Tiêu chuẩn TCVN 8656-2:2011 Thuật ngữ về phương tiện đọc quang học trong phân định và thu nhận dữ liệu

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA

TCVN 8656-2:2011

ISO/IEC 19762-2:2008

CÔNG NGHỆ THÔNG TIN - KĨ THUẬT PHÂN ĐỊNH VÀ THU NHẬN DỮ LIỆU TỰ ĐỘNG (AIDC) - THUẬT NGỮ HÀI HÒA – PHẦN 2: PHƯƠNG TIỆN ĐỌC QUANG HỌC (ORM)

Information technology - Automatic identification and data capture (AIDC) techniques - Harmonized vocabulary - Part 2: Optically readable media (ORM)

Lời nói đầu

TCVN 8656-2:2011 hoàn toàn tương đương ISO/IEC 19762-2:2008.

TCVN 8656-2:2011 do Tiểu Ban kĩ thuật tiêu chuẩn quốc gia TCVN/JTC1/SC31 “Thu thập dữ liệu tự động” biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

Bộ tiêu chuẩn TCVN 8656 (ISO/IEC 19762) Công nghệ thông tin - Kĩ thuật phân định và thu nhận dữ liệu tự động (AIDC) - Thuật ngữ hài hòa, gồm các phần sau:

- TCVN 8656-1:2010 (ISO/IEC 19762-1:2008) Phần 1: Thuật ngữ chung liên quan đến AIDC;

- TCVN 8656-2:2011 (ISO/IEC 19762-2:2008) Phần 2: Phương tiện đọc quang học (ORM);

Bộ tiêu chuẩn ISO/IEC 19762 còn các phần sau:

- (ISO/IEC 19762-3) Phần 3: Phân định tần số sóng (RFID) (Part 3: Radio Frequency Identification (RFID));

- (ISO/IEC 19762-4) Phần 4: Thuật ngữ chung liên quan đến liên lạc sóng (Part 4: General terms relating to radio communication);

- (ISO/IEC 19762-5) Phần 5: Các hệ thống định vị (Part 5: Locating systems).

Lời giới thiệu

Bộ tiêu chuẩn TCVN 8656 (ISO/IEC 19762) nhằm tạo thuận lợi cho sự liên lạc quốc tế về công nghệ thông tin, đặc biệt trong phạm vi kĩ thuật phân định và thu nhận dữ liệu tự động (AIDC). Tiêu chuẩn này đưa ra một danh sách các thuật ngữ và định nghĩa được sử dụng trong nhiều kĩ thuật AIDC.

Các chữ viết tắt và bảng chú dẫn của tất cả các định nghĩa được sử dụng trong mỗi phần của bộ tiêu chuẩn TCVN 8656 (ISO/IEC 19762) được trình bày ở cuối mỗi phần có liên quan.

CÔNG NGHỆ THÔNG TIN - KĨ THUẬT PHÂN ĐỊNH VÀ THU NHẬN DỮ LIỆU TỰ ĐỘNG (AIDC) - THUẬT NGỮ HÀI HÒA – PHẦN 2: PHƯƠNG TIỆN ĐỌC QUANG HỌC (ORM)

Information technology - Automatic identification and data capture (AIDC) techniques - Harmonized vocabulary - Part 2: Optically readable media (ORM)

1. Phạm vi áp dụng

Tiêu chuẩn này quy định những thuật ngữ và định nghĩa dùng riêng cho các phương tiện đọc quang học trong lĩnh vực kĩ thuật phân định và thu nhận dữ liệu tự động. Tiêu chuẩn này tạo thuận lợi cho việc liên lạc giữa các người dùng không chuyên và các chuyên gia phương tiện đọc quang học thông qua việc hiểu biết chung các khái niệm cơ bản và tiên tiến.

2. Phân loại các mục

Hệ thống đánh số sử dụng trong TCVN 8656 (ISO/IEC 19762) có dạng nn.nn.nnn, trong đó hai chữ số đầu tiên (nn.nn.nnn) thể hiện “mức cao nhất” theo đó, nếu là 01 = thông dụng với toàn bộ kĩ thuật AIDC, 02 = thông dụng đối với tất cả phương tiện đọc quang học, 03 = mã vạch một chiều, 04 = mã vạch hai chiều, 05 = phân định bằng tần số radio, 06 = thuật ngữ chung liên quan đến radio, 07 = hệ thống định vị thời gian thực và 08 = MIIM. Hai chữ số thứ hai (nn.nn.nnn) thể hiện “mức trung gian” theo đó, nếu là 01 = dữ liệu/ khái niệm cơ bản, 02 = đặc trưng công nghệ, 03 = phương pháp kí hiệu, 04 = phần cứng, 05 = các ứng dụng. Hai hoặc ba chữ số thứ ba (nn.nn.nnn) thể hiện thứ tự của thuật ngữ.

Việc đánh số trong tiêu chuẩn này sử dụng các chữ số “mức cao nhất” của chuỗi (nn.nn.nnn) là 02, 03 và 04.

3. Thuật ngữ và định nghĩa

02.01.01

Phương tiện đọc quang học (optically readable medium)

ORM

Thành phần của một bộ các kĩ thuật phân định tự động như là mã vạch một chiều, hai chiều, cảm biến dấu hiệu, các kí hiệu nhận dạng kí tự bằng quang học được rọi sáng bằng một nguồn sáng và được kiểm tra bằng một máy tách quang học, máy tách quang học này chuyển đổi độ phản xạ nhận được thành tín hiệu điện, các tín hiệu này được được tập hợp lại theo một phương pháp đã định trước, được nhận dạng bởi một máy đọc và chuyển đổi thành mã máy tính tương ứng.

02.01.02

Phương pháp kí hiệu (symbology)

Công cụ tiêu chuẩn thể hiện dữ liệu dưới dạng (có thể) đọc bằng máy quang học.

CHÚ THÍCH: Mỗi quy định kĩ thuật của phương pháp kí hiệu sẽ thiết lập những quy tắc cụ thể của nó về tổ hợp hoặc cấu trúc của kí hiệu.

02.01.03

Kí hiệu mã vạch (bar code symbol)

Tổ hợp của các kí tự kí hiệu và các đặc điểm do một phương pháp kí hiệu cụ thể yêu cầu, nó cùng nhau tạo thành một thực thể hoàn chỉnh có thể quét được.

02.01.04

Cấu trúc của kí hiệu (symbol architecture)

Kết cấu của một kí hiệu mã vạch.

CHÚ THÍCH: Xem phương pháp kí hiệu.

