin (gói pin/hệ thống pin, môđun hoặc cell phải chịu chu kỳ xả/sạc trong khi theo dõi nhiệt độ, điện áp và dòng điện để đảm bảo rằng các cell hoặc môđun thành phần đang hoạt động theo thông số kỹ thuật của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc thông số kỹ thuật của OEM chế tạo lại.

18.7.2 Các mẫu phải được xả và sạc trong ít nhất 1 chu kỳ ở nhiệt độ phòng. Nếu nhiệt độ môi trường làm việc tối thiểu do nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng quy định cho ứng dụng được chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc bởi OEM chế tạo lại cho ứng dụng ban đầu để chế tạo lại bằng hoặc thấp hơn 0 °C (32 °F), thì mẫu cũng phải được xả và sạc trong ít nhất 1 chu kỳ ở nhiệt độ môi trường hoạt động tối thiểu đó ±2 °C (±3,6 °F).

18.7.3 Khi kết nối pin với nguồn cung cấp, pin phải được sạc theo yêu cầu kỹ thuật, đồng thời theo dõi nhiệt độ, điện áp và dòng điện trên từng cell hoặc môđun riêng lẻ trong quá trình sạc cho đến khi pin đạt trạng thái sạc đầy. Khi kết thúc quá trình sạc, pin phải được xả trong điều kiện tải bình thường, tối đa do nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng quy định dựa trên ứng dụng được chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc bởi OEM chế tạo lại cho ứng dụng ban đầu để chế tạo lại trong khi theo dõi nhiệt độ, điện áp và dòng điện trên các cell và môđun.

18.7.4 Nhiệt độ, điện áp và dòng điện trên cell và môđun đo được phải được so sánh với thông số kỹ thuật để xác định xem chúng có nằm trong giới hạn quy định hay không. Các DUT có cell và môđun nằm ngoài các giới hạn về nhiệt độ, điện áp và dòng điện do nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại quy định sẽ bị loại bỏ và thải bỏ theo quy định của 17.3 và Điều 20.

18.8 Tự xả

18.8.1 Các môđun và cell phải được đánh giá về khả năng tự xả theo 18.8.2 như một phần của việc xác định tình trạng sức khỏe của nó. Tùy thuộc vào mức độ tháo rời để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại (tức là cell, môđun hoặc gói pin), việc tự xả phải được kiểm tra ở cấp độ cell và ở cấp độ môđun. Để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại các gói pin hoàn chỉnh, tất cả các môđun phải được kiểm tra và các pin được chọn để kiểm tra mức tự xả phải là các pin ở những vị trí được coi là chịu các điều kiện nhiệt trong trường hợp xấu nhất trong quá trình sử dụng.

18.8.2 Các DUT phải được sạc ở trạng thái sạc đầy và sau đó được bảo quản trong môi trường được kiểm soát ở nhiệt độ phòng trong ít nhất 1 ngày. OCV của DUT được sạc đầy phải được ghi lại ở 5 min, 1 h và 24 h sau khi sạc và khi kết thúc thời gian bảo quản nếu dài hơn 24 h hoặc tốc độ lấy mẫu cao hơn do nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại quy định trong giai đoạn bảo quản. OCV đo được ở mỗi giai đoạn bảo quản phải được so sánh với giới hạn tự xả có thể chấp nhận được do nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại quy định.

18.8.3 Phải ghi lại các phép đo tự xả cùng với nhận biết các DUT được đo.

18.8.4 Các DUT có mức tự xả lớn hơn giá trị quy định của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại phải bị loại bỏ và thải bỏ theo quy định trong 17.3 và Điều 20. Các DUT chưa bị loại bỏ phải được đưa vào quá trình tiếp theo.

18.9 Đặc tính an toàn và hiệu suất của cell

18.9.1 Nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại phải có chương trình thu thập dữ liệu dài hạn về các mẫu cell cũ đại diện cho các mẫu để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại. Đối với những thiết kế môđun mà các cell không thể tách rời để thu thập dữ liệu này, việc kiểm tra này có thể được thực hiện ở cấp độ môđun. Dữ liệu này sẽ được sử dụng để mô tả rõ hơn hiệu suất và độ an toàn của pin đã qua sử dụng nhằm thông báo các cải tiến quy trình của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại. Xem Phụ lục C để được hướng dẫn thêm.

