Tiêu chuẩn Quốc gia TCVN 6749-4-2:2017 IEC 60384-4-2:2007 Tụ điện không đổi dùng trong thiết bị điện tử - Phần 4-2: Quy định kỹ thuật cụ thể còn để trống: Tụ điện không đổi điện phân nhôm có chất điện phân rắn mangan dioxit - Mức đánh giá EZ

[1]

IEC 60384-4-2-XXX

QC 300302-XXX

[2]

LINH KIỆN ĐIỆN TỬ CÓ CHẤT LƯỢNG ĐƯỢC ĐÁNH GIA PHÙ HỢP VỚI:

IEC 60384-1

IEC 60384-4

[3]

IEC 60384-4-2

QC 300302

(4]

TỤ ĐIỆN ĐIỆN PHÂN CỐ ĐỊNH VỎ NHÔM CÓ CHẤT ĐIỆN PHÂN RẮN (MnO₂)                                         [5]

Bản vẽ hình bao (xem Bảng 1)

(hình chiếu góc...)

[6]

[7]

(Các) mức đánh giá EZ

Cấp tính năng:

[8]

(Được phép có các hình dạng khác trong phạm vi các kích thước đã cho)

Thông tin về có các linh kiện được xác nhận phù hợp với quy định kỹ thuật cụ thể này được cho trong IEC QC 001005

Tham chiếu cỡ của vỏ bọc

Kích thước mm

 Æ

L

H

d

……

CHÚ THÍCH 1: Trường hợp không có tham chiếu cỡ của vỏ bọc, có thể bỏ qua Bảng 1 và các kích thước phải được cho trong Bảng 2, khi đó Bảng 2 trở thành Bảng 1.

CHÚ THÍCH 2: Phải cho các kích thước lớn nhất hoặc các kích thước danh nghĩa cùng với dung sai.

Điện áp danh định

Loại điện áp ^a

Cỡ của vỏ bọc

Cỡ của vỏ bọc

Cỡ của vỏ bọc

Cỡ của vỏ bọc

Điện dung danh định

μF

^a Nếu khác với điện áp danh định.

U_R

C_R

Tang của góc tổn hao ở .... °C, …. Hz

Trở kháng ở .... °C, …. Hz (nếu áp dụng)

Dòng điện gợn sóng danh định ở .... °C, …. Hz

V

μF

Ω

A

Bảng này được sử dụng để xác định các đặc tính bổ sung hoặc khắc nghiệt hơn so với các đặc tính quy định trong quy định kỹ thuật từng phần

Số điều và thử nghiệm^a

D^c hoặc ND^c

Điều kiện thử nghiệm^a

IL

^c

n

^c

c

^c

Các yêu cầu tính năng^a

Kiểm tra nhóm A
(theo lô)

Phân nhóm A0

4.21 Dòng điện xung cao (nếu yêu cầu bởi quy định kỹ thuật cụ thể)

ND

100%^e

Phân nhóm A1

4.1  Kiểm tra bằng mắt

4.2  Kích thước (đo)

ND

S-3^d

^d

0

Như ở 4.2
Ghi nhãn rõ ràng và như quy định ở 1.5 của quy định kỹ thuật này

Như quy định trong Bảng 1 của quy định kỹ thuật này.

Phân nhóm A2

4.3.1  Dòng rò

4.3.2  Điện dung

4.3.3 Tang của góc tổn hao

4.3.4  Trở kháng (nếu áp dụng)

ND

Điện trở bảo vệ:....

Tần số:... Hz

Tần số:... Hz

Tần số:... Hz

S-3^d

^d

0

Như ở 4.3.1.2

Trong khoảng dung sai quy định

Như ở 4.3.3.2

Trong giới hạn quy định ở quy định kỹ thuật cụ thể.

^a Số điều của các thử nghiệm và của các yêu cầu tính năng, tham khảo IEC 60384-4 và Điều 1 của quy định kỹ thuật này.

^b Không áp dụng với tụ điện có chân vặn vít hoặc các chân khác không được thiết kế để hàn, như được nêu trong quy định kỹ thuật cụ thể.

^c Trong bảng này:

IL là mức kiểm tra (IEC 60410)

n là cỡ mẫu;

c là số cho phép các hạng mục không phù hợp

p là định kỳ (tính bằng tháng);

D là phá hủy

ND là không phá hủy

^d Số lượng cần được thử nghiệm: Cỡ mẫu được dành riêng trực tiếp cho chữ cái mã đối với IL trong Bảng II A của lEC 60410.