02.01.05

Vạch (bar)

Phần tử tối tương ứng với vùng đồ thị đặc tính phản xạ quét nằm dưới ngưỡng chung.

02.01.06

Vùng trống (quiet zone)

Vùng không bị nhiễu bởi các dấu hiệu, bao xung quanh kí hiệu mã vạch và nằm trước kí tự bắt đầu và sau kí tự kết thúc.

02.01.07

Kí tự của kí hiệu (Symbol character)

Thể hiện vật lý của một từ mã như là một hình mẫu các phần tử tối và sáng.

CHÚ THÍCH: Có thể không có sự ánh xạ trực tiếp một-một giữa kí tự của kí hiệu với kí tự dữ liệu hoặc kí tự bổ trợ. Cần phải giải mã thông qua các quy tắc gắn kết để xác định dữ liệu.

02.01.08

Tập hợp kí tự được mã hóa (coded character set)

Một bộ các kí tự đơn lẻ được ánh xạ lên các giá trị byte của nó, tùy thuộc vào một phương pháp kí hiệu mã vạch một chiều hoặc hai chiều.

02.01.09

Kí tự mã vạch (bar code character)

Xem Kí tự của kí hiệu

02.01.10

Kích thước X (X dimension)

Chiều rộng quy định của các phần tử hẹp trong một kí hiệu mã vạch hoặc chiều rộng quy định của một phần tử đơn trong một kí hiệu hai chiều.

Xem Kích thước Z (Z dimension)

02.01.11

Kích thước Y (Y dimension)

Chiều cao quy định của các phần tử trong một kí hiệu mã vạch một chiều hoặc một dòng trong phương pháp kí hiệu đa dòng.

Xem Chiều cao vạch.

02.01.12

Kích thước Z (Z dimension)

Chiều rộng trung bình đạt được của các phần tử hẹp trong một kí hiệu mã vạch, nó bằng một nửa tổng của chiều rộng trung bình của vạch hẹp và chiều rộng trung bình của khoảng trống hẹp trong phương pháp kí hiệu hai chiều rộng, hoặc bằng thương của chiều rộng trung bình của cả kí tự chia cho số mô đun của mỗi kí tự trong phương pháp kí hiệu theo mô đun.

02.01.13

Mô đun (module (1))

(phương pháp kí hiệu mã vạch một chiều hoặc nhiều dòng) đơn vị đo danh nghĩa trong một kí tự của kí hiệu.

CHÚ THÍCH: Trong một số phương pháp kí hiệu, các chiều rộng phần tử có thể được quy định như là bội của một mô đun. Tương đương kích thước X.

02.01.14

Phần tử/ yếu tố (element)

(kí tự kí hiệu hoặc kí hiệu) vạch hoặc khoảng trống đơn trong một kí hiệu mã vạch hoặc một ô đơn đa giác hoặc tròn trong một kí hiệu ma trận, nó tuân theo các quy tắc của một phương pháp kí hiệu tạo thành một kí tự của kí hiệu.

CHÚ THÍCH: Chiều rộng của các phần tử riêng rẽ có thể thể hiện bằng môđun, hoặc bội của kích thước X.

02.01.15

Độ phân giải (resolution)

Chiều rộng của phần tử hẹp nhất có khả năng đọc được bởi thiết bị quét trong các điều kiện thử.

02.01.16

Chiều cao vạch (bar height)

Kích thước, được đo vuông góc với hướng quét, của một vạch riêng rẽ trong một kí hiệu mã vạch một chiều hoặc trong kí hiệu mã vạch đơn dòng hoặc nhiều dòng.

Xem Kích thước Y

02.01.17

Chiều rộng vạch (bar width)

Kích thước chiều ngang của một vạch riêng rẽ trong một kí hiệu mã vạch một chiều hoặc kí hiệu hai chiều được đo song song với hướng quét.

CHÚ THÍCH: Số các sai khác chiều rộng có thể trong một kí hiệu in cụ thể phụ thuộc vào phương pháp kí hiệu sử dụng.

02.01.18

Chiều rộng kí hiệu (Symbol width)

Chiều rộng tổng của một kí hiệu mã vạch bao gồm cả các vùng trống.

CHÚ THÍCH: Xem thêm chiều dài kí hiệu (Symbol length)

02.01.19

Tỷ số diện mạo kí hiệu (Symbol aspect ratio)

Tỷ số chiều cao kí hiệu với chiều rộng của kí hiệu đó.

02.01.20

Chuỗi vạch-khoảng trống (bar-space sequence)

Dãy thể hiện các chiều rộng của các phần tử tính theo mô đun trong một kí tự.

02.01.21

Tự kiểm tra (self-checking)

Thuộc tính của một phương pháp kí hiệu trong đó thuật toán kiểm tra được áp dụng cho mỗi kí tự trong mã đó.

CHÚ THÍCH: Do đó các lỗi thay thế chỉ có thể xảy ra nếu hai hoặc nhiều khuyết tật in riêng rẽ xảy ra trong một kí tự. Các mã, thông thường không tự kiểm tra, có một kí tự kiểm tra thêm vào dữ liệu được mã hóa. Các kí tự kiểm tra có thể được thêm vào các kí hiệu tự kiểm tra để tăng cường thêm tính nguyên vẹn của dữ liệu.

02.01.22

Mẫu định hướng (orientation pattern)

Việc sắp xếp không gian đơn nhất của các môđun tối và sáng trong một phương pháp kí hiệu được dùng để phát hiện hướng không gian của kí hiệu đó.

02.01.23

Kí tự shift (shift character)

Một kí tự của một phương pháp kí hiệu được dùng để chuyển từ một bộ mã tới một bộ mã khác cho một kí tự đơn, hoặc trong trường hợp các kí tự “shift kép” hoặc “shift ba”, cho hai hoặc ba kí tự tương ứng, việc mã hóa dữ liệu đi sau nó trở lại bộ mã lúc chưa dùng shift một cách tự động.

02.01.24

Kí tự latch (kí tự chốt) (latch character)

Kí tự của một phương pháp kí hiệu được dùng để chuyển từ một bộ mã tới một bộ mã khác.

CHÚ THÍCH: Bộ mã này giữ nguyên hiệu lực cho đến khi kí tự shift hoặc latch khác được dùng; hoặc đến tận cuối của kí hiệu.

02.02.01

Thuật toán giải mã (decode algorithm)

Bộ các quy tắc được dùng trong một phương pháp kí hiệu ma trận hoặc mã vạch để chuyển đổi hình mẫu phần tử của một kí hiệu thành các kí tự dữ liệu.