19 Thử nghiệm pin chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc pin được chế tạo lại đã lắp ráp

19.1 Các cụm lắp ráp sử dụng pin đã được chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc pin được chế tạo lại phải tuân theo các thử nghiệm ứng dụng cụ thể đối với các pin đó. Xem Bảng 6.1 để biết danh mục các tiêu chuẩn pin cụ thể cho ứng dụng sẽ được sử dụng cho các yêu cầu thử nghiệm.

19.2 Các cụm lắp ráp sử dụng pin được chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc pin được chế tạo lại phải tuân thủ các thử nghiệm trong quy định vận chuyển trước khi vận chuyển.

19.3 Các mẫu được sử dụng để thử nghiệm phải đại diện cho mục đích thiết kế với tình trạng sức khỏe đại diện cho trường hợp xấu nhất đối với một thử nghiệm nhất định (ví dụ các mẫu có mức năng lượng cao nhất có thể là trường hợp xấu nhất đối với một số thử nghiệm nhất định), sử dụng các cell/môđun được chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại thực tế đã hoàn thành quy trình chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại theo Điều 16 đến Điều 18.

20 Quy trình thải bỏ các bộ phận bị hư hỏng và bị loại bỏ

20.1 Bất kỳ bộ phận nào được xác định là loại bỏ khỏi chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại, kể cả các bộ phận được xác định để thải bỏ, bao gồm nhưng không giới hạn ở các cell, môđun và pin hoàn chỉnh bị loại bỏ phải được ghi lại và sau đó được thải bỏ theo quy trình thải bỏ của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại và theo các quy định hiện hành. Quá trình này cũng phải xác định các bộ phận được dự định để tái chế.

20.2 Phương pháp ghi lại và thải bỏ các bộ phận bị loại bỏ phải ngăn ngừa việc đưa lại bất kỳ bộ phận nào vào quá trình tái sử dụng.

MỤC VI - ĐÓNG GÓI VÀ VẬN CHUYỂN

21 Quy định chung

21.1 Pin, môđun và cell được đánh giá để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại phải được cung cấp bao bì khi vận chuyển theo các quy định vận chuyển và phải được giữ chắc chắn bên trong bao bì để tránh gây ngắn mạch hoặc hư hỏng do các điều kiện vận chuyển dự kiến.

MỤC VII - GHI NHÃN

22 Quy định chung

Lưu ý: Các nhãn theo yêu cầu của tiêu chuẩn này có thể được cung cấp bằng các ngôn ngữ khác để phù hợp với yêu cầu ngôn ngữ của quốc gia hoặc khu vực nơi sản phẩm sẽ được sử dụng.

22.1 Tất cả các ghi nhãn cần thiết phải bền lâu và dễ đọc với màu chữ tương phản với màu nền. Bất kỳ ký hiệu nào được sử dụng phải được cung cấp trong tài liệu kèm theo phần giải thích về ký hiệu.

22.2 Như một phần của quá trình chuyển đổi mục đích sử dụng, tất cả các ghi nhãn của nhà chế tạo ban đầu (ví dụ tấm nhãn, model, thương hiệu (bên ngoài và đối với các môđun và cell bên trong)) phải được loại bỏ và thay thế bằng các ghi nhãn được cung cấp như một phần của việc chuyển đổi mục đích sử dụng pin. Điều này bao gồm các ghi nhãn trên tấm nhãn của pin được chuyển đổi mục đích sử dụng theo Điều 23 để tránh nhầm lẫn trong việc ai là người chịu trách nhiệm về pin được chuyển đổi mục đích sử dụng. Tất cả các tấm nhãn, model, thương hiệu (bên ngoài và bên trong) sẽ được loại bỏ để đảm bảo không có tham chiếu đến OEM sau khi sản phẩm được chuyển đổi mục đích sử dụng.

Ngoại lệ 1: Không cần phải loại bỏ ghi nhãn của nhà chế tạo ban đầu đối với các môđun và cell bên trong nếu không tháo rời gói pin hoàn chỉnh thành các môđun hoặc cell để chuyển đổi mục đích sử dụng.

Ngoại lệ 2: Đối với các ghi nhãn OEM được in trên pin mà chúng không dễ bị loại bỏ, chúng có thể được phủ bởi các ghi nhãn được cung cấp như một phần trong quá trình chuyển đổi mục đích sử dụng pin.