^e Tiếp theo thử nghiệm 100% phải kiểm tra lại bằng cách lấy mẫu để theo dõi mức chất lượng đầu ra, tính bằng số các hạng mục không phù hợp trên một triệu (ppm). Mức lấy mẫu do nhà chế tạo xác định. Để tính toán các giá trị ppm, bất kỳ trường hợp tham số không đạt nào đều được tính như là một hạng mục không phù hợp. Nếu một hoặc nhiều hạng mục không phù hợp xảy ra trong một bộ mẫu, thì lô này phải bị loại bỏ.

Kiểm tra nhóm B
(theo lô)

Phân nhóm B1

4.6  Khả năng hàn^b

ND

Phương pháp:..

S-3^d

^d

0

Độ bám thiếc tốt với bằng chứng là dòng thiếc hàn chảy tự do, bám thiếc các chân hoặc đáp ứng (các) tham số yêu cầu trong quy định kỹ thuật cụ thể, nếu áp dụng.

Phân nhóm B2

4.19 Đặc tính ở nhiệt độ cao và thấp

ND

Tụ điện phải được đo ở mỗi bước nhiệt độ

Bước 1: 20 °C

Trở kháng (ở tần số giống Bước 2)

Bước 2:

Nhiệt độ dưới của chủng loại

Trở kháng

S-3^d

^d

0

Tỷ số so với giá trị ở Bước 1:≤ 2 lần.

^a Số điều của các thử nghiệm và của các yêu cầu tính năng tham khảo IEC 60384-4 và Điều 1 của quy định kỹ thuật này.

^b Không áp dụng với tụ điện có chân vặn vít hoặc các chân khác không được thiết kế để hàn, như được nêu trong quy định kỹ thuật cụ thể.

^c Trong bảng này:

IL là mức kiểm tra (IEC 60410)

n là cỡ mẫu;

c là số cho phép các hạng mục không phù hợp

p là định kỳ (tính bằng tháng);

D là phá hủy

ND là không phá hủy

^d Số lượng cần được thử nghiệm: Cỡ mẫu được dành riêng trực tiếp cho chữ cái mã đối với IL trong Bảng II a của lEC 60410.

Số điều và thử nghiệm^a

D hoặc ND

Điều kiện thử nghiệm^a

Cỡ mẫu và tiêu chí chấp nhận^c

Yêu cầu tính năng^a

p

n

c

Kiểm tra nhóm C
(chu kỳ)

Xem quy định kỹ thuật cụ thể

Không có hư hại nhìn thấy được

Không có hư hại nhìn thấy được

Ghi nhãn rõ ràng

|∆C/C| ≤ 5% của giá trị đo được ở 4.4.1

Phân nhóm C1A

Phần của cỡ mẫu của phân nhóm C1

4.2  Kích thước
(chi tiết)

4.4.1  Phép đo ban đầu

4.4 Độ vững chắc của các chân

4.5 Khả năng chịu nhiệt hàn*

4.5.2  Phép đo kết thúc

D

Điện dung
Kiểm tra bằng mắt
Phương pháp:...
Mức khắc nghiệt
Không làm khô trước
Phương pháp:...
Kiểm tra bằng mắt

Điện dung

6

9

0

Phân nhóm C1B

Phần còn lại của cỡ mẫu của nhóm C1

4.7.1 Phép đo ban đầu

4.7 Thay đổi nhanh nhiệt độ

4.7.3 Phép đo kết thúc

4.8  Rung

D

Điện dung

T_A = Nhiệt độ dưới của chủng loại
T_B = Nhiệt độ trên của chủng loại 5 chu kỳ
Khoảng thời gian t₁ = 30 min hoặc 3 h
Phục hồi: 16 h
Kiểm tra bằng mắt

Dòng điện rò
Tang của góc tổn hao
Trở kháng

Phương pháp lắp: xem 1.1 của quy định kỹ thuật này
Dải tần số:
... Hz đến... Hz
Biên độ:... mm hoặc
Gia tốc:... m/s2
(chọn giá trị ít khắc nghiệt hơn)

Thời gian tổng: … h

6

18

0

Không có hư hại nhìn thấy được
Như ở 4.3.1
Như ở 4.3.1

Trong giới hạn quy định ở quy định kỹ thuật cụ thể

4.8.2 Phép đo kết thúc

Kiểm tra bằng mắt

Điện dung

Không có hư hại nhìn thấy được

Ghi nhãn rõ ràng

|∆C/C| ≤ 5% của giá trị đo được ở 4.7.1, trừ khi có quy định khác trong quy định kỹ thuật cụ thể.