02.02.02

Chất lượng in (print quality)

Mức độ phù hợp của một kí hiệu quang học đã in với các yêu cầu đã được quy định cho nó, như là kích thước, độ phản xạ, độ nhám cạnh, các vết, các lỗ .v.v. chúng ảnh hưởng đến tính năng của máy quét.

02.02.03

Kiểm tra xác nhận (verification)

Sự kiểm định mà theo đó một kí hiệu được đo để xác định sự phù hợp của nó với quy định kĩ thuật cho kí hiệu đó.

02.02.04

Máy kiểm định (verifier)

Thiết bị được dùng để kiểm định một kí hiệu.

CHÚ THÍCH: Máy kiểm định được dùng để đo và phân tích các thuộc tính chất lượng của một kí hiệu như là chiều rộng phần tử kí hiệu và các kích thước vùng trống, độ phản xạ và các khía cạnh khác dựa vào một tiêu chuẩn mà các kí hiệu mã vạch một chiều hoặc kí hiệu hai chiều phải phù hợp.

02.02.05

Phông nền (background)

Khu vực sáng ở giữa và xung quanh các phần tử tối của một kí hiệu in.

CHÚ THÍCH: Phông có thể là nền trên đó kí hiệu được in hoặc là một lớp in đè của một màu sáng phù hợp.

02.02.06

Nền (substrate)

Vật liệu hoặc phương tiện mà trên đó đối tượng như là kí hiệu mã vạch, các kí tự OCR được in hoặc là một lớp phủ được đặt lên.

02.02.07

Độ phản xạ (reflectance)

Tỷ số của bức xạ phản xạ hoặc quang thông phản xạ với quang thông tới trong bức xạ tới của một phân bố kết cấu quang phổ, phân cực và hình học đã cho.

[IEC 50 (845) 845-04-58]

CHÚ THÍCH 1: Độ phản xạ (trong kĩ thuật AIDC đôi khi gọi là hệ số phản xạ) được đo theo một thang từ 0 đến 1, tại một bước sóng hoặc một chiều rộng dải sáng (đáp tuyến phổ) được quy định trong một quy định kĩ thuật ứng dụng cụ thể.

CHÚ THÍCH 2: Barisulfat hoặc manhe oxit được coi là chuẩn trắng phản xạ “gần như hoàn hảo” (chuẩn trắng tinh khiết hoàn hảo có độ phản xạ bằng 1,00 ở mọi bước sóng ánh sáng). Sự vắng mặt của mọi ánh sáng trong chân không được dùng làm chuẩn đen tham chiếu.

CHÚ THÍCH 3: Các mẫu thử (như nền, mực v.v...) được thử theo các chuẩn dưới một độ rọi tương tự.

02.02.08

Phản xạ hoàn toàn (regular reflection)

Sự phản xạ tuân theo các định luật quang hình học, không có khuếch tán.

[IEC 50 (845) 845-04-45]

CHÚ THÍCH: Còn gọi là phản xạ phản chiếu (specular reflection)

02.02.09

Phản xạ khuếch tán (diffuse reflection)

Sự khuếch tán do phản xạ trong đó, trên thang vĩ mô, không có phản xạ hoàn toàn.

[IEC 50 (845) 845-04-47]

02.02.10

Đáp tuyến phổ, độ nhạy phổ (spectral response)

Độ nhạy cảm của một máy quét hoặc là thiết bị khác đối với ánh sáng có bước sóng khác nhau. 02.02.11

Chênh lệch phản xạ (reflectance difference)

Sự khác biệt giữa độ phản xạ của các phần tử sáng và tối của một kí hiệu mã vạch.

02.02.12

Xuyên qua (show through)

Thuộc tính của một nền cho phép các dấu ghi hoặc các vật liệu nằm ở dưới tác động lên độ phản xạ của nền đó.

Xem Tính chắn sáng (opacity)

02.02.13

Bóng/ láng (gloss)

Xu hướng của một bề mặt phản xạ một phần ánh sáng tới theo cách phản chiếu.

02.02.14

Hệ số truyền(1), t (transmittance(1), t)

Tỷ số của bức xạ hoặc thông lượng truyền qua với thông lượng tới cho bức xạ tới của một phân bố kết cấu quang phổ, phân cực và hình học đã cho.

Đơn vị: 1

[IEC 50 (845) 845-04-59]

02.02.15

Hệ số truyền(2) (transmittance(2))

cường độ/mật độ (quang học), D_t

(optical) density, D_t

Lô-ga-rit cơ số 10 của nghịch đảo hệ số truyền.

D_t = - log₁₀t

[IEC 50 (845) 845-94-66]

CHÚ THÍCH: t là hệ số truyền

02.02.16

Tính chắn sáng (opacity)

Đặc tính của một chất cản trở ánh sáng xuyên qua nó.

CHÚ THÍCH: Tính chắn sáng của nền ảnh hưởng đến sự truyền qua từ phía sau của nền hoặc bất kỳ chất nào ở dưới nó. Tính chắn sáng của mực quyết định sự xuyên qua từ nền.

02.02.17

Profil phản xạ quét (scan reflectance profile)

Đồ thị về sự biến đổi độ phản xạ theo khoảng cách suốt dọc đường quét qua một kí hiệu thể hiện dạng sóng tương tự do thiết bị quét kí hiệu đó tạo ra.

02.02.18

Mật độ kế (densitometer)

Quang kế để đo cường độ sáng phản xạ hoặc truyền qua.

[IEC 50 (845) 845-05-27]

CHÚ THÍCH 1: Mật độ kế đo mức độ ánh sáng truyền qua hoặc phản xạ từ một vật liệu.

CHÚ THÍCH 2: Quang kế chia độ (đã được hiệu chuẩn) so sánh ánh sáng truyền qua hoặc phản xạ với ánh sáng tới, và kết quả có thể được thể hiện bằng độ phản xạ phần trăm hoặc mật độ truyền quang.

02.02.19

Quang kế (photometer)

Thiết bị để đo các đại lượng trắc quang.

[IEC 50 (845)845-05-15]

CHÚ THÍCH: Trong kĩ thuật AIDC, quang kế được dùng để đo cường độ sáng của ánh sáng tại các bước sóng quy định.

02.02.20

Độ tương phản của bản in (print contrast signal)

PCS

Số đo độ sai khác tương đối giữa độ phản xạ của các phần tử sáng và tối.

Xem Chênh lệch độ phản xạ/ hiệu số độ phản xạ

CHÚ THÍCH 1: PCS = (RL - RD)/RL, Trong đó RL và RD tương ứng là độ phản xạ của các phần tử sáng và tối.