Ngoại lệ 3: Không cần phải loại bỏ ghi nhãn của nhà chế tạo ban đầu nếu đó là cùng một tổ chức thực hiện việc chuyển đổi mục đích sử dụng và thông tin trên nhãn vẫn áp dụng được. Pin được chuyển đổi mục đích sử dụng sẽ cần được ghi nhãn theo Điều 23 để chỉ ra rằng nó đã được chuyển đổi mục đích sử dụng.

22.3 Như một phần của quá trình chế tạo lại, tất cả các ghi nhãn từ nhà chế tạo ban đầu (ví dụ: tấm nhãn, model, thương hiệu (bên ngoài và đối với các môđun và cell bên trong) không cần phải loại bỏ nếu không tháo rời gói pin.

23 Ghi nhãn trên tấm nhãn

23.1 Pin, môđun và cell được chuyển đổi mục đích sử dụng phải có ghi nhãn trên tấm nhãn bao gồm các thông số đặc trưng về điện (tức là điện áp danh nghĩa, dung lượng và/hoặc thông số đặc trưng oát- giờ); chất hoá học; số hiệu model; tên, tên thương mại hoặc thương hiệu của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng; hoặc ghi nhãn mô tả khác để có thể xác định tổ chức chịu trách nhiệm về sản phẩm được chuyển đổi mục đích sử dụng. Ghi nhãn này cũng phải có ngày chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng, có thể ở dạng mã và các bộ phận được chuyển đổi mục đích sử dụng cũng phải được ghi nhãn là "Được chuyển đổi mục đích sử dụng" và "UL 1974" hoặc "TCVN 14474".

23.2 Thông tin bổ sung trên tấm nhãn phải được cung cấp theo tiêu chuẩn ứng dụng dự kiến. Xem Bảng 6.1. Đối với các cell được chuyển đổi mục đích sử dụng không được lắp ráp thành môđun hoặc gói pin, ngoại trừ số hiệu model được chuyển đổi mục đích sử dụng và tên, tên thương mại hoặc thương hiệu của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng, một số thông tin trên tấm nhãn (tức là thông số đặc trưng về điện) có thể được cung cấp trên tờ thông số kỹ thuật đi kèm khi vận chuyển với các cell thay vì được ghi nhãn trên các cell nếu không gian không cho phép.

23.3 Pin được chế tạo lại phải có ghi nhãn trên tấm nhãn bao gồm các thông số đặc trưng về điện (tức là điện áp danh nghĩa, dung lượng và/hoặc thông số đặc trưng oát- giờ); chất hoá học; số hiệu model; tên, tên thương mại hoặc nhãn hiệu của nhà chế tạo; hoặc ghi nhãn mô tả khác mà để có thể xác định tổ chức chịu trách nhiệm về sản phẩm chế tạo lại. Ghi nhãn này cũng phải có ngày chế tạo lại, có thể ở dạng mã và cũng phải được ghi nhãn là "Chế tạo lại", "Tân trang lại" hoặc "Dựng lại" và "UL 1974" hoặc "TCVN 14474".

24 Các ghi nhãn khác

24.1 Các ghi nhãn khác phù hợp với yêu cầu ứng dụng dự kiến phải được cung cấp như đã nêu trong tiêu chuẩn ứng dụng. Xem Bảng 6.1.

MỤC VIII - HƯỚNG DẪN

25 Quy định chung

25.1 Hướng dẫn bảo quản, lắp đặt, vận hành, bảo trì và thải bỏ phải được cung cấp phù hợp với tiêu chuẩn ứng dụng sử dụng cuối dự kiến. Xem Bảng 6.1. Tất cả thông tin được cung cấp trên các ghi nhãn trong Điều 22 đến Điều 24, phải được bao gồm trong thông tin được đóng gói cùng với thiết bị.

26 Hướng dẫn bảo trì định kỳ

26.1 Hướng dẫn liên quan đến bảo trì định kỳ và thử nghiệm chẩn đoán thực hiện trên hệ thống được chuyển đổi mục đích sử dụng được cung cấp cùng với quy định tần suất và thời điểm cần thực hiện bảo trì định kỳ và thử nghiệm chẩn đoán. Xem Phụ lục D đối với bảo trì định kỳ và thử nghiệm chẩn đoán khuyến cáo. Hướng dẫn phải bao gồm các quy trình an toàn cần tuân thủ nếu có các kết quả kiểm tra bất thường trong quá trình thử nghiệm chẩn đoán và bảo trì, ví dụ như thay thế các môđun hoặc bộ phận hợp thành.