* Không áp dụng với tụ điện có chân vặn vít hoặc chân không được thiết kế để hàn, như được nêu trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Phân nhóm C1B
(kết thúc)

4.9  Va đập (hoặc xóc, xem 4.10)

4.10  Xóc (hoặc va đập, xem 4.8)

4.9.2 hoặc 4.10.2  Phép đo kết thúc

Phương pháp lắp: xem 1.1 của quy định kỹ thuật này.
Số va đập:....
Gia tốc: 400 m/s²
Khoảng thời gian xung: 6 ms

Phương pháp lắp: xem 1.1 của quy định kỹ thuật này
Gia tốc:... m/s²
Khoảng thời gian xung:... ms

Kiểm tra bằng mắt

Điện dung

Không có hư hại nhìn thấy được và không có rò rỉ chất điện phân
|∆C/C| ≤ 5% của giá trị đo được ở 4.7.1, trừ khi có quy định khác trong quy định kỹ thuật cụ thể.

Phân nhóm C1

Bộ mẫu kết hợp các mẫu của các phân nhóm C1A và C1B
4.11  Trình tự khí hậu
4.11.1  Nóng khô

4.11.2  Nóng ẩm, chu kỳ, thử nghiệm Db, chu kỳ đầu tiên
4.11.3 Lạnh

4.11.4  Áp suất không khí thấp (nếu yêu cầu bởi quy định kỹ thuật cụ thể)
4.11.4.3  Phép đo trung gian

4.11.5  Nóng ẩm, chu kỳ, thử nghiệm Db, các chu kỳ còn lại
4.11.6  Gắn kết (nếu yêu cầu bởi quy định quy định kỹ thuật cụ thể.
4.11.7  Phép đo kết thúc

D

Nhiệt độ:
Nhiệt độ trên của chủng loại Khoảng thời gian: 16 h

Nhiệt độ:
Nhiệt độ trên của chủng loại Khoảng thời gian: 2 h

Áp suất không khí: 8 kPa

Kiểm tra bằng mắt

Phương pháp:...

Kiểm tra bằng mắt

Dòng điện rò
Điện dung

Tang của góc tổn hao

6

27

0

Không có phóng điện đánh thủng, phóng điện bề mặt hoặc biến dạng có hại của vỏ

Không có hư hại nhìn thấy được.
Ghi nhãn rõ ràng
Như ở 4.3.1

|∆C/C|  đối với:

Cấp tuổi thọ dài: ≤ 5%
Cấp mục đích chung:

≤ 10% của giá trị đo được ở 4.5.2, 4.9.2 hoặc 4.10.2 nếu áp dụng.

≤ 1,2 lần giới hạn ở 4.3.3

Phân nhóm C2

4.12  Nóng ẩm, không đổi

4.12.1 Phép đo ban đầu

4.11.3  Phép đo kết thúc

D

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Dòng điện rò

Điện dung

Tang của góc tổn hao

Trở kháng

Điện trở cách điện của cách điện ngoài (nếu áp dụng)

Chịu điện áp của cách điện ngoài (nếu áp dụng)

6

9

0

Không có hư hại nhìn thấy được và không có rò rỉ chất điện phân.

Ghi nhãn rõ ràng

Như ở 4.3.1

∆C/C đối với

Cấp tuổi thọ dài: ≤5%

Cấp mục đích chung:

≤ 10% giá trị đo được ở 4.12.1

≤ 1,2 lần giới hạn ở 4.3.3

≤ 1,2 lần giới hạn ở quy định kỹ thuật cụ thể.

≥ 100 MΩ

Không có phóng điện đánh thủng hoặc phóng điện bề mặt

Phân nhóm C3

4.13  Độ bền

4.13.1  Phép đo ban đầu 4.13.3  Phép đo kết thúc

D

Khoảng thời gian:...h

Nhiệt độ:

Nhiệt độ dưới của chủng loại

Điện áp đặt:...V

Phục hồi: tối thiểu 16 h.

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Dòng điện rò

Điện dung

3

21

0

Không có hư hại nhìn thấy được

Như ở 4.3.1

∆C/C ≤ 10% giá trị đo được ở 4.13.1

Tang của góc tổn hao

Trở kháng

Điện trở cách điện của cách điện ngoài (nếu áp dụng)

Chịu điện áp của cách điện ngoài (nếu áp dụng)

≤ 1,2 lần giới hạn ở 4.3.3

≤ 1,2 lần giới hạn ở quy định kỹ thuật cụ thể.