02.02.21

Thử khả năng in (printability test)

Thử chất lượng in.

02.02.22

Khuyết tật (defect)

Không có hoặc thiếu một đặc trưng chủ yếu trong việc thỏa mãn các yêu cầu áp dụng, điều đó có thể ảnh hưởng đến khả năng của một đơn vị chức năng thực hiện một chức năng cần thiết.

CHÚ THÍCH: Vùng hình ảnh không mong muốn thường chỉ các vết hoặc chỗ trống.

02.02.23

Chỗ trống (void)

Vùng có độ phản xạ cao trong một vùng kí hiệu mã vạch mà lẽ ra phải có độ phản xạ thấp.

Xem Vết

02.02.24

Đốm (speck)

Xem Vết (spot)

02.02.25

Vết (spot)

Dấu mực hoặc bẩn hoặc vùng có độ phản xạ thấp khác trong một vùng của kí hiệu mà lẽ ra phải có độ phản xạ cao.

Xem Chỗ trống

02.02.26

Thuật toán giải mã tham chiếu (reference decode algorithm)

Thuật toán giải mã nêu ra trong quy định kĩ thuật của một phương pháp kí hiệu làm căn cứ cho các giá trị khả năng giải mã của ngưỡng tham chiếu.

02.02.27

Ngirông tham chiếu (reference threshold)

Điểm ranh giới được thuật toán giải mã tham chiếu sử dụng để đưa ra quyết định liên quan đến phép đo một phần tử hoặc tổ hợp các phần tử.

02.02.28

Độ giải mã (decodability)

Số đo các mối quan hệ từ tổ hợp các vạch và khoảng trống cùng nhau hoặc riêng rẽ tùy theo thuật toán giải mã tham chiếu.

CHÚ THÍCH: Giá trị này cho một số đo về kí hiệu mã vạch có thể được giải mã tốt hay không.

02.04.01

Sự quét(1) (scan(1))

Một lần đi qua của một chùm tia quét trên một kí hiệu hoặc là một phần của kí hiệu.

02.04.02

Quét(1) (scan(1))

Kiểm tra dữ liệu một cách hệ thống.

02.04.03

Sự quét(2) (scan(2))

Thu nhập ảnh đơn bằng một thiết bị thu nhập ảnh.

02.04.04

Máy quét (scanner)

Thiết bị quang học chuyển thông tin quang học (ví dụ một kí hiệu mã vạch hay một kí hiệu hai chiều) thành những tín hiệu điện để giải mã tiếp theo và truyền tới một máy vi tính.

02.04.05

Máy đọc mã vạch (bar code reader)

Thiết bị để thu nhận dữ liệu đã được mã hóa trong một kí hiệu mã vạch, nó gồm hai phần:

a) máy quét, là một thiết bị đầu vào gửi các tín hiệu tương ứng với độ phản xạ của mỗi phần tử của kí hiệu tới bộ giải mã;

b) bộ giải mã, sẽ kiểm tra các tín hiệu từ máy quét và chuyển chúng thành dữ liệu có thể nhận dạng hoặc dữ liệu tương thích với máy vi tính.

CHÚ THÍCH: Bản thân bộ giải mã đôi khi cũng được gọi một cách sai lầm là máy đọc.

02.04.06

Tỷ số đọc (read rate)

Thể hiện phần trăm của số lần đọc được trong 100 lần đọc một kí hiệu cụ thể.

02.04.07

Máy quét tiếp xúc (contact scanner)

Một loại máy quét cụ thể trong đó hành động quét xảy ra khi máy quét tiếp xúc hoặc gần tiếp xúc với kí hiệu

VÍ DỤ: Đũa quét, bút sáng.

02.04.08

Đũa quét (wand)

Vật thể hình bút chứa một cái mũi nhọn dạng thanh đồ họa nhưng thông thường nhất là nói về một cơ cấu quét được dùng với nhiều máy đọc mã vạch.

02.04.09

Khẩu độ ống kính (aperture)

Khe hở hiệu dụng trong một hệ quang học, tạo ra trường nhìn.

02.04.10

Khẩu độ ống kính hiệu dụng (effective aperture)

Trường nhìn biểu kiến của một máy quét hoặc một thiết bị tương tự được xác định bằng cái nhỏ hơn của cỡ vết và khẩu độ ống kính vật lý của máy quét để tiếp nhận ánh sáng phản xạ.

02.04.11

Máy quét (chùm tia) đơn dòng (single line (beam) scanner)

Máy quét trong đó chùm tia sáng đi ngang qua một đường đi đơn, cho một trường nhìn một chiều.

02.04.12

Máy đọc khe (slot reader)

Máy đọc mã vạch đòi hỏi vật liệu mã vạch phải được kéo qua một khe trong đó có gắn một máy đọc mã vạch gần tiếp xúc.

CHÚ THÍCH: Thiết bị này yêu cầu kí hiệu mã vạch ở một vị trí cố định so với cạnh của một nền mỏng.

02.04.13

Thiết bị ghép điện tích (charge-coupled device)

CCD

Bộ phận điện tử nhạy sáng được dùng trong một hệ hai chiều hoặc một chiều như là một phần tử thu nhận ánh sáng trong một số loại máy đọc mã vạch.

02.04.14

La-ze ne-ông hê-li (helium neon laser)

Một loại la-ze dùng phổ biến trong các máy quét mã vạch, nó phát ánh sáng đỏ đồng bộ trong vùng nhìn thấy (khả kiến) với bước sóng 632,8 nm.

02.04.15

Máy quét chùm tia chuyển động (moving beam scanner)

Thiết bị quét trong đó chùm tia quét lướt nhanh nhờ các công cụ cơ khí hoặc điện tử.

02.04.16

Máy quét chùm tia cố định (fixed beam scanner)

Thiết bị quét trong đó chùm tia sáng được phát ra theo một hướng cố định, dựa trên sự dịch chuyển tương đối của kí hiệu mã vạch đối với chùm tia để thực hiện hành động quét.

02.04.17

Máy quét mành (raster scanner)

Máy quét chùm tia chuyển động phát ra một số chùm tia quét song song.

02.04.18

Mành (raster)

Sự chiếu của mội chùm tia la-ze để tạo ra nhiều vệt quét gần như song song thay cho một vệt đơn.

Xem máy đọc mã vạch

02.04.19

Máy quét gương dao động (oscillating mirror scanner)

Máy quét chùm tia đơn có gương phụ dao động trong một mặt phẳng tại các góc vuông đối với chùm tia của máy quét và gây ra, ví dụ, một trường nhìn nằm ngang được lướt lên và xuống một cách thẳng đứng.