 

Phụ lục A

(tham khảo)

Thông tin hữu ích có thể được thu thập từ BMS

Bảng A.1 cung cấp hướng dẫn về thông tin hữu ích có thể được thu thập từ BMS của pin để sử dụng cho việc chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại nếu có sẵn.

Bảng A.1 - Dữ liệu BMS hữu ích cần trích xuất

 

Phụ lục B

(tham khảo)

Ghi nhãn an toàn

Phụ lục này đưa ra các nội dung ghi nhãn cần thiết bằng tiếng Việt và tiếng Anh.

Bảng B.1 - Ghi nhãn an toàn

 

Phụ lục C

(tham khảo)

Tính năng của cell và môđun và đặc tính an toàn

C1 Quy định chung

C1.1 Phụ lục này được cung cấp làm tài liệu hướng dẫn cho các nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng và OEM chế tạo lại liên quan đến việc thử nghiệm các cell hoặc môđun đã sử dụng để thu thập dữ liệu. Sau đó, dữ liệu này có thể được sử dụng để hiểu rõ hơn về độ an toàn của các cell và môđun đã qua sử dụng mà các nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng và OEM chế tạo lại có thể sử dụng để cải thiện quy trình chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại của họ. Nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại nên phát triển các quy trình riêng của họ để thu thập dữ liệu này thông qua việc kiểm tra các cell và môđun đã sử dụng đại diện cho những cell và môđun đang được sử dụng để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại và nếu có sẵn, truy cập dữ liệu BMS từ hệ thống pin đã sử dụng có thể cung cấp đầu vào về việc sử dụng và hồ sơ tính năng của cell và môđun trong ứng dụng sử dụng đầu tiên.

C1.2 Thử nghiệm này được tiến hành ở cấp độ cell, nhưng có thể được tiến hành ở cấp môđun đối với những môđun không thể tháo rời thành các cell riêng lẻ.

C2 Các thử nghiệm để xác định đặc tính tính năng và độ an toàn của cell đã qua sử dụng

C2.1 Đặc tính tính năng của cell sau lão hóa

C2.1.1 Như một phần của quy trình thu thập dữ liệu dài hạn nhằm cung cấp thông tin cho quá trình phân loại và phân cấp để chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại, cần thực hiện việc so sánh đặc tính tính năng và an toàn của cell dựa trên dữ liệu/thông tin được thu thập trong quá trình chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại với các giá trị đo thực tế trên các sản phẩm sau lão hóa để xác định:

a) Tốc độ tự xả cơ bản của cell theo 18.8; và

b) Tính năng sạc/xả của cell ở nhiệt độ môi trường xung quanh thấp và bình thường (dựa trên thông số kỹ thuật của nhà chế tạo) theo 18.7.

C2.2 So sánh SOH của cell đối với các cell lão hóa

C2.2.1 Cần thực hiện so sánh tình trạng sức khỏe của cell giữa các giá trị nhận được của cell mới hoặc thông số kỹ thuật của nhà chế tạo cell đối với cell mới và các cell lão hóa để hiểu những thay đổi về tính năng và an toàn dựa trên quá trình lão hóa. Phân tích này có thể giúp xác định việc chấp nhận sử dụng cell cho chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc chế tạo lại, đặc biệt khi không có sẵn dữ liệu BMS về việc sử dụng trước đó và mức độ tiếp xúc với môi trường của cell trong ứng dụng đầu tiên.

C2.2.2 Nếu có sẵn từ nhà chế tạo pin ban đầu, dữ liệu OCV và SOC của pin có thể được sử dụng để xây dựng biểu đồ phần trăm độ giảm dung lượng trong suốt vòng đời của pin (ví dụ độ giảm dung lượng dưới 0 %, 5 %, 10 %, 15 %, 20 %). Nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM nên duy trì thông tin này để xác định tỷ lệ phần trăm độ giảm dung lượng cho quá trình phân loại.

