Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 13872:2023 Công nghệ nano - Phép đo phân bố cỡ và hình dạng hạt bằng phương pháp hiển vi điện tử quét

TCVN 13872:2023 ISO 19749:2021: Tiêu chuẩn đo phân bố cỡ và hình dạng hạt nano qua SEM

TCVN 13872:2023 được công bố ngày 18 tháng 10 năm 2023, và có hiệu lực từ ngày 18 tháng 10 năm 2023. Tiêu chuẩn này hoàn toàn tương đương với ISO 19749:2021 và được biên soạn bởi Ban kỹ thuật tiêu chuẩn quốc gia TCVN/TC 229 Công nghệ nano. Văn bản này cung cấp hướng dẫn về việc đo lường và báo cáo sự phân bố cỡ và hình dạng của các hạt ở quy mô nano (kích thước từ 1 nm đến 100 nm) bằng phương pháp hiển vi điện tử quét (SEM).

Tiêu chuẩn này áp dụng cho các phép đo không chỉ đối với hạt quy mô nano mà còn đối với các hạt lớn hơn. TCVN 13872:2023 yêu cầu việc chuẩn bị mẫu một cách phù hợp để có thể thu được hình ảnh SEM chất lượng cao. Số lượng hạt cần đo thường là vài trăm hoặc hàng nghìn, phụ thuộc vào mẫu và độ không đảm bảo yêu cầu của SEM.

Tiêu chuẩn cũng nhấn mạnh rằng hạt nano là các vật thể ba chiều, nhưng hình ảnh SEM chỉ thể hiện hình ảnh hai chiều từ một góc nhìn nhất định, nên thông tin 3D sẽ không được tái tạo hoàn chỉnh. Các thông tin giá trị từ hình ảnh SEM bao gồm kích thước, hình dạng, và cấu trúc bề mặt của các hạt, từ đó góp phần quan trọng cho việc nghiên cứu và phát triển công nghệ nano.

Ngoài ra, tài liệu viện dẫn trong tiêu chuẩn rất đa dạng, bao gồm nhiều tiêu chuẩn quốc tế và quy định của Việt Nam như TCVN 6165 (ISO/IEC Guide 99) và TCVN ISO/IEC 17025. Tiêu chuẩn cũng chuẩn hóa cách báo cáo kết quả đo, với những quy trình rõ ràng cho việc phân tích dữ liệu và đánh giá độ không đảm bảo của phép đo.

Một điểm quan trọng là việc áp dụng tự động hóa trong thu thập hình ảnh và phân tích dữ liệu giúp giảm chi phí và nâng cao chất lượng kết quả. Hệ thống tự động hóa này có thể hỗ trợ trong việc đo các hạt nano, nhất là với những mẫu vật khó khăn trong việc phân tích hình ảnh.

Cuối cùng, tiêu chuẩn này cũng đưa ra những yếu tố cần xem xét trong quy trình đo như độ chính xác, độ không đảm bảo, và yêu cầu về điều kiện lặp lại để đảm bảo tính đáng tin cậy của các phép đo. Các khái niệm như đường kính Feret, độ chặt, và các phương pháp phân tích hình ảnh được định nghĩa rõ ràng, giúp người sử dụng dễ hiểu và áp dụng trong thực tiễn.