02.04.20

Máy quét đẳng hướng (omnidirectional scanner)

Máy quét có khả năng đọc các kí hiệu bất kể hướng của chúng trong một mặt phẳng song song hoặc gần như song song đối với cửa sổ ra của máy quét.

CHÚ THÍCH: Máy quét tấm phẳng là một ví dụ về máy quét đẳng hướng.

02.04.21

Máy quét tấm phẳng (flat-bed scanner)

Máy quét đẳng hướng trong đó (các) chùm tia quét hướng lên phía trên qua một cửa sổ hoặc (các) khe và kí hiệu mã vạch đi qua trên nó.

02.04.22

Góc đọc (reading angle)

Một trong ba góc đặc trưng sự quay góc của kí hiệu trên một trục liên quan đến đường quét.

CHÚ THÍCH: Các góc đọc được gọi là góc nghiêng, góc lệch và góc bước.

02.04.23

(Sự định) hướng (orientation)

Việc sắp đặt phương tiện có thể đọc máy đối với máy đọc thể hiện trong các thuật ngữ góc ba chiều, với phạm vi biến thiên thể hiện trong các thuật ngữ: lệch, bước và cuộn (nghiêng).

02.04.24

Nghiêng (tilt)

Góc đọc, đặc trưng cho sự quay của kí hiệu mã vạch xung quanh một trục vuông góc với nền.

Xem Bước, lệch

Hình 1 - Nghiêng, lệch và bước

02.04.25

Lệch (skew)

Góc đọc đặc trưng cho sự quay của một kí hiệu mã vạch quanh một trục song song với chiều rộng mã vạch.

Xem Bước, nghiêng.

02.04.26

Bước (pitch)

Góc đọc đặc trưng cho sự quay của một kí hiệu mã vạch quanh một trục song song với chiều cao của vạch.

Xem Lệch, nghiêng

02.04.27

Khoảng cách/ khoảng quang học (optical throw)

Khoảng cách từ bề mặt thiết bị quét đến điểm bắt đầu của chiều sâu trường, đối với một kí hiệu có các đặc trưng đã cho.

Xem Chiều sâu của trường, phạm vi và khoảng cách đọc

02.04.28

Cửa sổ quét (scanning window)

Toàn bộ khu vực phía trước cửa sổ ra của một máy quét không tiếp xúc trong đó các kí hiệu có thể đọc được.

CHÚ THlCH: Còn gọi là vùng đọc hiệu quả.

02.04.29

Khoảng cách đọc (reading distance)

Khoảng cách (hoặc một dãy các khoảng cách) kể từ cửa sổ ra của một máy quét, tại đó máy quét này có thể đọc kí hiệu một cách tin cậy.

CHÚ THÍCH: Khoảng cách đọc tối thiểu bằng khoảng cách quang học và khoảng cách đọc tối đa bằng phạm vi của máy đọc.

Xem Chiều sâu trường, khoảng cách quang học, phạm vi

02.04.30

Chiều sâu của trường (1) (depth of field(1))

Dãy giữa khoảng cách tối thiểu và khoảng cách tối đa tính từ cảm biến tại đó hình ảnh đã tụ tiêu là sắc nét một cách chấp nhận được.

02.04.31

Chiều sâu của trường (2) (depth of field(2))

Dãy khoảng cách qua đó một máy quét có thể đọc một kí hiệu có các đặc trưng cho trước một cách tin cậy, nó bằng phạm vi của máy đọc trừ đi khoảng cách quang học của nó.

Xem khoảng cách quang học, phạm vi, khoảng cách đọc

02.04.32

Trường nhìn (field of view (FoV))

Chiều dài của mã vạch có thể đọc trong một lần quét.

CHÚ THÍCH: Đối với máy quét đũa và các máy quét khác ở đó chùm tia của máy quét di chuyển bằng tay ngang qua kí hiệu, trường nhìn thể hiện khả năng của người thao tác quét một cách mềm dẻo.

02.04.33

Phân biệt tự động (auto discrimination)

Khả năng của một máy đọc mã vạch phân biệt một cách tự động giữa hai hoặc nhiều phương pháp kí hiệu.

02.04.34

Máy in nhãn (label printing machine)

Thiết bị để sản xuất nhãn mã vạch trực tiếp từ dữ liệu.

02.04.35

Máy khắc laze (laze engraver)

Thiết bị dùng nhiệt tập trung từ chùm tia laze để khắc hình đồ họa trực tiếp trên vật phẩm cần được ghi dấu.

02.04.36

In đè (overprinting)

In trên một vật liệu đã được in từ trước.

02.04.37

Điểm ảnh (pixel)

Phần tử nhỏ nhất của một bề mặt hiển thị mà có thể ấn định một cách độc lập các thuộc tính như là màu và cường độ (intensity)

CHÚ THÍCH: Đồng nghĩa với phần tử ảnh.

03.01.01

Kí hiệu mã vạch một chiều (linear bar code symbol)

Thể hiện đồ họa của dữ liệu dưới dạng tổ hợp các kí tự kí hiệu và các đặc trưng mà một phương pháp kí hiệu cụ thể yêu cầu, chúng cùng nhau tạo ra một thực thể đơn dòng hoàn chỉnh có thể quét được.

CHÚ THÍCH: Các đặc trưng bao gồm các vùng trống, các kí tự bắt đầu vá các kí tự kết thúc, các kí tự dữ liệu, các kí tự kiểm tra và các hình mẫu phụ khác.

03.01.02

Kí tự/ mẫu kết thúc (stop character/pattern)

Kí tự phụ chỉ điểm kết thúc (phía tay phải) của một kí hiệu mã vạch.

03.01.03

Phần đầu (overhead)

Một phần của kí hiệu mã vạch (bao gồm các kí tự phụ, các kí tự kiểm tra kí hiệu) cần phải thêm vào các kí tự của kí hiệu mã hóa dữ liệu để cho kí hiệu này một cấu trúc có giá trị.

03.01.04

Kí tự/ mẫu phụ trợ (auxiliary character/pattern)

Kí tự không dữ liệu.

VÍ DỤ Kí tự bắt đầu, kí tự kết thúc, hình mẫu trung tâm, hình mẫu phân cách, kí tự latch chỉ mode, các kí tự thay đổi bộ mã con của kí tự shift, và các kí tự chức năng.

CHÚ THÍCH: Chấp nhận từ ISO/IEC 2382-4.