C2.2.3 Nếu có sẵn từ nhà chế tạo ban đầu, nên duy trì tốc độ tự xả cơ bản (SDR) trong suốt vòng đời của cell (ví dụ độ giảm dung lượng dưới 0 %, 5 %, 10 %, 15 %, 20 %) bởi nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại để xác định SOH của cell.

C2.3 Thay đổi ranh giới an toàn cho cell lão hóa

C2.3.1 Như một phần của dữ liệu cell có thể được thu thập để xác định sự thay đổi ranh giới an toàn của thiết kế cell sau quá trình lão hóa, các thử nghiệm an toàn có thể được tiến hành trên cả cell mới và cell đã lão hóa tại hiện trường để xác định tình trạng sức khỏe của cell đã sử dụng và để xác định việc cải tiến quy trình. Nếu không có sẵn cell mới, báo cáo/dữ liệu thử nghiệm cell ban đầu có thể được sử dụng để so sánh nếu có. Chương trình thử nghiệm sau đây là ví dụ về loại thử nghiệm an toàn pin có thể được sử dụng cho mục đích này:

a) Khả năng chịu quá tải một lần;

b) Khả năng chịu các chu kỳ ứng suất sạc quá mức;

c) Khả năng chịu các chu kỳ ứng suất xả quá mức;

d) Khả năng chịu nhiệt quá mức;

e) Khả năng chịu ngắn mạch bên trong (ISC) và ngắn mạch bên ngoài (ESC);

f) Khả năng chịu các điều kiện lạm dụng khác tùy theo (các) kịch bản ứng dụng.

C2.3.2 Có thể thực hiện so sánh giữa dữ liệu mẫu cell mới/đã nhận và dữ liệu mẫu cell cũ/đã sử dụng để xác định xem có cần sửa đổi giới hạn vận hành an toàn dựa trên sự lão hóa của cell hay không.

C2.4 Tài liệu và lưu giữ hồ sơ

C2.4.1 Tất cả các thử nghiệm được thực hiện như một phần của quá trình mô tả đặc tính an toàn và tính năng của cell phải được ghi thành văn bản bao gồm các phương pháp thử nghiệm chi tiết, các mẫu được thử nghiệm và kết quả thử nghiệm. Tài liệu này phải được nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc OEM chế tạo lại lưu giữ để phân tích và cải tiến quy trình liên tục.

 

Phụ lục D

(tham khảo)

Bảo trì thường xuyên và các thử nghiệm tương đương và chẩn đoán dùng cho cell và pin được chuyển đổi mục đích sử dụng

D1 Quy định chung

D1.1 Phụ lục này cung cấp hướng dẫn cho các thử nghiệm bảo trì thường xuyên và chẩn đoán được thực hiện trên pin chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc pin chế tạo lại sử dụng các cell chuyển đổi mục đích sử dụng để đảm bảo rằng pin vẫn nằm trong giới hạn vận hành an toàn trong suốt vòng đời của pin chuyển đổi mục đích sử dụng.

D2 Thử nghiệm bảo trì thường xuyên và chẩn đoán

D2.1  Đối với pin chuyển đổi mục đích sử dụng, phải thực hiện thử nghiệm bảo trì thường xuyên và chẩn đoán định kỳ tương tự như thử nghiệm tính năng nhưng không bao gồm việc tháo gói pin để đảm bảo duy trì tính toàn vẹn của hệ thống và an toàn. Các yêu cầu đối với BMS có thể khác nhau tùy theo thành phần hóa học của pin. Tối thiểu phải đo điện áp và nhiệt độ của môđun đối với các thành phần hóa học của pin như NiCd, axit chì và pin dòng chảy. Đối với hệ thống lithium ion, cần theo dõi điện áp ở cấp độ dãy cell/cell riêng lẻ.

D2.2 Các thử nghiệm bảo trì bao gồm:

a) Kiểm tra cách ly điện áp cao của gói pin theo 18.3 ;

b) Kiểm tra BMS theo 18.6, cộng với BMS tự kiểm tra;

c) Kiểm tra điện áp hở mạch (OCV) của cell, nếu có, theo 18.2.3, trong đó OCV ở cấp độ cell được lấy trực tiếp từ BMS. Các cell có OCV thấp hơn giới hạn điện áp tối thiểu do nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng quy định sẽ được coi là bị hỏng và toàn bộ môđun phải được thay thế trước khi sử dụng lại hệ thống pin chuyển đổi mục đích sử dụng;

d) Kiểm tra dung lượng của cell, nếu có, và kiểm tra dung lượng của môđun theo 18.4;

e) Kiểm tra nội trở của cell, nếu áp dụng, theo 18.5.3;

f) Kiểm tra tự xả, nếu áp dụng, theo 18.8.2 như một phần của việc xác định tình trạng sức khỏe của pin.

