Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 13874:2023 Công nghệ nano - Phép đo phân bố cỡ và hình dạng hạt

Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 13874:2023 quy định phép đo phân bố cỡ và hình dạng hạt nano

Ngày 18/10/2023, Bộ Khoa học và Công nghệ đã công bố tiêu chuẩn quốc gia TCVN 13874:2023 tương đương với ISO 21363:2020 về phụ phẩm công nghệ nano - Phép đo phân bố cỡ và hình dạng hạt bằng phương pháp hiển vi điện tử truyền qua. Tiêu chuẩn này có hiệu lực ngay lập tức từ ngày ban hành.

Tiêu chuẩn này được áp dụng cho việc đo và phân tích hình ảnh của các hạt nano, tức là các vật thể có kích thước từ 1 nm đến 100 nm, và cả những hạt lớn hơn 100 nm. Nó cho phép sử dụng nhiều quy trình và thiết bị khác nhau để đo lường đặc tính hình thái của các hạt nano rời rạc, kết tụ và kết tập.

Phương pháp đo và quy trình

Tiêu chuẩn TCVN 13874:2023 hướng dẫn cách chuẩn bị mẫu, đo lường và phân tích dữ liệu bằng cách sử dụng công nghệ hiển vi điện tử truyền qua (TEM). Phương pháp này cho phép người dùng thu thập hình ảnh 2D của hình chiếu hạt trong các điều kiện khác nhau để xác định phân bố cỡ và hình dạng của hạt.

Mẫu và ứng dụng

Trong văn bản, đã cung cấp bảy nghiên cứu điển hình để minh họa cách thức thực hiện các quy trình đo cho những hình thái hạt khác nhau. Các mẫu thử nghiệm cũng được nêu rõ, bao gồm nano vàng dạng cầu, silica keo, và các hình dạng như nano vàng thanh và nano vàng ống.

Chỉ số mô tả hình dạng và cỡ

Các chỉ số mô tả phân bố cỡ và hình dạng hạt bao gồm các ký hiệu về kích thước như đường kính Feret, diện tích chiếu của hạt, và tỷ lệ giữa các chiều dài khác nhau. Điều quan trọng là xác định các giá trị trung bình, độ chênh lệch, và độ không đảm bảo để đánh giá chất lượng của dữ liệu đo.

Yêu cầu độ chính xác và chất lượng

Tiêu chuẩn này nhấn mạnh sự cần thiết của việc làm rõ độ chính xác và chất lượng của quá trình đo lường thông qua các thông số như sai số chuẩn và hệ số biến thiên. Những yếu tố này giúp người dùng điều chỉnh và tối ưu hóa phương pháp để đạt được kết quả mong muốn.

Tóm lại, tiêu chuẩn TCVN 13874:2023 thiết lập một khung chuẩn hóa cho việc đo lường cỡ và hình dạng của các hạt nano, góp phần nâng cao sự chính xác và nhất quán trong lĩnh vực công nghệ nano.