03.01.05

Dư (redundancy)

Tính chất mà nhờ đó thông tin được lặp lại để tăng thêm tính chắc chắn của việc đọc hoặc truyền thông nó có kết quả.

CHÚ THÍCH Trong một kí hiệu mã vạch, chiều cao của vạch cung cấp độ dư theo chiều đứng bằng cách cho phép nhiều đường quét đi qua kí hiệu này, về lý thuyết chỉ cần một trong chúng là đủ để giải mã.

03.01.06

Dư theo chiều đứng (vertical redundancy)

Thuộc tính của một kí hiệu mã vạch trong đó có khả năng có nhiều đường quét do kí hiệu có chiều cao cao hơn đáng kể so với chiều cao của một đường quét đơn.

03.01.07

Tỷ số rộng:hẹp (wide:narrow ratio)

Tỷ số của các chiều rộng của các phần tử rộng hơn trong một kí hiệu so với chiều rộng của các phần tử hẹp.

03.01.08

Khe hở giữa các kí tự (Intercharacter gap)

Khoảng cách giữa vạch cuối cùng của một kí tự kí hiệu và vạch đầu tiên của kí tự tiếp theo trong phương pháp kí hiệu mã vạch rời rạc

03.01.09

Phương pháp kí hiệu hai chiều rộng (Two-width symbology)

Phương pháp kí hiệu mã vạch trong đó các kí tự kí hiệu chỉ chứa các phần tử hẹp và rộng, tỷ số các độ rộng của chúng là hằng số.

Xem Phương pháp kí hiệu theo môđun

03.01.10

Phương pháp kí hiệu nhị phân (Binary symbology)

Xem Phương pháp kí hiệu hai chiều rộng (two-width symbology)

03.01.11

Phương pháp kí hiệu theo môđun (điều biến) (modular symbology)

Phương pháp kí hiệu mã vạch trong đó các kí tự kí hiệu là tổ hợp của các phần tử, mà các chiều rộng danh định của chúng là bội số nguyên của kích thước X hoặc chiều rộng môđun.

Xem Phương pháp kí hiệu (n,k), mô đun.

03.01.12

Mã liên tục (continuous code)

Phương pháp kí hiệu trong đó không có khe hở giữa các kí tự, tức là phần tử cuối cùng của một kí tự kí hiệu tiếp giáp với phần tử đầu tiên của kí tự kí hiệu tiếp theo và tất cả các phần tử đều mang dữ liệu.

Xem Mã rời rạc

03.01.13

Mã rời rạc (discrete code)

Phương pháp kí hiệu trong đó khoảng cách giữa các kí tự của kí hiệu (khe hở giữa các kí tự) không chứa thông tin bởi vì mỗi kí tự bắt đầu và kết thúc bằng một vạch.

Xem Mã liên tục

03.01.14

Đẳng hướng (omnidirectional)

Theo tất cả các hướng

CHÚ THÍCH: Thường nói về các kí hiệu có thể được quét theo bất kì hướng nào với một máy quét thích hợp hoặc về những máy quét như vậy.

03.02.01

Lỗi thay thế (substitution error)

Kí tự bị giải mã sai khi đọc một kí hiệu mã vạch.

Xem Đọc sót

03.02.02

Kí tự kiểm tra kí hiệu (Symbol check character)

Kí tự của kí hiệu được tính toán từ các kí tự của kí hiệu khác trong một kí hiệu mã vạch theo một thuật toán quy định trong quy định kĩ thuật của phương pháp kí hiệu đó và được dùng để kiểm tra xem mã vạch có được tổ hợp và đọc đúng không.

CHÚ THÍCH: Kí tự kiểm tra kí hiệu không phải là một phần của dữ liệu đã được mã hóa trong kí hiệu này.

03.02.03

Mô-đun-lô (modulo)

Một loại thuật toán được dùng để tính kí tự kiểm tra trong các kí hiệu mã vạch nhất định, kết quả của nó là số dư của phép chia hai số nguyên.

CHÚ THÍCH: Thường được dùng dưới dạng mô-đun-lô 10, mô-đun-lô 103,...

03.02.04

Mẫu cảnh báo (guard pattern)

Mẫu phụ của các vạch và khoảng trống tương đương với các mẫu bắt đầu và mẫu kết thúc trong các phương pháp kí hiệu khác, hoặc dùng để tách hai nửa của một kí hiệu.

03.02.05

Hướng bậc thang (ladder orientation)

Vị trí của kí hiệu mã vạch trong đó trục của các vạch là nằm ngang để tạo khả năng chùm tia quét thẳng đứng đi ngang qua toàn bộ kí hiệu này.

Xem Hướng hàng rào

03.02.06

Hướng hàng rào (picket fence orientation)

Vị trí của kí hiệu mã vạch trong đó trục của các vạch là thẳng đứng để tạo khả năng chùm tia quét nằm ngang đi ngang qua toàn bộ kí hiệu này.

Xem Hướng bậc thang

03.02.07

Trạng thái lẻ (odd parity)

Đặc tính của việc mã hóa một kí tự kí hiệu theo đó kí tự này chứa một số lẻ các môđun tối.

03.02.08

Trạng thái chẵn (even parity)

Đặc tính của việc mã hóa một kí tự kí hiệu theo đó kí tự này chứa một số chẵn các môđun tối.

03.02.09

Mã hóa trạng thái khác nhau (variable parity encodation)

Quá trình mã hóa thông tin phụ trong một loạt các kí tự kí hiệu bằng các tổ hợp cụ thể các kí tự trạng thái chẵn và trạng thái lẻ để mã hóa một cách ngầm định các chữ số hoặc là để cho mục đích kiểm tra.

03.02.10

Trạng thái cố định (fixed parity)

Đặc trưng của một kí hiệu mã vạch hoặc một phần xác định của một kí hiệu theo đó mọi kí tự kí hiệu có cùng một trạng thái như nhau, hoặc chẵn hoặc lẻ.

03.02.11

Vạch đỡ (bearer bar)

Vạch tiếp giáp với đỉnh và đáy của các vạch trong một kí hiệu mã vạch, hoặc là một cái khung quanh toàn bộ một kí hiệu, nhằm để cân bằng áp lực do mặt phẳng in tạo ra trên toàn bộ bề mặt của kí hiệu và/ hoặc để phòng ngừa máy đọc mã vạch quét thiếu.

03.02.12

Đọc thiếu (short read)

Đọc một kí hiệu có giá trị biểu kiến ngắn hơn trong một kí hiệu dài hơn của cùng một phương pháp kí hiệu hoặc các phương pháp kí hiệu khác nhau.