D2.3 Chẩn đoán cũng dựa trên kết quả đo và thử nghiệm của D2.1 và D2.2 cũng như tính nhất quán của các tham số này, dựa trên các tiêu chí về độ tin cậy và an toàn cho gói pin, theo chẩn đoán từ hướng dẫn của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng.

D2.4 Cần thực hiện xem xét trực quan để kiểm tra những vấn đề sau bất cứ khi nào có thể mà không cần tháo hệ thống pin:

a) Tính toán ven của cell và môđun;

b) Không rò rỉ chất điện phân, không bị phồng pin và môđun;

c) Kết nối giữa các cell và dây dẫn, cáp và đầu nối để hở để xác nhận rằng không quan sát thấy hư hỏng vật lý, suy giảm chất lượng hoặc lỏng các kết nối.

D3 Thử nghiệm tương đương và chẩn đoán

D3.1 Thử nghiệm tương đương

D3.1.1 Thử nghiệm tương đương là các thử nghiệm được thực hiện trong các trường hợp thuận tiện để có thể xác định các tham số chính của pin (KBP) như OCV, dung lượng, nội trở và tốc độ tự xả ở cấp độ cell so với các thử nghiệm thường xuyên tương ứng. Các KBP này sau đó được kiểm tra tính nhất quán. Việc kiểm tra, phân tích và chẩn đoán có thể được thực hiện trực tuyến bằng cách trích xuất dữ liệu trong quá trình sạc liên tục thông thường hoặc trực tiếp đo điện trở cell trên máy kiểm tra di động tại hiện trường. Các thử nghiệm tương đương phải được hiệu chuẩn theo các khoảng thời gian thích hợp để duy trì tính nhất quán và đủ độ chính xác, đồng thời được xác nhận bằng các thử nghiệm bảo trì theo hướng dẫn của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng. Các thử nghiệm tương đương được đề xuất như sau:

a) Thử nghiệm OCV: Kiểm tra OCV của cell, theo 18.2.3;

b) Thử nghiệm/kiểm tra dung lượng: dựa trên đường cong OCV-V với dòng xả không đổi, I, dung lượng của cell có thể được tính như sau:

trong đó:

Q _imax Dung lượng của cell i

∆Q _i Thay đổi dung lượng tương ứng với hai đỉnh a, b của đường cong dQ/dV của cell i

∆SOC _i Thay đổi SOC tương ứng với hai đỉnh a, b của đường cong dQ/dV của cell i

CHÚ THÍCH: Hai đỉnh a, b của đường cong dQ/dV và SOC tương ứng được hiển thị trên Hình D.1.

c) Thử nghiệm nội trở:

1) Quá trình sạc không đổi: Nội trở của cell trong gói pin hoặc môđun có thể được tính như sau:

trong đó:

R _i Nội trở của cell

OCV Điện áp hở mạch

V _imin Điện áp tối thiểu của cell dưới dòng sạc không đổi

I Dòng xả

2) Quá trình xả: Có thể thử nghiệm nội trở của từng cell pin của gói pin hoặc môđun bằng cách xả gói pin hoặc môđun với tải điện trở đã biết sao cho dòng xả I là hằng số. Bằng cách đo chênh lệch điện áp, ∆V _i của mỗi cell i, thì nội trở của cell có thể được tính như sau:

trong đó:

a Thời gian nghỉ cuối cùng được ghi lại trước khi áp dụng dòng xả I (I _a = 0)

b Thời gian được ghi lại khi dòng xả kích thích I được áp dụng (I _b = I)

R _i Nội trở của cell i

∆I Thay đổi dòng xả giữa a, b như thể hiện trên Hình D.2

∆V _i Thay đổi điện áp của cell tương ứng i như thể hiện trên Hình D.3

d) Kiểm tra tự xả: Tự xả của một cell có thể được định lượng bằng cách tính sự mất dung lượng trong thời gian nghỉ dài (> 10 h), trong đó điện áp ban đầu (i) và điện áp cuối cùng (i) là điện áp ở đầu và cuối của phạm vi nghỉ của một cell cụ thể, một cách tương ứng, sự thay đổi của SOC (∆SOC) (i) có thể được xác định bằng cách tham khảo các tương quan OCV-SOC, đối với cell (i), i = 1, 2, ...N.