≥ 100 MΩ

Không có phóng điện đánh thủng hoặc phóng điện bề mặt

Số điều và thử nghiệm^a

D^b hoặc ND

Điều kiện thử nghiệm^a

Cỡ mẫu và tiêu chí chấp nhận^c

Yêu cầu tính năng^a

p

n

c

Phân nhóm C4A

4.14  Xung

4.14.1 Phép đo ban đầu

4.14.3  Phép đo kết thúc

D

Số chu kỳ: 1 000

Nhiệt độ:.... °C

Điện áp nạp:

1,15 U_R hoặc 1,15 U_C
đối với U_R ≤ 315 V
hoặc

1,10 U_R hoặc 1,10 U_C
đối với U_R > 315 V

Khoảng thời gian nạp: 30 s

Khoảng thời gian không tải: 5 min 30 s

Điện dung

Dòng điện rò

Điện dung

Tang của góc tổn hao

12

6

0

Như ở 4.3.1

∆C/C đối với

Cấp tuổi thọ dài: ≤5%

Cấp mục đích chung:

≤ 10% giá trị đo được ở 4.12.1

Như ở 4.3.3

Phân nhóm C4B

4.15 Điện áp ngược
(nếu yêu cầu)

4.15.1 Phép đo ban đầu 4.15.3 Phép đo kết thúc

D

Khoảng thời gian: 125 h, ở nhiệt độ trên của chủng loại với điện áp một chiều 0,15 U_C theo hướng phân cực ngược, sau 125 h ở nhiệt độ trên của chủng loại với điện áp chủng loại ở hướng phân cực thuận

Điện dung

Dòng điện rò

Điện dung

Tang của góc tổn hao

12

6

0

0

Như ở 4.3.1

∆C/C ≤ 10% giá trị đo được ở 4.15.1

Như ở 4.3.3

Phân nhóm C5

4.17  Lưu kho ở nhiệt độ cao^*

4.17.1  Phép đo ban đầu

4.17.3 Phép đo kết thúc

D

Nhiệt độ:

Nhiệt độ trên của chủng loại

Khoảng thời gian: 96 h ± 4 h

Phục hồi: tối thiểu 16 h.

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Dòng điện rò

Điện dung

Tang của góc tổn hao

12

6

0

Không có hư hại nhìn thấy được

Như ở 4.3.1

∆C/C ≤ 5% giá trị đo được ở 4.17.1

Như ở 4.3.3

^* Không áp dụng nếu thử nghiệm được thực hiện ở phân nhóm B1.

Số điều và thử nghiệm^a

D hoặc ND

Điều kiện thử nghiệm^a

Cỡ mẫu và tiêu chí chấp nhận^c

Yêu cầu tính năng^a

p

n

c

Phân nhóm C6

4.19  Đặc tính ở nhiệt độ cao và thấp

4.20  Nạp và phóng (nếu yêu cầu)

4.20.1  Phép đo ban đầu

4.20.3 Phép đo kết thúc

D

Tụ điện phải được đo ở mỗi bước nhiệt độ

Bước 1: 20 °C

Tụ điện ^*

Tang của góc tổn hao

Trở kháng (ở tần số giống Bước 2)

Bước 2:

Nhiệt độ dưới của chủng loại

Điện dung

Trở kháng

Tang của góc tổn hao

Bước 3:

Nhiệt độ trên của chủng loại

Dòng điện rò

Điện dung ^*

Tang của góc tổn hao ^*

Nhiệt độ: 20 °C

Số chu kỳ:

U_R ≤ 160 V: 10⁶

U_R > 160 V:

đang được xem xét

Khoảng thời gian nạp: 0,5 s

Khoảng thời gian phóng: 0,5 s

Điện dung

Kiểm tra bằng mắt

Điện dung

6

15

0

Để sử dụng như là giá trị tham khảo

Để sử dụng như là giá trị tham khảo

∆C/C ≤ 20% giá trị đo được ở 4.15.1

Tỷ số so với các giá trị ở Bước 1:
≤ 2 lần
≤ 2 lần giới hạn ở 4.3.3

Ở 125 °C: ≤ 15 lần giới hạn của 4.3.1
Ở 105°C: ≤ 8 lần giới hạn của 4.3.1
Ở 100 °C: ≤ 12,5 lần giới hạn của 4.3.1

Ở 85 °C: ≤ 10 lần giới hạn của 4.3.1

∆C/C ≤ 20% giá trị đo được ở Bước 1

≤ giới hạn ở 4.3.3

Không có hư hại nhìn thấy được

∆C/C ≤ 5% giá trị đo được ở 4.20.1

^* Nếu áp dụng

^a Số điều của các thử nghiệm và của các yêu cầu tính năng tham khảo quy định kỹ thuật từng phần, IEC 60384-4 và Điều 1 của quy định kỹ thuật này.

^b Mức kiểm tra được lựa chọn từ IEC 60410.

^c Trong bảng này,

p định kỳ (tính bằng tháng);

n là cỡ mẫu;

c tiêu chí chấp nhận (số lượng cho phép các hạng mục không phù hợp);

D phá hủy,

ND không phá hủy;

IL là mức kiểm tra (IEC 60410).