03.02.13

Cắt (truncation)

Cung cấp một kí hiệu với chiều rộng bình thường nhưng chiều cao đã giảm đi.

03.02.14

Mật độ mã vạch (bar code density)

Số kí tự có thể được thể hiện trong một kí hiệu mã vạch trên một đơn vị đo.

CHÚ THÍCH 1: Thông thường thể hiện bằng kí tự trên inch hoặc trên centimet đối với mã vạch một chiều hoặc trên inch vuông hoặc centimet vuông đối với các phương pháp kí hiệu nhiều hàng.

CHÚ THÍCH 2: Chiều rộng của vạch hoặc khoảng trống hẹp nhất, tỷ số rộng:hẹp, số vạch và khoảng trống cho một kí tự và chiều rộng của khe hở giữa các kí tự, nếu có, là các nhân tố kiểm tra.

Xem Kí tự của kí hiệu

03.02.15

Kí tự trên inch (character per inch)

CPI

Số đo của mật độ mã vạch

03.02.16

Mật độ kí hiệu (Symbol density)

Xem Mật độ mã vạch (bar code density)

03.02.17

Nén số không (zero suppression)

Quá trình gỡ bỏ các số không tại các vị trí quy định trong một GTIN-12 để mã hóa chúng dưới dạng UPC-E.

03.02.18

Bản gốc phim (film master)

Bản gốc mã vạch trên phim

03.02.19

Bản gốc mã vạch (bar code master)

Phim gốc hoặc hình ảnh khác của một kí hiệu mã vạch một chiều hoặc kí hiệu hai chiều được sản xuất sát với dung sai và dự định để sao chép lại nhờ các quá trình in thông thường.

03.02.20

Dấu góc (corner marks)

Dấu chỉ rõ bốn góc của một kí hiệu mã vạch bao gồm cả các lề sáng trên một bản gốc mã vạch.

CHÚ THÍCH: Các dấu góc thường không được in.

03.02.21

Điều chỉnh chiều rộng vạch (bar width adjustment)

BWA

Tổng số độ giảm trong giảm chiều rộng vạch hoặc độ tăng trong tăng chiều rộng vạch mà các vạch của một bản gốc mã vạch được điều chỉnh để bù cho sự tăng hoặc giảm chiều rộng vạch, một cách tương ứng, trong các quá trình in hoặc sao chép lại.

03.02.22

Bù chiều rộng vạch (bar width compensation)

BWC

Mức độ mà theo đó chiều rộng của một vạch trong một bản gốc mã vạch hoặc trong một file mã vạch số được giảm đi hoặc tăng lên để sửa do việc thêm/mất hình ảnh hoặc in có thể xảy ra.

03.02.23

Sự nở/ co vạch (bar width gain/loss)

Để đảm bảo chất lượng, xem điều chỉnh chiều rộng vạch.

03.02.24

Tăng chiều rộng vạch (bar width increase)

Để đảm bảo chất lượng, xem điều chỉnh chiều rộng vạch.

03.02.25

Giảm chiều rộng vạch (bar width reduction)

Để đảm bảo chất lượng, xem điều chỉnh chiều rộng vạch.

03.02.26

Dưỡng để in (printability gauge)

Một dãy các dấu được ghi vạch đặc biệt, được in trên một nền để đánh giá hoặc theo dõi chất lượng

03.02.27

Hệ số phóng đại (magnification factor)

Hệ số nhân không đổi được áp dụng cho các kích thước danh định của một kí hiệu mã vạch để đạt được các kích thước thực mà nó phải được tạo ra.

03.02.28

Hình ảnh tích hợp (integrated artwork)

Hình ảnh trong đó kí hiệu mã vạch và các đồ họa khác được tạo ra cùng với nhau nhờ các phương tiện điện tử.

03.02.29

Kí hiệu phụ (Add-on Symbol)

Kí hiệu được dùng để mã hóa các thông tin phụ vào các thông tin trong kí hiệu chính.

03.02.30

Dấu phân cách (delineator)

Hình mẫu bổ trợ để tách các kí tự trong một kí hiệu phụ.

04.02.01

Kí hiệu hai chiều (1) (two-dimensional symbol (1))

Mã thể hiện dữ liệu dưới dạng có thể đọc máy nhờ một tập hợp các ô nhỏ tròn hoặc đa giác trong một hình mẫu đều đặn, kí hiệu này được đọc một cách quang học nhờ quét.

04.02.02

Kí hiệu hai chiều (2) (two-dimensional symbol (2))

2D Symbol

Kí hiệu có thể đọc được bằng quang học, nó phải được kiểm tra cả hai chiều ngang và thẳng đứng để đọc thông điệp toàn vẹn này.

CHÚ THÍCH: Kí hiệu hai chiều có thể là một trong hai loại: kí hiệu ma trận và kí hiệu nhiều hàng. Kí hiệu hai chiều có thể phát hiện lỗi và có thể bao gồm cả các đặc tính sửa lỗi.

04.02.03

Mẫu cố định (fixed pattern)

Các phần (đoạn) không dữ liệu, đơn nhất của một phương pháp kí hiệu hai chiều bao gồm các hình mẫu tìm kiếm, định thời gian, dẫn đường và các thành phần tĩnh (định) khác.

04.02.04

Phương pháp kí hiệu ma trận (matrix symbology)

Một tập hợp các phần tử tròn hoặc đa giác trong một kí hiệu thường để thể hiện dữ liệu dành cho việc phục hồi nhờ một hệ thống quét hiển thị.

04.02.05

Mã điểm (dot code)

Bộ con của phương pháp kí hiệu ma trận trong đó các môđun riêng rẽ được bao bọc bởi khoảng trống không có nội dung thông tin.

04.02.06

Môđun (2) (module (2))

Kí hiệu của phương pháp kí hiệu ma trận

(Phương pháp kí hiệu ma trận) phần tử hoặc ô đơn được dùng để mã hóa một bit từ mã.

04.02.07

Mẫu chuẩn trực (mẫu canh lề) (alignment pattern)

Hình mẫu tham chiếu cố định tại các vị trí xác định trong một phương pháp kí hiệu ma trận tạo điều kiện để phần mềm giải mã tái đồng bộ ánh xạ tọa độ của các mô đun ảnh trong trường hợp hình ảnh bị méo đáng kể.

04.02.08

Mẫu tìm kiếm (finder pattern)

Hình mẫu đơn nhất trong một phương pháp kí hiệu được dùng để định vị các kí hiệu phù hợp với các quy tắc của phương pháp kí hiệu này trong một trường nhìn.