Ngoại lệ: Các thử nghiệm tương đương và chẩn đoán có thể thay cho thử nghiệm bảo trì thường xuyên được xác định trong Điều D2 nếu tổ chức thực hiện các thử nghiệm bảo trì thường xuyên và chẩn đoán có thể chứng minh rằng các kết quả ước tính của các thử nghiệm tương đương cho dung lượng, nội trở và tốc độ tự xả nằm trong phạm vi sai số chấp nhận được do nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng quy định.

D3.1.2 Trách nhiệm của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích là biện minh sự tương đương, hoặc đảm bảo an toàn của các gói pin giữa các lần thử nghiệm bảo trì. Khi các thử nghiệm tương đương không thể chứng minh được sự an toàn, thì phải thực hiện thử nghiệm bảo trì.

Hình D.1 - dQ/dV theo SOC

 

Hình D.2 - Dòng diện là hàm số của thời gian trong quá trình xả để xác định nội trở

Hình D.3 - Điện áp theo thời gian trong quá trình xả để xác định nội trở

D3.2 Chẩn đoán

D3.2.1 Chẩn đoán dựa trên các kết quả thử nghiệm tương đương của D3.1.1 cũng như tính nhất quán của các tham số chính của pin (KBP) này, dựa trên các tiêu chí độ tin cậy và an toàn cho gói pin, từ chẩn đoán theo hướng dẫn của nhà chế tạo chuyển đổi mục đích sử dụng.

 

Mục lục

Lời nói đầu

MỤC I - GIỚI THIỆU

1 Phạm vi áp dụng

2 Bộ phận hợp thành

3 Đơn vị đo

4 Tài liệu viện dẫn

5 Thuật ngữ và định nghĩa

MỤC II - KẾT CẤU

6 Quy định chung

7 Vật liệu

8 Vỏ bọc

9 Đi dây và đấu nối

10 Khoảng cách điện và mức cách điện

11 Cơ cấu điều khiển

12 Chất làm mát và các hệ thống quan trọng khác

13 Cell và tụ điện hóa

MỤC III - KIỂM SOÁT CHẤT LƯỢNG VÀ AN TOÀN CỦA CÁC TRANG THIẾT BỊ

14 Kiểm soát chất lượng

15 An toàn của các trang thiết bị

MỤC IV - KIỂM TRA CÁC MẪU ĐẦU VÀO

16 Quy định chung

17 Quy trình kiểm tra và phân loại các pin đã qua sử dụng và các bộ phận của chúng

MỤC V - TÍNH NĂNG

18 Thử nghiệm dùng cho quá trình phân loại và phân cấp

19 Thử nghiệm pin chuyển đổi mục đích sử dụng hoặc pin được chế tạo lại đã lắp ráp

20 Quy trình thải bỏ các bộ phận bị hư hỏng và bị loại bỏ

MỤC VI - ĐÓNG GÓI VÀ VẬN CHUYỂN

21 Quy định chung

MỤC VII - GHI NHÃN

22 Quy định chung

23 Ghi nhãn trên tấm nhãn

24 Các ghi nhãn khác

MỤC VIII - HƯỚNG DẪN

25 Quy định chung

26 Hướng dẫn bảo trì định kỳ

Phụ lục A (tham khảo) Thông tin hữu ích có thể được thu thập từ BMS

Phụ lục B (tham khảo) Ghi nhãn an toàn

Phụ lục C (tham khảo) Tính năng của cell và môđun và đặc tính an toàn

Phụ lục D (tham khảo) Bảo trì thường xuyên và các thử nghiệm tương đương và chẩn đoán dùng cho cell và pin được chuyển đổi mục đích sử dụng

[1] Hệ thống tiêu chuẩn quốc gia đã có TCVN 11919-2:2017 hoàn toàn tương đương với IEC 62133-2:2017.