04.02.09

Phương pháp kí hiệu nhiều dòng (multi-row symbology)

Phương pháp kí hiệu mã vạch trong đó kí hiệu chứa hai hoặc nhiều dòng kí tự kí hiệu xếp thẳng đứng sát liền nhau.

04.02.10.

Dòng (row)

Một bộ các thành phần bên nhau trong một phưong pháp kí hiệu nhiều dòng, bao gồm hình mẫu bắt đầu, một số kí tự kí hiệu, và hình mẫu kết thúc.

04.02.11

Cột (column)

Vị trí kí hiệu nằm ngang trong một của phương pháp kí hiệu nhiều dòng.

04.02.12

Phương pháp kí hiệu xếp chồng (stacked symbology)

Xem Phương pháp kí hiệu nhiều dòng.

04.02.13

Phương pháp kí hiệu (n,k) ((n,k) symbology)

Một loại phương pháp kí hiệu mã vạch trong đó mỗi kí tự kí hiệu có chiều rộng n mô đun và được tổ hợp của k cặp vạch và khoảng trống.

04.02.14

Kí hiệu tổ hợp (composite symbol)

Sự kết hợp của kí hiệu một chiều và kí hiệu hai chiều trong đó kí hiệu một chiều có thể được đọc riêng hoặc trong đó kí hiệu một chiều và kí hiệu hai chiều được đọc như là một thông điệp dữ liệu đơn.

04.02.15

Phương thức nén (compaction mode)

Tên của một trong ba thuật toán nén dữ liệu trong PDF417 (văn bản, số và byte), nó ánh xạ một cách có hiệu quả các byte dữ liệu 8-bit vào trong các từ mã PDF417.

04.02.16

Nối thêm có cấu trúc (structured append)

Kết nối với nhau trong một chuỗi dữ liệu xác định trước chứa trong hai hoặc nhiều kí hiệu, tạo điều kiện cho dữ liệu này được chuyển giao như là một thông điệp đơn.

04.02.17

Vùng dữ liệu (data region)

Một phần của một kí hiệu thường là các từ mã dữ liệu trái ngược với phần đầu kí hiệu khác.

04.02.18

Từ mã dữ liệu (data codeword)

Từ mã mã hóa dữ liệu theo một trong các sơ đồ nén của một phương pháp kí hiệu.

04.02.19

Từ mã sửa lỗi (error correction codeword)

Từ mã trong một kí hiệu, nó mã hóa một giá trị nhận được từ thuật toán từ mã sửa lỗi, tạo điều kiện để các sai lỗi giải mã cần được phát hiện và phụ thuộc vào mức sửa lỗi cần được sửa.

04.02.20

Mức sửa lỗi (error correction level)

Mức độ của khả năng sửa lỗi trong một phương pháp kí hiệu, trong đó nó không phải là cố định mà tùy theo một số lựa chọn của người dùng.

04.02.21

Xóa (erasure)

Một loại lỗi thể hiện bằng một kí tự bị mất, hoặc một kí tự kí hiệu không có khả năng giải mã, trái ngược với lỗi thay thế hoặc giải mã sót.

04.02.22

Kí tự đệm (pad character)

Xem kí tự chèn trong TCVN 8656-1 (ISO/IEC 19762-1)

04.02.23

Từ mã đệm (pad codevvord)

Từ mã được thêm vào để mở rộng chuỗi từ mã để đạt được một cấu trúc kí hiệu mong muốn hoặc để điền đầy dung lượng của một kí hiệu.

04.02.24

Ghi dấu (nhãn) trực tiếp trên chi tiết (direct part marking)

DPM

Thuật ngữ chung để chỉ các phương pháp ghi dấu vĩnh viễn trực tiếp trên bề mặt của một vật phẩm.

04.02.25

Ghi dấu (nhãn) xâm nhập (intrusive marking)

Ghi dấu (nhãn) trừ (substrusive marking)

Phương pháp ghi dấu trực tiếp được thiết kế để biến đổi một bề mặt thành dạng dấu có thể đọc bằng máy hoặc người.

04.02.26

Ghi dấu không xâm nhập (non-intrusive marking)

Ghi dấu thêm (additive marking)

Phương pháp ghi dấu trực tiếp được thiết kế để thêm vật liệu vào một bề mặt để tạo thành dạng dấu có thể đọc bằng máy hoặc người.

04.02.27

Ghi dấu vĩnh cửu (permanent marking)

Các phương pháp ghi dấu xâm nhập hoặc không xâm nhập được thiết kế để giữ nguyên tính rõ ràng trong ít nhất là thời gian làm việc bình thường của một vật phẩm.

Xem Ghép trong TCVN 8656-1 (ISO/IEC 19762-1).

4. Chữ viết tắt

THƯ MỤC TÀI LIỆU THAM KHẢO

[1] TCVN 8656-1 (ISO/IEC 19762-1), Công nghệ thông tin - Kĩ thuật phân định và thu nhận dữ liệu tự động (AIDC) - Thuật ngữ hài hòa - Phần 1: Các thuật ngữ chung liên quan đến AIDC.

[2] ISO/IEC 2382-4, Công nghệ thông tin - Thuật ngữ - Phần 4: Tổ chức dữ liệu.

[3] ISO 2382-12, Các hệ thống xử lý thông tin - Thuật ngữ -- Phần 12 - Thiết bị ngoại vi.

[4] ISO/IEC 19762-3, Công nghệ thông tin - Kĩ thuật phân định và thu nhận dữ liệu tự động (AIDC) - Thuật ngữ hài hòa - Phần 3: Phân định tần số sóng (RFID)

[5] ISO/IEC 19762-4, Công nghệ thông tin - Kĩ thuật phân định và thu nhận dữ liệu tự động (AIDC) - Thuật ngữ hài hòa - Phần 4: Thuật ngữ chung liên quan đến liên lạc sóng.

[6] ISO/IEC 19762-5, Công nghệ thông tin - Kĩ thuật phân định và thu nhận dữ liệu tự động (AIDC) - Thuật ngữ hài hòa - Phần 5: Các hệ thống định vị.

[7] IEC 60050-845, Thuật ngữ kĩ thuật điện quốc tế - Chương 845: Chiếu sáng.

Bảng chú dẫn

MỤC LỤC

Lời nói đầu

Lời giới thiệu

1. Phạm vi áp dụng

2. Phân loại các mục

3. Thuật ngữ và định nghĩa

4. Chữ viết tắt

Thư mục tài liệu tham khảo

Bảng chú dẫn